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核輻射測量方法考試必考點(diǎn)(更新版)

2025-07-19 00:53上一頁面

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【正文】 M計(jì)數(shù)器的工作原理,它可用于測量入射粒子的哪些物理量(如粒子注量率、能注量率)及其原因?GM計(jì)數(shù)器工作在氣體電離放電伏安特性曲線的GM區(qū)。所以,電子脈沖電離室的缺點(diǎn)是不能用于分析帶電粒子的能量(不能測量能注量率),可用于測入射粒子的粒子注量率,并可獲得更高的計(jì)數(shù)率。可見,電壓脈沖的個數(shù)能夠反映入射粒子的個數(shù);電壓脈沖的幅度V飽和能夠反映入射粒子的能量E。(3)屏蔽防護(hù):措施為設(shè)置屏蔽體;屏蔽材料和厚度的選擇(根據(jù)輻射源的類型、射線能量、活度,考慮各種輻射與物質(zhì)的相互作用的差別)。說明放射性活度與射線強(qiáng)度的區(qū)別。定義為在組織內(nèi)所關(guān)心的一點(diǎn)上的吸收劑量D、品質(zhì)因數(shù)Q、修正因子的三項(xiàng)乘積。放射性核素的活度經(jīng)過多少個半衰期以后,可以減少至原來的15%、7%、%?根據(jù): ,依次類推。電離室工作在氣體電離放電伏安曲線的飽和區(qū)。即可測量入射粒子的能注量率和粒子注量率。說明正比計(jì)數(shù)器的工作原理,它可用于測量入射粒子的哪些物理量(如粒子注量率、能注量率)及其原因?正比計(jì)數(shù)器是一種充氣型輻射探測器,工作在氣體電離放電伏安特性曲線的正比區(qū)。說明閃爍探測器的工作原理,它可用于測量入射粒子的哪些物理量(如粒子注量率、能注量率)及其原因?閃爍探測器以閃爍晶體為探測介質(zhì),利用閃爍效應(yīng)來探測入射粒子,工作原理如下:⑴射線進(jìn)入閃爍體,與之發(fā)生相互作用,閃爍體吸收帶電粒子能量而使原子、分子電離和激發(fā);⑵受激原子、分子退激時發(fā)射熒光光子;⑶利用反射物和光導(dǎo)將閃爍光子盡可能多地收集到光電倍增管的光陰極上,由于光電效應(yīng),光子在光陰極上擊出光電子;⑷光電子在光電倍增管中倍增,數(shù)量由一個增加到104~109個,電子流在陽極負(fù)載上產(chǎn)生電信號;⑸電信號由電子儀器記錄和分析??捎糜跍y入射粒子的粒子注量率和能注量率。答:由于FD3017(或IED3000R)型測氡儀不受釷射氣的干擾,在野外進(jìn)行野外土壤氡氣測量的工作程序如下:①先用鐵錘和六棱鋼釬,在測點(diǎn)處土壤層打孔。請簡述采用α徑跡測量土壤氡的操作程序。⑸確定徑跡密度: 用一般光學(xué)顯微鏡觀察,探測器上徑跡密度(勞動強(qiáng)度大,速度慢);或用徑跡掃描儀計(jì)數(shù)徑跡密度(減輕勞動強(qiáng)度,提高效率)。用α輻射儀,測量銅片α粒子活度,每個樣品測量時間一般為10min。γ射線照射量率(源的γ射線強(qiáng)度):,即γ射線的照射量率用儀器譜中的對應(yīng)特征峰面積來表征。峰C是反散射峰。答:,最右邊的是全能峰,這一脈沖幅度直接反映入射γ射線的能量。請簡述在γ能譜的形成過程中, 除了γ射線與物質(zhì)的光電效應(yīng)、康普頓散射和電子對效應(yīng)對γ能譜的貢獻(xiàn)形成全能峰、康普頓坪、單逃逸峰和雙逃逸峰等之外,還伴隨著哪些其它的作用過程和干擾輻射的影響,使得γ譜線復(fù)雜化?答:其它作用過程主要包括:累計(jì)效應(yīng):入射γ光子在探測介質(zhì)中通過多次相互作用所引起的γ光子的能量完全吸收(沉淀在探測器中),會相對地提高了全能峰中的脈沖數(shù);和峰效應(yīng):兩個(或更多)γ光子同時被探測器晶體吸收產(chǎn)生幅度更大的脈沖,該脈沖幅度所對應(yīng)的能量為兩個(或更多)光子能量之和。它們在能譜上形成特征X射線峰。韌致輻射的影響:γ射線常伴隨β衰變放出,而β射線在物質(zhì)中被阻止時會產(chǎn)生軔致輻射。如:選用高能、中能、低能范圍的3個伽瑪射線能量值E0 、E E2,從譜儀測量得到的γ能譜中找到對應(yīng)的道址CH0 、CH CH2,從而確定參數(shù)a和b,得到刻度曲線。
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