統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)(專業(yè)版)
【正文】 33 計(jì)算公式： P控制圖 UCLP = μp+3σp = P+3 P（ 1P） /n CLp = μp = P UCLX = μp3σp = P 3 P（ 1P） /n 備注：若 P未知 ， 則用求平均值的方法來估計(jì) ， 公式中用 P來代替 P值 。 ：無法符合要求 ， 又不在控制狀態(tài) 。 異因引起的異常波動(dòng) （ 簡稱異波 ） ， 異波對(duì)質(zhì)量的影響大 ， 且采取措施不難消除 ， 故在過程中異波及造成異波的異因是我們注意的對(duì)象 ， 一旦發(fā)生 ，就應(yīng)該盡快找出 ， 采取措施加以消除 ， 并納入標(biāo)準(zhǔn)化 ， 保證它不再出現(xiàn) 。 其后 ， 休哈特提出了過程控制理論以及控制過程的具體工具 ——— 控制圖 （ control chart),現(xiàn)今統(tǒng)稱為 SPC。 影響較大 。 24 （ b） 連續(xù) 6點(diǎn)或更多點(diǎn)呈上升或下降趨勢(shì)； ABCCBAU C LXL C L產(chǎn)生的原因 :過程平均值的趨勢(shì)在變化；可能是工具逐漸磨損 ， 操作員技能的逐漸提高等 。 TL TU T/2 ε μ M PU 38 7. 有偏移情況的過程能力指數(shù) : 定義分布中心 μ與公差中心 M的偏移為 ε=│M μ │ 以及 μ與 M的偏移度 K為 K= 2ε/T (0K1) 過程能力值數(shù)修正為 : Cpk=(1K)Cp=(1K)T/6σ≈ (1K)T/6σ 當(dāng) μ=M(無偏移 )時(shí) ,K=0,Cpk=Cp,即還原 。 30 4． 二種常用控制圖的計(jì)算公式： (1). XR控制圖 X— 均值 R— 極差 X控制圖主要用于觀察正態(tài)分布的均值的變化 ,R控制圖主要用于觀察正態(tài)分布的分散情況或變異度的變化 。 13 （ 四 ） 過程控制及過程能力 過程的狀態(tài)有 4種 ， 用下表分類： 分類 可接受 不可接受 受控 1 2 不受控 3 4 1. 受控可接受：制程符合要求 （ 規(guī)格 ） ， 且在制狀態(tài) 。 查誤可在不良發(fā)生后找出問題所在 ，而預(yù)防則可以防范不良之發(fā)生 。 3 統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ) : (1).算術(shù)平均值 — X(簡稱均值 ) 例如 : A組 :50,70,80,80,90 B組 :40,60,70,80,90 則 : XA=(50+70+80+80+90)/5=74 XB=(40+60+70+80+90)/5=68 4 統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ) : (2).極值 — R R=XmaxXmin 例如 : A組 :30,50,60,70,90
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