【正文】 2因 孤島型。由于某種因素使下限受到限制時多出現(xiàn)此型，如清潔度近于零，缺陷數(shù)近于零，孔加工尺寸偏小等。Range)兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。Average） 一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 分布寬度（Spread） 一個分布中從 最小值到最大值之間的間距中位數(shù) u8431均值的正負擔(dān)過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 .8422各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平3833數(shù)據(jù)的收據(jù) p/記錄表上記錄樣本的容量。8133 bnp 或幾種： 過程平均（ P）為水平實線，控制限（ UCL； LCL）為虛線。=(B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍(1–一般不良品率為縱坐標，子組別（小時 /天）作為橫坐標 ,縱坐標的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍。X單值圖（ X）圖的刻度按下列最大者選?。篶操作者將每個單值的點標在中位數(shù)圖上。7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程8 殊原因的分析，采取適當(dāng)?shù)拇胧?。注：對于樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。?將其記為 ?X將每個子組的中位數(shù) ?X和極差 R填入數(shù)據(jù)表 .2a/過程控制的分析（同 XR） LSLSLSLXR新 D4n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 b式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， σ?表示），用 現(xiàn)有的 子組容 控制限計算錯或描點描錯 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限）事件）或是一種趨勢的一部分。一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多：分析均值圖上的數(shù)據(jù)點3413332明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。RR分布的寬度變?。ㄗ兒茫y量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）3 過程控制分析4 13 51的測量值。 12品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一3kg等）控制圖的選擇方法確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎？否 關(guān)心的是不合格品率？否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？是樣本容量是否恒定？是使用 np或 p圖否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖是是使用 c或 u圖是性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？否 子組均值是否能很方便地計算？否 使用中位數(shù)圖是使用單值圖XMR是接上頁 子組容量是否大于或等于 9？是否是否能方便地計算每個子組的 S值？使用X—R 圖是否 使用X—R 圖使用X—chart=%σx%公差界限與控制界限的區(qū)別? 公差界限：σ范圍的 x值，則認為過程存在異常。減少普通原因變差達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？本過程應(yīng)做什么？ 范圍 預(yù)測每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同Xn/2過程控制的目的就是消除、避免異常波動，使過程處于正常波動狀態(tài)。程生產(chǎn)中不合格品控制輸 顧客的呼聲我們工作的方式 /資源的融合統(tǒng)計方法顧客識別不斷變化的需求量和期望變差 /波動? 過程的單個輸出之間不可避免的差別?變差的兩個原因：–普通原因–特殊原因?變差的兩個趨勢–集中趨勢–離散趨勢過程控制的需要? 檢測 容忍浪費：抽樣或 100%檢驗的不足? 預(yù)防 避免浪費：– 質(zhì)量是生產(chǎn)出來的，不是檢驗出來的在生產(chǎn)過程中，產(chǎn)品的加工尺寸的波動是不可避免的。一組重要的統(tǒng)計概念? 平均值、中位數(shù)? 極差、標準差? 計量型數(shù)值與計數(shù)型數(shù)值計數(shù)型數(shù)值和計量型數(shù)值平均值（ Xbar或 X）河水平均深度 [n為偶數(shù) ]2極差（ R)，組距作用 :標準偏差與極差的關(guān)系（對于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標準偏差 范圍 范圍 分布寬度 采取措施。計劃 LSL LSLUSL范圍范圍過程能力指數(shù)（ Cp)? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化Cpk=(T2ε)/6 采取緊急措施，進行品質(zhì)改善，并研討規(guī)格 下控制限? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實驗室發(fā)明的。3α增大， Α越大， 特點：過程能力指數(shù)是否滿足要求？●控制用控制圖缺陷數(shù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖方法均值和極差圖（ XR） 表示子組控制限是由子組的樣本容量以及反12 ：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 對各條線標上記號（ UCLR分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部：的不一致的原材料），這些問題都是常見的問題，需要糾正。bRUCLb注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “丟棄壞數(shù)據(jù) ”。a2a鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控和 =111計算每一子組的標準差121X+注：式中 S=中位數(shù)圖易于使用和計算，但統(tǒng)計結(jié)果不精確 7 刻度應(yīng)與量具一致。并連接起來。計算極差的平均值，記為 R；23?5 5 中位數(shù)圖的替代方法6 確定圖樣8 制作極差的控制圖片11 在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。a、 E2是隨樣本 RP圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分數(shù)。33為平均不良率； nn(813測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。情況之一或兩者。 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列過程能力解釋 式中的 np1,np2,3LSLnp=np過程控制解釋和過程能力解釋 類檢驗： 8312不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。計算過程不合格數(shù)均值（ C）：式中： C1,的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） .記錄在數(shù)據(jù)表中。計算控制限n有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。正常形：對稱，是一般穩(wěn)定生產(chǎn)狀態(tài)的正常情況。常常是由于在生產(chǎn)過程中有某中緩慢的傾向在起作用時多出現(xiàn)此型，如刀具的磨損，操作者的疲勞等。1)因 4魚骨圖（因果圖）因果圖作圖方法? 明確要管理的特性? 劃出特性（結(jié)果）與主干? 選取影響特性的要因– 先畫大枝（大分類的要因）– 對大枝細究，一層一層，形成中枝、小枝、細枝，直到找出可采取措施的原因為止? 檢查要因是否有遺漏? 對特別重要的要因附以標記? 幾點注意事項：– 結(jié)果（特性）要具體– 一個特性（結(jié)果）一張圖– 要因的分析應(yīng)盡可能深入細致，窮追到底– 不能將原因分析與對策混淆大原因不一定是主要原因！魚骨圖（因果圖）魚骨圖（因果圖）?半成品尺寸不穩(wěn)定設(shè)備責(zé)任心不強培訓(xùn)不足操作不真確壓出尺寸不穩(wěn)定材料方法環(huán)境打壓風(fēng)壓控制不穩(wěn)作業(yè)方法不合理溫度變化大人員成型打壓壓力波動口型不合適膠料收縮未按標準作業(yè)半成品部件拉伸排列圖（帕雷托圖）80/20法則 示例? 80%的病假是由 20%的員工所占用；? 80%的檔案使用量集中于 20%的檔案；? 80%的菜是重復(fù) 20%的菜色； ?? 80%的垃圾是源自 20%的地方；?。問題的 組距（ h） =R/k==≈第四步：計算組邊界和中心值? 第一組下限值 =Xmin測量最小單位的一半==? 第二組下限值 =+=? 第一組中心值 =（ +） 247。特殊原因（ Special過程控制解釋（同 P管制圖） 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負 25% ，按下式重新計算其準確的控制限：u(n1+n2+…+n k) C和 n都應(yīng)n過程控制解釋（同 P管制圖） 8331檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度824USLnp=np 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分數(shù)和比值，這就是對能力的定義828132如果顯著多余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格過程性能已改進 (初始研究時，這些被認為是試驗控制限。/177。C、 按上式分別計算樣本容量為 可用平均樣本容量 /–Pa=LSLMR=D3R(MR1+MR2+…+MR k)/