spc統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)課程(ppt87頁)(完整版)
【正文】 采取適當(dāng)之措施。因其用法簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實施質(zhì)量控制時不可缺少的主要工具，當(dāng)時稱為 (Statistical Quality Control)。 ?制程的組成以及其波動的原因 波動原因 人 機器 材料 方法 測量 環(huán)境 ?過程控制和過程能力 控制 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于 受統(tǒng)計控制狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，就可評定滿足顧 客期望的能力。 3σ 50% 177。 UCL CL LCL 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于 “ 控制狀態(tài) ” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限 。 ? 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。 劃圖區(qū)域 A4將不合格品率描繪在控制圖上 ? 描繪每個子組的 p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。可利用諸如排列圖和因果分析圖等解決定問題數(shù)據(jù)。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 ? 對過程進(jìn)行改變時，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。 ? 當(dāng)正式研究過程能力時，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個或更多時期子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。 ? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 ? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。 ? 最差情形，可以允許制程中心，偏差177。除非所有的特殊原因都被查找出來并且采取了措施，否則它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。 3σ % 177。 ? 同年日本規(guī)格協(xié)會成立了質(zhì)量控制委員會，制定了相關(guān)的 JIS標(biāo)準(zhǔn)。 控制圖在英國及日本的歷史 ? 英國在 1932年，邀請. Shewhart博士到倫敦，主講統(tǒng)計質(zhì)量控制，而提高了英國人將統(tǒng)計方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。 “α”及“ β”風(fēng)險說明 “ α”風(fēng)險說明 “ β”風(fēng)險說明 控制界限 “α ”值 177。 4σ % ?“α”及“ β”風(fēng)險說明 ?控制圖兩種錯誤的分析 ? 對于僅僅存在偶然因素的情況下 , 由于點子越出控制界限外而判斷過程發(fā)生變化的錯誤 , 即將正常判斷為異常的錯誤是可能發(fā)生的 . 這種錯誤稱為第一種錯誤 . ? 當(dāng)過程具有某種非偶然因素影響 , 致使過程發(fā)生程度不同的變化 . 但由于此變化相應(yīng)的一些點子落在控制界限內(nèi) , 從而有可能發(fā)生判斷過程未發(fā)生變化的錯誤 , 這種錯誤稱為第二種錯誤 . ? 發(fā)生第一種錯誤時 , 虛發(fā)警報 , 由于徒勞地查找原因并為此采取了相應(yīng)的措施 , 從而造成損失 . 因此 , 第一種錯誤又稱為徒勞錯誤 . 發(fā)生第二種錯誤時漏發(fā)警報 , 過程已經(jīng)處于不穩(wěn)定狀態(tài) , 但并未采取相應(yīng)的措施 , 從而不合格品增加 , 也造成損失 . 普通原因、特殊原因 ? 普通原因指的是造成隨著時間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“ 處于統(tǒng)計控制狀態(tài) ” 、 “ 受統(tǒng)計控制 ” ，或有時簡稱 “ 受控 ” ，普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 ? 第二條 , 控制圖上點的排列分布沒有缺陷 . 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 ? 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? 計算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ?Ｄ過程能力解釋 D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D aC製程能力指標(biāo) 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格pC製程能力指標(biāo) 內(nèi)變差只考慮到固定變差或組單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限雙邊規(guī)格2?)(?3)(?3)(?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????pkC製程能力指標(biāo) 2??3?3),min(dRSxCxSCCCClplupuplpupk?????????及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplu
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