spc及cpk教程(實(shí)戰(zhàn)篇)(完整版)
【正文】 格下限 規(guī)格上限6r 5r 4r 3r 2r 1r +6r+1r +2r +3r +4r +5rX 434n3?控制方式與 6?控制方式的比較：5? ? ?兩個影響量 ﹐ ?﹑﹑ ?1﹑ ?的變化的變化 ﹖2﹑ ?的變化的變化 ﹖2? ?1 e 2 ? 22F(x)= (x?)6二 ﹑ SPC與 CPK1﹑ 區(qū)別與聯(lián)系CPK﹕ 判定短期的制程能力 ﹐ 可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗(yàn)制程能力是否在管制狀況下 ﹔SPK﹕ 長期的制程能力 ﹐ 主要用在制程管制上。5r 177。Kr 百分比 (%) 百萬分缺點(diǎn)數(shù) 177。1r 177。實(shí)例分析 ﹕n以解析錫膏厚度的管控上下限為例 ﹕n集中量測 25組錫膏厚度數(shù)據(jù) ﹔n每組由 5個量測點(diǎn)的數(shù)據(jù) ﹔n計(jì)算 CPK值 ﹐ 判定是否合理 ﹔n計(jì)算上下管制線。37n4﹑ 計(jì)算 Xbar的管控線UCL= +A2*Rbar=+*=LCL= A2*Rbar =*=38n5﹑ 剔除異常的點(diǎn) (超出規(guī)格的 )﹐ 查找異常的原因異常點(diǎn)異常點(diǎn)39n6﹑ 重新計(jì)算 剔除第 5﹑12 點(diǎn)﹑R bar都需要重新計(jì)算 ﹐ 檢查 R圖符合要求40n6﹑ 重新計(jì)算 檢查 41n7﹑ 落實(shí)改善措施及延長管制線 將第 2點(diǎn)和第 5﹑12 點(diǎn)出現(xiàn)異常的原因進(jìn)行分析 ﹐ 一定要追蹤落實(shí)改善 ﹔ 用以下公式得到管制用管制線 ﹕UCL= Xbar +3*SigmaLCL= Xbar 3*Sigma 42﹑ SPC管制及改進(jìn) ﹐ 在批量生產(chǎn)中就可以用此管控線來管制 ﹑ 檢驗(yàn)制程是否處于正常狀況下 ﹔ SPC管制一般會要求定期進(jìn)行量測監(jiān)控。252﹑ SPC管制▲ 將 CPK解析的管制上下限 ﹐ 作為 SPC的管制上下線 ﹔▲ 定時對生產(chǎn)制程進(jìn)行量測 ﹐ 這個時間可以是每天或每班 ﹔▲ 檢查每次的量測結(jié)果是否在管控范圍內(nèi) ﹔▲ 量測點(diǎn)超出管控線 ﹐ 需要立即檢
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