質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)(文件)
【正文】 驗(yàn)室 B、對于血糖的精密度， A實(shí)驗(yàn)室等于 B實(shí)驗(yàn)室 C、對于血糖的精密度， B實(shí)驗(yàn)室高于 A 實(shí)驗(yàn)室 D、對于血糖的精密度， A實(shí)驗(yàn)室和 B實(shí)驗(yàn)室難以比較 ? 測定血糖 20天室內(nèi)質(zhì)量控制數(shù)據(jù)，計(jì)算出其均值為 ，標(biāo)準(zhǔn)差為 ，其變異系數(shù)應(yīng)為： A、 5% B、 4% C、 3% D、 2% ? 直線回歸分析中，相關(guān)系數(shù)為正時(shí) A、表示 Y隨 X的增加而減少 B、表示 Y隨 X的增加而增加 C、表示 Y隨 X的增加而不變 D、表示 Y隨 X的減少而減少 ? 常用的平均值包括 A、算術(shù)平均值 B、幾何平均值 C、中位數(shù) D、百分位數(shù) E、四分位數(shù) ? 某方法經(jīng)反復(fù)測定得出的結(jié)果很接近于真值，說明該方法 A、準(zhǔn)確度高 B、精密度高 C、靈敏度高 D、重復(fù)性好 ? 經(jīng)常用計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)或標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對測量儀器進(jìn)行調(diào)整或校準(zhǔn)，是為了盡可能消除 A、總誤差 B、隨機(jī)誤差 C、人為干擾 D、不確定度 E、系統(tǒng)誤差 ? 過失誤差是 A、一種顯然與事實(shí)不符的誤差 B、主要由于分析人員的粗心或疏忽而造成的 C、沒有一定規(guī)律可循 D、只要分析人員加強(qiáng)工作責(zé)任心，這種誤差是完全可以避免的 E、系統(tǒng)誤差加隨機(jī)誤差 ? 直線回歸分析的主要用途是什么？ ? 試述正態(tài)分布的應(yīng)用？ ? 準(zhǔn)確度、精密度及兩者之間的關(guān)系是什么？ 質(zhì)控圖和質(zhì)控規(guī)則 質(zhì)控圖 ? LJ質(zhì)控圖： ? Z分?jǐn)?shù)圖： ? Youden圖： LJ質(zhì)控圖 ? 數(shù)據(jù)采集和處理： 連續(xù)測定同一批號的質(zhì)控品 20天以上或一個(gè)月，求出均值及標(biāo)準(zhǔn)差 質(zhì)控上限值為 X+3S，質(zhì)控下限值 X3S 繪制質(zhì)控圖及記錄質(zhì)控結(jié)果 LeveyJennings控制圖 Z分?jǐn)?shù)圖 ? 把不同濃度水平的質(zhì)控品繪制在同一個(gè)質(zhì)控圖上 ? 質(zhì)控品的質(zhì)控測定值和其均值之差，除以該質(zhì)控品的標(biāo)準(zhǔn)差 Youden圖
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