【正文】 置 7天的偏高嶺土和反應(yīng)產(chǎn)物的 X射線衍射花樣。 試 驗(yàn)： 原材料 3 分析級偏高嶺土， NaOH溶液，工業(yè)水玻璃，蒸餾水。它是低水分含量系統(tǒng)中的膠體反應(yīng)。在制備過程中在模具中對反應(yīng)產(chǎn)物施以 4MPa 壓力并放在 65℃恒溫箱中處理 10小時(shí)后對材料的抗折強(qiáng)度、抗壓強(qiáng)度和表觀密度進(jìn)行系統(tǒng)測量。地質(zhì)聚合物可用來固化有毒金屬 [4,5]。然而目前尚未看見關(guān)于催化劑對地 質(zhì)聚合物材料的力學(xué)和化學(xué)性能的影響的報(bào)導(dǎo)。 儀器 試樣的 7天、 14天、 21天、 28天和 35天的彎曲強(qiáng)度和抗壓強(qiáng)度由目前通用的測量儀 DY35（法國制造），分別以 3N/s， 30N/s的速度（參考：滑動(dòng)速率分別為 /分鐘 , /分鐘 ）加壓測得，試樣的密度由試樣的質(zhì)量和體積求得。在 IR測試中用到的地質(zhì)聚合物試樣是由水玻璃溶液和 8mol/L的氫氧化鈉溶液合成的。試樣在空氣中放置 20天后抗折強(qiáng)度略有增加（見圖 B）。這是因?yàn)槠邘X土顆粒溶解度的增大，導(dǎo)致在高氫氧化鈉溶液下單體濃度加速增大。 圖 3：偏高嶺土基地質(zhì)聚合物的掃描電子顯微鏡圖像 6 力學(xué)性能 圖 4所示 為合成的地質(zhì)聚合物的抗彎曲強(qiáng)度、抗壓強(qiáng)度和表觀密度數(shù)據(jù)。關(guān)于現(xiàn)階段的固液反應(yīng)研究工作，考慮到地質(zhì)聚合物聚合過程中液體激發(fā)劑對地質(zhì)低聚物的激發(fā)是主要固體 液體反應(yīng)。然后將混合物倒入長方體或圓柱體的模具中，在 4MPa的壓力和室溫下擠壓大約 3分鐘，并分別制成 6mm 7mm 30mm和 φ13mm26mm 的樣品。固態(tài)鋁硅酸鹽的性能將直接影響溶解過程和隨 后的反應(yīng)，而液體激發(fā)劑將部分或完全溶解固體原材料和決定鋁硅酸鹽結(jié)構(gòu)的破壞與重組，及聚合度。但是這種推測需要更深層次的研究論證。掃描電子顯微鏡的結(jié)果表明制備的地質(zhì)聚合 物維持了偏高嶺土微粒的層狀結(jié)構(gòu)，所以認(rèn)為地質(zhì)聚合物反應(yīng)主要發(fā)生在偏高嶺土顆粒的微晶表面上。 由反應(yīng)進(jìn)程可見，鋁硅酸鹽和催化劑兩大因素直接影響最終產(chǎn)物。 將按照上述比例制成的催化劑加入偏高嶺土粉末中，并攪拌 5分鐘。 與沸石的合成過程相似 [10]，地質(zhì)聚合物的聚合包括固體反應(yīng)物的溶解，然后溶解物傳遞到膠體表面繼而成核繼生成新的成凝膠，凝膠再聚合老化的過程。圖 3中的 SEM圖像也為地質(zhì)聚合反應(yīng)主要發(fā)生在固體顆粒微晶表面上這一假設(shè)提供了更有力的證據(jù) [7]。地質(zhì)聚合物的抗折強(qiáng)度、抗壓強(qiáng)度和表觀密度隨著氫氧化鈉溶液濃度在 4– 12mol/L范圍內(nèi)提高而增加。這可能由于大氣中的水分對緩慢而長期的聚合反應(yīng)的影響造成的。地質(zhì)聚合物在波長大約 3420cm1還有 1680cm1時(shí)的 IR光譜上的寬頻地質(zhì)聚合物在 IR圖譜 上，3420cm1及 1680cm1附近的花樣表明模具中地質(zhì)聚合物試樣里存在大氣吸附水 [6]。 用 X射線衍射儀 D/maxRB和 JSM5600LV掃描電子顯微鏡對試樣的彎曲強(qiáng)度測量后，再用 XRD和 SEM對試樣橫截面處進(jìn)行單獨(dú)分析。 本文中偏高嶺土被用來作為合成地質(zhì)聚合物的原材料，同時(shí)對液體催化劑對力學(xué)強(qiáng)度和化學(xué)性能的影響也進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。由于其獨(dú)特的籠狀結(jié)構(gòu)，地質(zhì)聚合物甚至被認(rèn)為可以用來凝固放射性元素。 1 中文 4166字 出處： Colloids and Surfaces A: Physicochem. Eng. Aspects 268 (2021) 1–6 偏高嶺土地質(zhì)聚合物的制備和力學(xué)性能研究 Hongling Wang a,b,?, Haihong Lia, Fengy