【正文】 5. 8 0. 7 5. 8 0. 6 53 . 7 5. 7 5. 1 56 1 28. 7 5. 7 0. 8 5. 7 0. 8 03 . 8 0. 7 6. 1 510 12. 7 5. 7 0. 6 0. 7 0. 6 03 . 3 5. 6 7. 1 514. 6 5. 6 5. 8 5. 6 5. 7 03 . 5 0. 7 0. 2 0. 6 0. 6 0. 6 5. 6 0. 6 53 . 1 0. 6 2. 0 56 1 58. 5 0. 5 5. 6 5. 8 0. 8 03 . 3 0. 6 6. 3 010. 6 0. 8 0. 6 5. 6 5. 7 53 . 4 5. 6 9. 2 0 . 1 512. 8 0. 6 5. 7 5. 6 5. 6 53 . 5 0. 7 014. 6 5. 6 0. 6 5. 6 0. 7 03 . 2 0. 6 4. 1 06 1 68. 6 5. 7 0. 7 0. 6 0. 6 53 . 3 0. 6 6A 5 步驟. 1 012345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個讀數(shù)的空間。若過程異常， ?值增大，分布曲線整體上移，則點子超出 UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。如 100條 PCB金手指厚度，標(biāo)準(zhǔn) 50?。 ? 過程控制中常用 精度 這個概念來反映質(zhì)量的波動（變異）程度。 ? 計量特性值：如 PCB金手指厚度、重量或時間等連續(xù)性數(shù)據(jù)，最常見的是正態(tài)分布 (normal distribution)。 ，得到圖 C。 c. 子組數(shù)的大小 一般 100個單值讀數(shù)， 25個子組 12345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。該工作在確定了刻度以后應(yīng)盡快完成。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： XXX機器編號： XXX部門： XXX日期： XXX工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5/2h零件號： XXX零件名稱： XXX* 樣本容量小于7 時，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖A 2 步驟： 最早的4 個分組6 8. 6 5. 7 0. 6 5. 6 5. 8 53 . 5 0. 7 0. 2 0. 7 5 . 7 5. 8 5. 7 5. 8 5. 6 53 . 8 5. 7 7. 2 0. 8 0. 8 0. 7 0. 7 53 . 8 0. 6 0. 7 0. 7 0. 7 5. 6 53 . 4 0. 7 6 . 6 8. 1 0 . 1 5A 3 步驟： 對于第一個子組 和= . 6 5 + . 7 0 + . 6 5 + . 6 5 + . 8 5 = 3 . 5 0 均值X = 3 . 5 0 / 5 = . 7 0 極差R = . 8 5 . 6 5 = . 2 0A4選擇控制圖的刻度 兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X和 R的測量值。 常規(guī)休哈特控制圖 數(shù)據(jù)特征 分布 控制圖 簡記 備注 計量值 正態(tài)分布 均值 — 極差控制圖 XR 可取消 均值 — 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 XS 中位值 — 極差控制圖 XR 可取消 單值 — 移動極差控制圖 XRs 計件值 二項分布 不合格品率控制圖 p 不合格品數(shù)控制圖 np 計點值 泊松分布 單位不合格數(shù)控制圖 u 不合格數(shù)控制圖 c 控制圖選用程序 計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 ? 準(zhǔn)備工作 ? 建立一個好的行動環(huán)境 ? 定義過程 ? 確定要管理的特性 ? 應(yīng)考慮 – 顧客的需求 – 當(dāng)前及潛在的問題領(lǐng)域 – 特性之間的關(guān)系 ? 定義測量系統(tǒng)，使之具有可操作性 ? 使不必要的變差最小 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的種類 ? 不合格品率 p控制圖 ? 不合格品數(shù) np控制圖 ? 不合格數(shù) c控制圖 ? 單位不合格數(shù) u控制圖 不合格率的 p圖 數(shù)據(jù)收集 1. 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 ? 子組容量 (n=50~200) ? 分組頻率 ? 子組的數(shù)量 (25) 2. 計算每個子組的不合格率（