質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)(完整版)
【正文】 出的結(jié)果很接近于真值，說明該方法 A、準(zhǔn)確度高 B、精密度高 C、靈敏度高 D、重復(fù)性好 ? 經(jīng)常用計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)或標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整或校準(zhǔn)，是為了盡可能消除 A、總誤差 B、隨機(jī)誤差 C、人為干擾 D、不確定度 E、系統(tǒng)誤差 ? 過失誤差是 A、一種顯然與事實(shí)不符的誤差 B、主要由于分析人員的粗心或疏忽而造成的 C、沒有一定規(guī)律可循 D、只要分析人員加強(qiáng)工作責(zé)任心，這種誤差是完全可以避免的 E、系統(tǒng)誤差加隨機(jī)誤差 ? 直線回歸分析的主要用途是什么？ ? 試述正態(tài)分布的應(yīng)用？ ? 準(zhǔn)確度、精密度及兩者之間的關(guān)系是什么？ 質(zhì)控圖和質(zhì)控規(guī)則 質(zhì)控圖 ? LJ質(zhì)控圖： ? Z分?jǐn)?shù)圖： ? Youden圖： LJ質(zhì)控圖 ? 數(shù)據(jù)采集和處理： 連續(xù)測(cè)定同一批號(hào)的質(zhì)控品 20天以上或一個(gè)月，求出均值及標(biāo)準(zhǔn)差 質(zhì)控上限值為 X+3S，質(zhì)控下限值 X3S 繪制質(zhì)控圖及記錄質(zhì)控結(jié)果 LeveyJennings控制圖 Z分?jǐn)?shù)圖 ? 把不同濃度水平的質(zhì)控品繪制在同一個(gè)質(zhì)控圖上 ? 質(zhì)控品的質(zhì)控測(cè)定值和其均值之差，除以該質(zhì)控品的標(biāo)準(zhǔn)差 Youden圖 又稱雙值質(zhì)控圖 ? 以低值為水平軸，高值為垂直軸，形成正方形圖 ? 穩(wěn)定型質(zhì)控圖 ? 隨機(jī)誤差質(zhì)控圖 ? 系統(tǒng)誤差質(zhì)控圖 常用的質(zhì)控規(guī)則 常用質(zhì)控規(guī)則符號(hào) ? 12s： 1個(gè)質(zhì)控測(cè)定值超過 X+2S，警告限 ? 13s： 1個(gè)質(zhì)控測(cè)定值超過 X+3S，對(duì)隨機(jī)誤差敏感 ? 22s： 2個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值 同時(shí)超過 X+2S ， X2S質(zhì)控限，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感 ? R4s：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測(cè)定值與最低質(zhì)控測(cè)定值之間的差值超過 4s，對(duì)隨機(jī)誤差敏感 ? 31s： 3個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值同時(shí)超過 X+1S ， X1S. 對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。 有界性 ：在一定測(cè)量條件下的有限次測(cè)量值中，誤差的絕對(duì)值不超過某一定界限。 Westgard多規(guī)則質(zhì)控方法 ? 是在 LJ方
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