【正文】 判定製程有不正常原因侵入。 World Class Quality Unimicron 31 前次投影片 B. 搜集 數(shù)據(jù) 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 100個以上 ，對這些數(shù)據(jù)之來源應(yīng)充分瞭解，並希望以後之製造工程，其情況需與蒐集數(shù)據(jù)時相同。 中有 四點 落在 B區(qū)或是 B區(qū)之外。 。這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成， 例如：同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動所引起的變化等 ，當(dāng)這些變異之量極小時，製程仍可被接受。2σ 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 μ 177。 World Class Quality Unimicron 1 前次投影片 第 ○ 單元：基本統(tǒng)計概念 第一單元：統(tǒng)計製程管制 (SPC)之基本概念 第二單元：管制圖的介紹及其應(yīng)用 第三單元：常用管制圖之繪製 09/2021, Rev D 統(tǒng)計製程管制 (Statistical Process Control) 主講 : APLUS電子 SPC 輔導(dǎo)團(tuán) World Class Quality Unimicron 2 前次投影片 本課程的目的 使學(xué)員 : ? 能運(yùn)用 SPC 於日常工作之中以進(jìn)行製程管控 ,達(dá)到 有異常立即反應(yīng) 並做適當(dāng)處理的目的 . ? 能了解並說出統(tǒng)計製程管制之 – , , , SPC計算與 World Class Quality Unimicron 3 前次投影片 第○單元： 基本統(tǒng)計概念 ?甚麼是 統(tǒng)計學(xué) (Statistics)？ ? 統(tǒng)計學(xué) ：統(tǒng)計學(xué)為蒐集、整理、展示、分析、解釋資料， 並由樣本推論群體 ，是在不確定情況下作成決策的科學(xué)方法。 σ 範(fàn)圍內(nèi) (μ : 平均值 ,σ : 標(biāo)準(zhǔn)差 ) % 的數(shù)據(jù)在 μ 177。 ● 我們?yōu)楹我獙W(xué)統(tǒng)計製程管制？ 第一單元：統(tǒng)計製程管制 (SPC)之基本概念 World Class Quality Unimicron 13 前次投影片 在任何的生產(chǎn)程序中，不管如何設(shè)計或維護(hù)，產(chǎn)品的一些固有的或自然之變異將永遠(yuǎn)存在。圖一為管制圖之範(fàn)例 中心線管制上限管制下限5 10 15 20 25 型之管制圖=中心線 +3σ =中心線 3σ ● 管制圖之基本原理 World Class Quality Unimicron 19 前次投影片 管制圖的功用有三： 。 中有 二點 落在 A區(qū)。 ● 建立 R 管制圖之步驟 先建立 解析用管制圖 ， 待確定管制界限後 ， 再建立 管制用管制圖 ， 其步驟如下： X第三單元：常用管制圖之繪製 一 、 平均值 全距管制圖 ( 管制圖 ) RX A. 選定管制項目 在製程中選擇對產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之 要因 或 重要品質(zhì)特性 作為管制項目。 N. 安定狀態(tài)之判定 點入圖內(nèi)之點子，如在管制界限內(nèi)，或無特殊圖案出現(xiàn)時，則判定製程安定，可繼續(xù)生產(chǎn)下去。挑選初步之 m組樣本，計算每組樣本之不良率， m可取 20～ 25組。 J. 查 係數(shù)表 。 有 十六點 落在管制中心的同一側(cè) 。 (2).大部份的點（ 約 70%）集中在中心線 ，但不能所有的點 都靠近中心線 （ hugging the center line） 。 第二單元：管制圖的介紹及其應(yīng)用 World Class Quality Unimicron 18 前次投影片 管制圖為一種圖形表示工具，用以顯示從樣本中量測或計算所得之品質(zhì)特性。 ( 註 : 最常用的集中趨勢指標(biāo)： 平均數(shù) (mean)、 中位數(shù) (median)、 眾數(shù) (mode)。 例： 量測 計數(shù) ?例：決定下列各問題之資料屬於離散型或連續(xù)型數(shù)據(jù)。 例： 欣興電子 全體員工 平均身高 、 體重 。 , 2. 離中趨勢 ? 最常用的集中趨勢指標(biāo)： 平均數(shù) (mean)、 中位數(shù) (median)、 眾數(shù) (mode)。這些變異稱為 可歸屬原因 (assignable cause)或 非隨機(jī)原因 或 特殊原因 (special cause)，製程若在 可歸屬變異 下操作則稱其為 製程失控 (out of control)。管制圖同時可展示 時間順序 的資料。 ▼ 區(qū)間測試 (Zone Test)法則 區(qū)間法則 (又稱為 Western Electric rules)可適用於管制圖中心線之 兩側(cè) 。 分組法與層別有關(guān) ， 普通按時間順序或測定順序分組 ， 使組內(nèi)不含不同性質(zhì)數(shù)據(jù) ， 並使 n=2~5之間 ，k=15~20 之間最為適當(dāng) 。 b. X管制圖上有點超出管制界限時 ， 則表示製程平均發(fā)生變化或 變異增大 。他從生產(chǎn)線上 收集到 15組 (每組樣本數(shù)目大小為 3,即 n=3),線寬量測數(shù)據(jù)如下， 請利用此筆量測數(shù)據(jù)繪製解析用之平均值與全距管制圖並判讀製程 是否失控。 G. 計算各組數(shù)據(jù)之 全距 :Ｒ 。請對此管制圖進(jìn)行判讀，也就是說，判斷出這個管制圖是否有出現(xiàn)製程失控？ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點中有 2點在 區(qū)域 A或以上 看有無任何點在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無接近的兩點在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無接近的四點在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 看有無連續(xù) 7點往同一方向走 規(guī)則 看有無連續(xù) 8點出現(xiàn)在中心線同側(cè) 規(guī)則 World Class Quality Unimicron 27 前次投影片 ▼ 連串測試 (Run Test)法則 連串測試係應(yīng)用於 管制圖中心線的 同一側(cè) 。 常用之計量值管制圖有： ● 管制圖之種類