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統(tǒng)計過程控制spc培訓(1)(更新版)

2025-02-04 22:29上一頁面

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【正文】 R— 極差 X控制圖主要用于觀察正態(tài)分布的均值的變化 ,R控制圖主要用于觀察正態(tài)分布的分散情況或變異度的變化 。等 R圖判穩(wěn)后,再作 X圖。 TL TU T/2 ε μ M PU 38 7. 有偏移情況的過程能力指數(shù) : 定義分布中心 μ與公差中心 M的偏移為 ε=│M μ │ 以及 μ與 M的偏移度 K為 K= 2ε/T (0K1) 過程能力值數(shù)修正為 : Cpk=(1K)Cp=(1K)T/6σ≈ (1K)T/6σ 當 μ=M(無偏移 )時 ,K=0,Cpk=Cp,即還原 。 31 計算公式: XR控制圖 UCLX = X+A2R CLX = X UCLX = X+A2R UCLR = D4R CLR = R UCLR = D3R 備注:公式中的 A D D4均為參數(shù)可以查表或計算得到 。 24 ( b) 連續(xù) 6點或更多點呈上升或下降趨勢; ABCCBAU C LXL C L產(chǎn)生的原因 :過程平均值的趨勢在變化;可能是工具逐漸磨損 , 操作員技能的逐漸提高等 。 必須降低偶因之變異 , 如工藝的設計缺陷 , 設備的先天不足 。 影響較大 。 9 ( 偶因 ) 又稱為一般 、 偶然 、 機遇原因 , 在制程中的自然或天生的變異 , 通常這些變異是由一些小的干擾造成 ,不容易控制 , 即使再好的過程 , 我們必須承認 , 必定有變異存在 。 其后 , 休哈特提出了過程控制理論以及控制過程的具體工具 ——— 控制圖 ( control chart),現(xiàn)今統(tǒng)稱為 SPC。所以持續(xù)的過程改善對每個公司來講都非常重要 。 異因引起的異常波動 ( 簡稱異波 ) , 異波對質(zhì)量的影響大 , 且采取措施不難消除 , 故在過程中異波及造成異波的異因是我們注意的對象 , 一旦發(fā)生 ,就應該盡快找出 , 采取措施加以消除 , 并納入標準化 , 保證它不再出現(xiàn) 。 ④ 難以除去 , 不是技術上 不難除去 。 :無法符合要求 , 又不在控制狀態(tài) 。 27 ( e) 連續(xù) 5點中有 4點落在中心線同一側的 C區(qū)以外; ABCCBAU C LXL C L產(chǎn)生的原因 :類似與( d),分布的 X的 μ在變化。 33 計算公式: P控制圖 UCLP = μp+3σp = P+3 P( 1P) /n CLp = μp = P UCLX = μp3σp = P 3 P( 1P) /n 備注:若 P未知 , 則用求平均值的方法來估計 , 公式中用 P來代替
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