sas編程技術(shù)sas處理流程與指針控制(編輯修改稿)
2024-09-24 17:31 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 () 也就是 ， ut 遵循以 0為均值 ， (?0+?1u2t1 )為方差的正態(tài)分布 。 tu ? ?)(,0 2 110 ?? tuN ?? 由于 ()中 ut 的方差依賴于前期的平方擾動項，我們稱它為 ARCH(1)過程： 通常用極大似然估計得到參數(shù) ?0, ?1, ?2, ?? , ?k, ?0, ?1的有效估計 。 容易加以推廣 ， ARCH (p)過程可以寫為： () 這時方差方程中的 (p+1)個參數(shù) ?0, ?1, ?2, ?? , ?p也要和回歸模型中的參數(shù) ?0, ?1, ?2, ?? , ?k一樣，利用極大似然估計法進(jìn)行估計。 2 1102)v a r( ???? ttt uu ???22 222 1102)v ar ( ptptttt uuuu ??? ?????? ????? ?? 如果擾動項方差中沒有自相關(guān) ， 就會有 H0 ： 這時 從而得到擾動項方差的同方差性情形 。 恩格爾曾表明 ， 容易通過以下的回歸去檢驗上述虛擬假設(shè)： 其中， t 表示從原始回歸模型（ ）估計得到的 OLS殘差。 22 222 1102 ???????? ptpttt uuuu ??? ????? ???? ??021 ???? p??? ?02)v a r( ?? ??tu 在 ARCH(p) 過程中 ， 由于 ut 是隨機(jī)的 ， ut2 不可能為負(fù) ， 所以對于 {ut} 的所有實現(xiàn)值 ， 只有是正的 ， 才是合理的 。 為使 ut2 協(xié)方差平穩(wěn) ， 所以進(jìn)一步要求相應(yīng)的特征方程 （ ） 的根全部位于單位圓外。如果 ?i（ i = 1, 2, … , p） 都非負(fù)，式（ ）等價于 ?1 + ?2 + … + ?p ? 1。 01 221 ????? pp zzz ??? ? ARCH的檢驗 下面介紹檢驗一個模型的殘差是否含有 ARCH效應(yīng)的兩種方法： ARCH LM檢驗和殘差平方相關(guān)圖檢驗 。 1. ARCH LM檢驗 Engle在 1982年提出檢驗殘差序列中是否存在 ARCH效應(yīng)的拉格朗日乘數(shù)檢驗（ Lagrange multiplier test），即 ARCH LM檢驗。自回歸條件異方差性的這個特殊的設(shè)定，是由于人們發(fā)現(xiàn)在許多金融時間序列中，殘差的大小與最近的殘差值有關(guān)。 ARCH本身不能使標(biāo)準(zhǔn)的 OLS估計無效，但是，忽略 ARCH影響可能導(dǎo)致有效性降低。 ARCH LM檢驗統(tǒng)計量由一個輔助檢驗回歸計算。為檢驗 原假設(shè)：殘差中直到 q階都沒有 ARCH， 運行如下回歸： 式中 t 是殘差 。 這是一個對常數(shù)和直到 q 階的滯后平方殘差所作的回歸 。 這個檢驗回歸有兩個統(tǒng)計量： （ 1） F 統(tǒng)計量是對所有殘差平方的滯后的聯(lián)合顯著性所作的一個省略變量檢驗； （ 2） T?R2 統(tǒng)計量是 Engle’s LM檢驗統(tǒng)計量 ， 它是觀測值個數(shù) T 乘以回歸檢驗的 R2 ； tqtqtt uuu ???? ????? ?? 22 1102 ??? ? 普通回歸方程的 ARCH檢驗都是在殘差檢驗下拉列表中進(jìn)行的，需要注意的是，只有使用最小二乘法、二階段最小二乘法和非線性最小二乘法估計的方程才有此項檢驗。 BreuschPaganGodfrey Harvey Glejser ARCH White Custom Test Wizard… 圖 普通方程的 ARCH檢驗列表 2. 殘差平方相關(guān)圖 顯示直到所定義的滯后階數(shù)的殘差平方 t2的自相關(guān)性和偏自相關(guān)性 ， 計算出相應(yīng)滯后階數(shù)的 LjungBox統(tǒng)計量 。殘差平方相關(guān)圖可以用來檢查殘差自回歸條件異方差性（ ARCH） 。 如果殘差中不存在 ARCH， 在各階滯后自相關(guān)和偏自相關(guān)應(yīng)為 0， 且 Q統(tǒng)計量應(yīng)不顯著 。 可適用于使用 LS，TSLS， 非線性 LS估計方程 。 在圖 Residuals Tests/ Correlogram Squared Residuals項 ， 它是對方程進(jìn)行殘差平方相關(guān)圖的檢驗 。 單擊該命令 ， 會彈出一個輸入計算自相關(guān)和偏自相關(guān)系數(shù)的滯后階數(shù)設(shè)定的對話框 ， 默認(rèn)的設(shè)定為 36，單擊 OK按鈕 ， 得到檢驗結(jié)果 。 例 滬市股票價格指數(shù)波動的 ARCH檢驗 為了檢驗股票價格指數(shù)的波動是否具有條件異方差性 ， 本例選擇了滬市股票的收盤價格指數(shù)的日數(shù)據(jù)作為樣本序列 ， 這是因為上海股票市場不僅開市早 ，市值高 ， 對于各種沖擊的反應(yīng)較為敏感 ， 因此 ， 本例所分析的滬市股
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1