【正文】 方法將中位數(shù)圖的制作過程簡化 ：7 5110 5212 5316 55的中位數(shù)。用途測量費(fèi)用很大時(shí)，（例如破壞性實(shí)驗(yàn)）或是當(dāng)任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出 移動(dòng)圖的三中用法：a2122b移動(dòng)極差圖（ MR）的刻度間隔與 3計(jì)算控制限 X=（ X1+X2+…+Xk ） /(MR1+MR2+…+MR k)/LSLMR=D3RUSLX=X+E2RLSLX=XE2R見下表：4 過程控制解釋（同其他計(jì)量型管制圖） 過程能力解釋δ==d2只有過程受控，才可直接用 δ的估計(jì)值來評價(jià)過程能力 。8118112P=np選擇控制圖的坐標(biāo)刻度8113a描點(diǎn)，連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。812n1p1； nkpkP(–P)/為樣本容量注： 可用平均樣本容量 代替 的子組。C、 按上式分別計(jì)算樣本容量為 nUCL,LCL177。P/np)8123(初始研究時(shí)，這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限。超出控制限的點(diǎn) 81312鏈a出現(xiàn)高于均值的長鏈或上升鏈（ 7點(diǎn)），通常表明存在下列過程性能已改進(jìn) 測量系統(tǒng)的改好 的鏈的可能性增加，因此有必要用長度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長鏈作為不合格品率降低的標(biāo)志。81313c如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對于 25 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 8132尋找并糾正特殊原因 重新計(jì)算控制限 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點(diǎn)直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)和比值，這就是對能力的定義82圖 82118212 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。(np1+np2+…+np k) 為 K個(gè)子組中每個(gè)子組的不合格數(shù) USLnp=np3np(1p),824831要求樣本的容量恒定或受檢驗(yàn)材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩檢驗(yàn)樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格數(shù)（ C）。=…C k為每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù)8331計(jì)算控制限 C177。過程控制解釋（同 P管制圖） nu=c C和 n都應(yīng)843計(jì)算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值(n1+n2+…+n k)式中 :=3u注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負(fù) 25% ，按下式重新計(jì)算其準(zhǔn)確的控制限：u/過程控制解釋（同 P管制圖） 過程能力解釋 （ X） 一組測量值的 均值極 差（ Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差σDeviation)過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。X過程均值（ Process來表示。特殊原因（ SpecialCause）造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。組數(shù) k）? 計(jì)算組距 h,組距（ h） =R/k==≈第四步：計(jì)算組邊界和中心值? 第一組下限值 =Xmin測量最小單位的一半==? 第二組下限值 =+=? 第一組中心值 =（ +） 247。 。左偏峰型。 e第七步：直方圖的分布狀態(tài)及分析f.f第七步：直方圖的分布狀態(tài)及分析g.如分組不當(dāng)，級的寬度沒有取為測量單位的整數(shù)倍時(shí)多出現(xiàn)此型。問題的 1)因 1)因 2因 4魚骨圖（因果圖）因果圖作圖方法? 明確要管理的特性? 劃出特性（結(jié)果）與主干? 選取影響特性的要因– 先畫大枝（大分類的要因）– 對大枝細(xì)究，一層一層，形成中枝、小枝、細(xì)枝，直到找出可采取措施的原因?yàn)橹? 檢查要因是否有遺漏? 對特別重要的要因附以標(biāo)記? 幾點(diǎn)注意事項(xiàng)：– 結(jié)果（特性）要具體– 一個(gè)特性（結(jié)果）一張圖– 要因的分析應(yīng)盡可能深入細(xì)致，窮追到底– 不能將原因分析與對策混淆大原因不一定是主要原因！魚骨圖（因果圖）魚骨圖（因果圖）?半成品尺寸不穩(wěn)定設(shè)備責(zé)任心不強(qiáng)培訓(xùn)不足操作不真確壓出尺寸不穩(wěn)定材料方法環(huán)境打壓風(fēng)壓控制不穩(wěn)作業(yè)方法不合理溫度變化大人員成型打壓壓力波動(dòng)口型不合適膠料收縮未按標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)半成品部件拉伸排列圖（帕雷托圖）80/20法則 示例? 80%的病假是由 20%的員工所占用；? 80%的檔案使用量集中于 20%的檔案；? 80%的菜是重復(fù) 20%的菜色； ?? 80%的垃圾是源自 20%的地方；?。3因 2因 1)機(jī) (因 1)因 當(dāng)生產(chǎn)條件的明顯變化，如一時(shí)原料發(fā)生變化或者在短期內(nèi)由不熟工人替班加工時(shí)易出現(xiàn)此型；另外在測量有誤時(shí)易出現(xiàn)此型。當(dāng)工序能力不足時(shí)為找到適合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品而做全數(shù)檢查時(shí)多出現(xiàn)此型，也就是說用剔除不合格產(chǎn)品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時(shí)易出現(xiàn)此型。常常是由于在生產(chǎn)過程中有某中緩慢的傾向在起作用時(shí)多出現(xiàn)此型，如刀具的磨損，操作者的疲勞等。c第七步：直方圖的分布狀態(tài)及分析。第七步：直方圖的分布狀態(tài)及分析c.正常形：對稱，是一般穩(wěn)定生產(chǎn)狀態(tài)的正常情況。第二步：計(jì)算極差R=質(zhì)量管理七種基本工具（老七種）? 直方圖法與柱形圖? 因果分析圖法（魚骨圖）? 分層法? 統(tǒng)計(jì)分析表法? 排列 (帕雷托）圖法? 散布圖與相關(guān)分析法? PDCA循環(huán)直方圖 直方圖是頻數(shù) /率直方圖的簡稱：是指將數(shù)據(jù)（質(zhì)量特性值）按其順序分成若干間隔相等的組，以組距為底邊，以落入各組的頻數(shù) /率為高的若干長方形排列的圖。Capability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。名稱 解釋中心線（ Central?x將一組測量值從小到大排列后， 中間的值 即為中位數(shù)。u為平均樣本容量。n177。U/LSLu計(jì)算控制限.8431C1， C2及 n1,n2等為 K個(gè)子組內(nèi)每個(gè)子組的不合格數(shù)及樣u=(C1+C2+…+C k)記錄在數(shù)據(jù)表中。式中 :n內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） .單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖841的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 C834U/LSLc=式中： C1,/計(jì)算過程不合格數(shù)均值（ C）：計(jì)算控制限 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。8328312類檢驗(yàn)： C圖用來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖采用時(shí)機(jī)c過程控制解釋和過程能力解釋 n為過程不良品率 LSLnp=npnp(1p)3式中的 np1,np2,knp8231 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組過程能力解釋 并在備子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） 線的混合的輸出）。不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn)過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè) 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 很小時(shí)（ 5以下），出現(xiàn)低于 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具情況之一或兩者。測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)?？刂葡藁蛎椟c(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等） 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的 P管制圖 過程控制用控制圖解釋： 813畫線并標(biāo)注n/(P)1時(shí)的點(diǎn)的控制限 .A、 確定可能超出其平均值 來計(jì)算控制限 UCL； LCL。n為平均不良率； nn1–3P3=n1； nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù)8122式中： (n1+n2+…+ nk)計(jì)算過程平均不合格品率（ P） 8114過程的變差源。分組頻率： 根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。P圖是用來測量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。P管制圖為移動(dòng)極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。R/、 E2是隨樣本 R圖一致。產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。a計(jì)算單值間的移動(dòng)極差（ MR），通常是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間 在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。數(shù)據(jù)收集（基本同 XR操作者對超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當(dāng)?shù)拇胧┻M(jìn)行改善，或通知管理人員。14 54制作極差的控制圖片11 確定圖樣8 5 中位數(shù)圖的替代方法6 d2估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：6 5 6 323 過程控制分析（同 XR） ??? 是隨樣本容量變化的常數(shù)，見下表：=LSLA2USL計(jì)算極差和中位數(shù)的上下控制限 計(jì)算極差的平均值，記為 R；23；22并連接起來?？潭葢?yīng)與量具一致。7 當(dāng)子組樣本容量為偶數(shù)時(shí)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值?？捎脕韺讉€(gè)過程的輸出或一個(gè)過程的不同階段的輸出進(jìn)行比較1 數(shù)據(jù)的收集 中位數(shù)圖易于使用和計(jì)算，但統(tǒng)計(jì)結(jié)果不精確 R）