【正文】 探頭探傷應選用 （ ） A、小K值探頭 B、大K值探頭C、較保護膜探頭 D、高頻探頭 在鍛件直探頭探傷時可能定不準近側面缺陷的位置，其原因是：（ ）A、側面反射波帶來干涉 B、探頭太大，無法移至邊緣C、頻率太高 D、以上都不是 在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（ ）A、提高探頭聲束指向性 B、校準儀器掃描線性C、提高探頭前沿長度和K值測定精度 D、以上都對 當量大的缺陷實際尺寸：（ ）A、一定大 B不一定大 C、一定不大 D等于當量尺寸 當量小的缺陷實際尺寸：（ ）A、一定小 B、不—寶小 C、一定不小 D、等于當量尺寸 在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（ ）D、大 B、小 C不影響 D、不一定 當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（ ） A、大 B、小 C、無影響 D、不一定4 .38 焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因為頻率越高（ ）A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強，缺陷方向不利就不易探出B、裂紋表面不光潔對回波強度影響越大C、雜波太多D、AB都對 厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時間為l65μs若縱波在鋁中聲速為6300m/S則此回波是（ ）A、底面回波 B、底面二次回波 C、缺陷回波 D、遲到回波 直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產生：（ ）A、底面回波降低或消失 B、底面回波正常 C、底面回波變寬 D、底面回波變窄 直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質衰減均為0 01dB／mm（雙程），今將前者底面回波調至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應是滿幅度的：（ ）A、40% B、20% C、10% D、5% 厚度均為400mm，但材質衰減不同的兩個鍛件，采用各自底面校正400／Φ2靈敏度進行分別探測，現兩個鍛件中均發(fā)現缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（ ）A、兩個缺陷當量相同 B、材質衰減大的鍛件中缺陷當量小C、材質衰減小的鍛件中缺陷當量小 D、以上都不對 在脈沖反射法探傷中可根據什么判斷缺陷的存在？（ ）A、缺陷回波 B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱 D、AB都對，底波消失的原因是：（ ）A、耦合不良 B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存住與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D、以上都是 在直探頭探傷時，發(fā)現缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（ ）A、與表面成較大角度的平面缺陷 B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對 D、AB都不對 影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（ ）A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗B、探頭接除面介質聲阻抗C、工件被探測面材料聲阻抗D、以上都對 被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（ ）A、草狀回波增多 B、信噪比下降 C、底波次數減少 D、以上全部 為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（ ）A、使用高聲阻抗耦合劑 B、使用軟保護膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸 D、以上都可以 在平整光潔表面上作直探頭探傷時宜使用硬保護膜探頭，因為這樣：（ ）A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄，探測靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好D、以上都對 應用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（ ）A、作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體 下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關：（ ）A、平底孔B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口 測定材質衰減時所得結果除材料本身衰減外，還包括：（ ）A、聲束擴散損失 B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響 D、以上都是 沿細長工件軸向探傷時，遲到波聲程△x的計算公式是：（ ） 換能器尺寸不變而頻率提高時：( ) A、橫向分辨力降低 B、聲束擴散角增大C、近場區(qū)增大 D、指向性變鈍 在確定缺陷當量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因為：（ ）A、只有當聲束投射到整個缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當聲束垂直投射到工件內缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準 考慮靈敏度補償的理由是（ ）A、被檢工件厚度太大 B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗 D、工件與試塊材質，表面光潔度有差異 探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應選用：（ ）A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D、以上都不是 超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（ ）A、波長的一半 B、一個波長C、四分之一波長 D、若干個波長 與探測面垂直的內部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（ ）A、單斜探頭法 B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法 D、分割式雙直探頭法，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面同波最高。Cs=2300m/s),則第Ⅱ臨界角為（ ） 用4MHz鋼質保護膜直探頭經甘油耦合后，對鋼試件進行探測，若要得到最佳透聲效果，其耦臺層厚度為（甘油CL=1920m／s）（ ）A、 B、 C、 D、 用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫檢測，此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范圍為：（ ） A、14 7。A、大于2 B、小于2C、仍等于2 D、還需其它參數才能確定 如果超聲縱波由水以20 。 當焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時，探測頻率較高時，缺陷回波不易被探頭接收。 鋼管作手工接觸法周向探傷時，應從順、逆時針兩個方向各探傷一次。 串列式雙探頭法探傷即為穿透法． 厚焊縫采用串列法掃查時，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。 溫度對斜探頭折射角有影響，當溫度升高對，折射角將變大。 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。 A型顯示探傷儀。 200mm處Φ4長橫孔的回波聲壓比100mm處由2長橫孔的回波聲壓低。 超聲波的波長越長，聲束擴散角就越犬，發(fā)現小缺陷的能力也就越強。 如果有機玻璃／鋁界面的第一臨界角大于有機玻璃／鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。 界面上入射聲束的折射角等于反射角。 頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長。 傳聲介質的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。 具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠。 當鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。 超聲平面波不存在材質衰減。 探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。 調節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變。 測定儀器的“動態(tài)范圈”時，應將儀器的“抑制”、“深度補償”旋鈕置于“關”的位置。 垂直探傷時探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴重。 當鋼板中缺陷大于聲束截面時，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現“疊加效應”。 鍛件探傷時，如缺陷被探傷人員判定為白點．則應按密集缺陷評定鍛件等級。B、阻尼使振動物體的振幅逐漸減小。時的折射角 第二臨界角是：（ ）A、折射縱波等于90。 C、176?？v波反射角為61176。反射時，其聲程是恒定的 長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現的非缺陷回波是（ ）A、三角反射波 B、61176。 Φ14mm，：（ ）A、27mm B、21mm C、38mm D、以上都不對 上題探頭的非擴散區(qū)長度約為：（ ）A、35mm B、63mm C、45mm D、以上都不對 在非擴散區(qū)內大平底距聲源距離增大l倍，其回波減弱（ ）A、6db B、12db C、3db D、0db 利用球面波聲壓公式（P= PoπD2／4λ）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應用條件是：（ ）A、S≥2N近似正確 B、S≥3N基本正確C、S≥6N正確 D、以上都對 在超聲探頭遠場區(qū)中：（ ）A、聲束邊緣聲壓較大 B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強度一樣 D、聲壓與聲束寬度成正比 活塞波聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為（ ）A、近場長度 B、未擴散區(qū) C、主聲束 D、超聲場 下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（ ）A、 B、3P14Z C、4P20Z D、5P14Z（ ）A、用第一零輻射角表示 B、為指向角的一半C、與指向角相同 D、是主聲束輻射錐角之半 超聲場的來擴散區(qū)長度（ ）A、約等于近場長度 B、C、 D、約等于近場長度3倍 遠場范圍的超聲波可視為（ ）A、平面波 B、柱面波 C、球面波 D、以上都不對 在探測條件相同的情況下面積比為2的兩個平底孔，其反射波高相差（ ）A、6dB B、12dB C、9dB D、3dB 在探測條件相同的情況下，孔徑比為4兩個球形人工缺陷，其反射波高相差（ ）A、6dB B、l2dB C、24dB D、8dB 在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個實心圓柱體，其曲底面同波相差（ ）A、12dB B、9dB C、6dB D、3dB ； 外徑為D，內徑為d的實心圓柱體，以相同的靈敏度在內壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（ ） 同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1倍回波減弱（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 在球面波聲場中B平底距聲源距離增大I倍回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db 對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db 比Φ3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（ ）A、Φ1mm B、Φ2mm C、Φ4mm D、 比Φ3mm長橫孔反射小7db的同聲程長橫孔直徑是（ ）A、 B、Φ1mm C、Φ2mm D、 以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點（ ）A、靈敏度高 B、橫向分辨率高 C、縱向分辨高 D、探測粗晶材料時信噪比高 以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點（ ）A、聲束細，每次掃查探測區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點D、以上都是 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ ）A、缺陷的性質和大小 B、缺陷的形狀和取向C、缺陷同波的大小和超聲傳播的時問 D、以上都是 A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（ ）A、近場區(qū) B、聲束擴散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復時間 D、以上均是 A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、缺陷的位置C、被探材料的厚度 D、超聲傳播時間 A型掃描顯示中，水平基線代表：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、探頭移動距離C、聲波傳播時間 D、缺陷尺寸大小 脈沖反射式超聲波探傷儀中，產生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（ ）A、發(fā)射電路 B、掃描電路 C、同步電路 D、顯示電路 脈沖反射超聲波探傷儀中，產生時基線的電路單元叫做（ ）A、掃描電路 B、觸發(fā)電路 C、同步電路 D、發(fā)射電路 發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_（ ）A、幾百伏到上千伏 B、幾十伏 C、幾伏 D、1伏 發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：（