【正文】 。過程能力必須在過程正式運作前得到確認，同時在運作過程中要持續(xù)穩(wěn)定地保證這個能力。，進行預(yù)防?？刂茍D制作、使用流程圖收 集 數(shù) 據(jù)否作分析用控制圖查找原因調(diào)整過程判斷過程是否穩(wěn)定否是查找原因調(diào)整過程判斷過程是否正常是作為過程控制用控制圖l 如何判斷控制圖是否穩(wěn)定把數(shù)據(jù)圖中、R分別點在分析用控制圖上，并將圖、R圖上跳出控制界限（包括控制界限上）的點子或排列有缺陷的點圈起來。一周內(nèi)的不良率、成品率等指標有時會這樣。這些都屬于小概率事件，屬預(yù)防范疇需要現(xiàn)場解決！11點中有10點在中心線的同一側(cè)出現(xiàn)；14點中有12點在中心線的同一側(cè)出現(xiàn)；17點中有14點在中心線的同一側(cè)出現(xiàn)；20點中有16點在中心線的同一側(cè)出現(xiàn)。l 實際練習(xí)汽車噴漆車間對各型號外客噴漆,現(xiàn)對頂蓋進行檢查,發(fā)現(xiàn)的氣泡數(shù)錄于表中,各型車蓋面積不同,經(jīng)折算,以最小頂蓋為單位產(chǎn)品數(shù),請用u圖對噴漆過程進行分析.l 單位缺陷數(shù)控制圖（ u圖 ）實際練習(xí)nc4533453253241524264308385uT8:00　9:00　10:00　11:00　12:00　13:00　14:00　15:00　16:00　17:00　18:00　19:00　20:00控制界限的計算：其177。l 控制圖界限計算公式若第一組n1件，其中不合格品數(shù)為d1，……，第K組nk件，其中不合格品為dk件，由于條件是n1=n2=……=nk故:平均不合格品數(shù)平均不合格品率則l 實際練習(xí)，仍以上題為例，繪制d圖不良數(shù)1234567891011121314151617181920205710914111318141269138491187 缺陷數(shù)控制圖(C圖)檢測一個產(chǎn)品，如果以該產(chǎn)品的缺陷數(shù)作為質(zhì)量指標，用以判斷過程是否處于或保持一定的質(zhì)量水平上的控制圖，稱為缺陷數(shù)控制圖(C圖)。l P圖控制界限的計算公式條件：每組樣本容量相同或雖不相同，但在的177。單值：指每次得到的一個測量值。圖紙要求8+，按時間順序，隨機抽取25組樣品，每組樣本容量n=5，請繪制均值—標準差控制圖，并對加工平臺長度工序的過程進行分析。這里請注意：均值為樣本均值，標準差為樣本標準差S。規(guī)格上限UCL規(guī)格中心CL規(guī)格下限LCL在這種情況下：，提高過程能力，達到規(guī)格要求。一般按產(chǎn)品的生產(chǎn)順序或測定順序排列數(shù)據(jù)；3) 將收集數(shù)據(jù)分組并記入表中（提供控制圖常用表格）4) 計算平均值（、極差（R）總平均值（）平均極差（）5) 計算控制界限 CLx、UCLx、LCLx、CLR、UCLR、LCLR6) 繪制控制界限7) 點圖8) 控制圖分析下面的表格為R圖常用記錄表格l 控制圖用于分析生產(chǎn)過程的步驟（1）如果所有的點均落在控制限內(nèi)，此圖可以做為控制過程的控制圖；（2）如果個別點超出控制限外，對這些點的產(chǎn)生原因進行調(diào)查分析，并加以消除，利用剩余數(shù)據(jù)，重新計算控制限；（3）如果某些點超出控制限外，但又查不出原因或查明原因無法消除，則這些點無須剔除。（UC）：記入控制圖內(nèi)的點子，能夠在界限內(nèi)隨機分布。缺陷數(shù)控制圖c較常用，計算簡潔，作業(yè)人員易于掌握，要求樣本量大。中位數(shù)極差控制圖計算簡便，但效果較差。2. 對生產(chǎn)和檢驗工作能做到利用分析所得資料 （1）制定或變更規(guī)格； （2）提供或變更生產(chǎn)方法； （3）提供或變更檢驗方法和驗收標準。l 3σ 法控制過程 中心線 CL = μ控制上限 UCL = μ+3σ控制下限 LCL = μ3σ本章小結(jié) 、整理、分析的基本概念。l 正態(tài)分布的性質(zhì)?？v作標以50% 為中心向上下取等距離的長度，以表示累計讀數(shù)的百分比；橫坐標表示等距離的尺度，即可表示組距。l 測知分布形態(tài)； 常態(tài)型、鋸齒型、離島型等進行分析。表示過程差異小，過程能力強。 分組組數(shù)過多也可能出現(xiàn)。（9） 對繪出的直方圖進行分析。l 數(shù)據(jù)收集：應(yīng)注意依照分層原則，按照原料、設(shè)備、班次、作業(yè)員等分別歸類，防止不同層別數(shù)據(jù)混在一個群體之中。5. 實驗設(shè)計DOE。（5）設(shè)計控制圖。如何判定過程中波動是否穩(wěn)定、正常就要通過SPC來判定。 1980美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計技術(shù)的應(yīng)用。（2）如果判定過程不正常，則需認真分析原因并制定解決問題的有效改進措施。當檢出或測試出質(zhì)量問題時，產(chǎn)品已被判為不合格品。l 控制與預(yù)防應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計方法進行生產(chǎn)過程的控制。此后，大量外資、合資企業(yè)的出現(xiàn)，也使科學(xué)的、先進的管理方法引入國內(nèi)。七十年代末、八十年代初我國的經(jīng)濟轉(zhuǎn)為市場經(jīng)濟，各種科學(xué)的企業(yè)管理方法引進國內(nèi)，逐步推廣并產(chǎn)生經(jīng)濟效益。他們的工作主要內(nèi)容是進行產(chǎn)品的事后檢驗，控制結(jié)果，一旦出現(xiàn)不良品判定其返修或報廢。（2） 實效性差檢驗不可能在產(chǎn)品形成過程中起到預(yù)控的作用，它只能控制結(jié)果，往往是在轉(zhuǎn)入下一工序或出貨前做檢驗或測試。過程預(yù)防模型樣本總體輸入輸出判斷過程是否正常數(shù)據(jù) 抽樣 檢測 是 及時處理:分析原因、制定改進措施 否預(yù)控要求（1）按規(guī)定時間間隔抽取樣本，認真測量，準確記錄。 1970有效地推行 “QC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)使日本經(jīng)濟的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。（2）差異的波動存在著穩(wěn)定與否、正常與否的問題。（4）實施控制方案的教育訓(xùn)練。4. QC七手法：基本通用或互補使用。l 計數(shù)值：只以缺陷數(shù)和個數(shù)表示。（8） 繪直方圖：以橫軸表示數(shù)據(jù)測量值，縱軸表示數(shù)據(jù)出現(xiàn)的次數(shù)。 峭壁狀直方圖 鋸齒狀直方圖 往往是已剔除了不合格的數(shù)據(jù)而 常是由于測量方法或讀數(shù)不準確造成的，繪制成的直方圖。(6)分散度小的直方圖能力富裕型規(guī)格下限規(guī)格上限直方圖形態(tài)過于集中，距規(guī)格上下限還有一段距離。l 測知數(shù)據(jù)是否有假； 主管對下屬進行控制的有效手段，數(shù)據(jù)真實性的判定手段。正態(tài)概率紙是根據(jù)正態(tài)分布的累加概率（百分比）作成。（數(shù)據(jù)：44444443） = = Mo= R= S= 過程或數(shù)據(jù)分配形態(tài)l 正態(tài)分布的概率：只要知道平均值和標準差就可以確定分配。6σ 法是在高精尖產(chǎn)品考慮可靠性時，為了提高MTBF（平均無故障工作時間）的前提下，對零件、元件提出了更高的要求，6σ 成為了控制標準或追求的目標。l 應(yīng)用控制圖的目的1. 及時地察覺： （1）是否有普通原因和特殊原因存在； （2）是否超出規(guī)格界限； （3）是否出現(xiàn)數(shù)據(jù)分布形態(tài)有異常規(guī)律。適用于產(chǎn)品批量大且生產(chǎn)正常、穩(wěn)定的工序。樣本含量可以不等。 （LCL）：中心線下方的控制界限。樣本組為20～30個。規(guī)格上限UCLUCLCLε規(guī)格中心LCLεCL規(guī)格下限LCL(3）如果控制界限比產(chǎn)品規(guī)格界限要寬，屬于過程能力不足。 均值—標準差控制圖（S）均值—標準差控制圖是將均值控制圖與標準差控制圖聯(lián)合使用的一種控制圖形式。l 例題 某工廠大批量加工上蓋，并出口國外，其中對產(chǎn)品的平臺長度尺寸要求較嚴格。加工某零件外園，尺寸公差 單值移動差控制圖（XMR）某些產(chǎn)品在加工過程中，很難得到一個數(shù)據(jù)，也有的產(chǎn)品多品種小批量，也屬于較難大量、連續(xù)取得數(shù)據(jù)的情況。l 建立不合格品率控制圖（P圖）的步驟（1） 選擇過程控制項目；（2） 收集數(shù)據(jù)，可以參考以往的數(shù)據(jù)中的檢驗數(shù)與不合格品數(shù)，但至少收集20組，每組樣本容量n≥100；（3） 注意數(shù)據(jù)的分層，例如以每天或每班的產(chǎn)品為一組；（4） 計算各組不合格品率p=d/n，d為每組不合格品數(shù)，n為每組檢驗數(shù)；（5） 計算平均不合格品率和平均樣本容量。l 數(shù)據(jù)收集：與P圖相似。計算：過程平均單位缺陷數(shù)l U圖的過程能力指數(shù)Cp定義為平均單位缺陷數(shù)。UCLCLLCLl 間斷鏈 11點中有10點在CL的同側(cè)。出現(xiàn)以下這幾種排列，應(yīng)注意。（4）判斷過程是否正常如不正常，查找原因，調(diào)整過程，重新收集數(shù)據(jù)再次作分析用控制圖；如果正常則可以用此控制圖作為生產(chǎn)過程控制的控制圖。本章小結(jié)。（ISO8402）l 過程能力：指過程處于穩(wěn)定而正常的狀態(tài)下，在經(jīng)濟與其他條件允許的范圍內(nèi)過程保證產(chǎn)品質(zhì)量的能力?！獦O差平均值1/d2——控制圖常數(shù)1/d2系數(shù)表n23456789101/d2 過程能力評價標準過程能力等級過程能力指數(shù)(Cp或Cpk)不合格品率p(%)過程能力評價特級Cpp過剩一級≥Cpp≥充足二級≥Cp1p≥正常三級1≥Cpp≥不足四級≥Cpp≥嚴重不足 偏移系數(shù)K評價過程能力指數(shù)Cp或Cpk偏移系數(shù)k對分布中心應(yīng)采取的措施CpCpCp≤Cp≤0kk0kk不必調(diào)整引起注意密切注意采取措施幾個p值界限值時的Cp與K值的關(guān)系Kp=% Cpp=% Cpp=% Cp* 有關(guān)正態(tài)分布的必要的數(shù)學(xué)知識l 什么是正態(tài)分布 正態(tài)分布是過程中最常見的一種連續(xù)隨機變量，它在概率論和數(shù)理統(tǒng)計中極為重要。 如“測量誤差”的波動就是有測量工具精度的細微影響、讀數(shù)的細小差異、測量位置的微小變化等引起的。的兩邊相同距離處各有一個拐點，拐點處的密度曲線的二階導(dǎo)數(shù)為零，此點至x=181。它是密度曲線的最高點和橫坐標，稱為正態(tài)分布的均值。當σ不變，181。其面積若作變量替換　則有　　而　　故得　　即 結(jié)論：若 ξN（μ，σ2） 即ξ遵從正態(tài)分布，那么N(0,1)遵從標準正態(tài)分布。的數(shù)值。 其一是有偏移過程能力指數(shù)Cpk法。（2）對給定的規(guī)格范圍（T）一定時，過程能力與一定的質(zhì)量水平（不合格品率為考查標準）是互相對應(yīng)的。（4）不能用Cpk直接計算不合格品率p，但可以查表得到（附表四）。由此得出結(jié)論：Cp越大，k越小，Cpk與Cp′的差別越小；Cp越小，k越大，Cpk與Cp′的差別越大，即Cpk的精度越低。l Cp′的計算較繁瑣，但可通過查表簡便得到，能在所有情況下使用。由偏移量ε= 此時有偏移過程能力指數(shù)： 結(jié)論：Cpk，不能向訂貨方提交