多晶體織構(gòu)分析_晶體的極射赤面投影-文庫吧在線文庫
【正文】 鏡的像差與分辨本領(lǐng) ? 一、像差 ? 二、分辨本領(lǐng) 一、像差 ? 兩類：幾何像差和色差 ? 幾何像差是由于透鏡磁場幾何形狀上的缺陷造成的，主要指球差和像散。 物鏡 球差 最小散焦圓斑 像平面 Ⅰ 2Δ rs 2Rs P （二）象散 ? 由于透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對稱而引起的。 因此選用適當?shù)目讖浇? 若只考慮衍射效應(yīng)，在照明光源和介質(zhì)一定的條件下，孔徑角越大，透鏡的分辨本領(lǐng)越高。 電磁透鏡的最佳孔徑角 ? 使得衍射效應(yīng)埃利斑 Δ r0和球差散焦斑尺寸大小 Δrs相等，表明兩者對透鏡分辨率效果影響一樣。 ? 一、景深：透鏡物平面允許的軸向偏差。 ? 電磁透鏡的景深很大，對于圖像的聚焦操作非常有利。 20xx 222 MrMrtgMrDL ?????????M?? ?第十章 透射電子顯微鏡（ TEM） ? 目的：掌握透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與工作原理。范圍內(nèi)傾斜。物鏡的任何缺陷都將被其它透鏡進一步放大。 物鏡與樣品之間的距離總是固定不變的，主要通過改變物鏡的焦距和像距來改變物鏡的放大倍數(shù)。 ? 電子感光底片采用對電子曝光敏感、顆粒很小的溴化物乳膠底片，是一種紅色盲片。 圓柱分度盤，其水平軸和鏡筒的中心線垂直，樣品傾斜時，傾斜的角度可直接在分度盤上讀出。機械的是在電磁透鏡的磁場周圍放置幾塊可以調(diào)節(jié)的導(dǎo)磁體。直徑 20120μm。樣品的待分析區(qū)域為微米數(shù)量級。 晶格分辨本領(lǐng)的測定： 利用外延生長方法制得的定向單晶薄膜作為標樣，拍攝其晶格像。 第十一章 復(fù)型技術(shù) ? 目的：掌握復(fù)型成像技術(shù) ? 要求：通過學習質(zhì)厚襯度成像原理，掌握復(fù)型技術(shù)。 ? 第二復(fù)型材料的粒子尺寸必須很小。 ? 非晶樣品的厚度、密度與成像電子強度的關(guān)系：每立方厘米包含 N個原子的樣品的總散射截面 0000????ANQANNNQ???N— 單位體積樣品包含的原子數(shù) N0— 阿伏加德羅常數(shù) A— 原子量 ρ— 密度 入射到 1cm2樣品表面積的電子數(shù)為 n，當其穿透 dt厚度樣品后有 dn個電子被散射到光闌外，減小率為 Q dtndn ?? Qtenn ?? 0QteII ?? 0ctQtQt???11tc為臨界厚度，電子在樣品中受到單次散射的平均自由程， t≤ tc的樣品對電子束是透明的。只能做金相樣品的分析。 用丙酮或酒精清洗碳膜。 ～ 45176。進行噴鍍碳膜時，厚度稍厚 20nm左右，以便把第二相粒子包絡(luò)起來。 通常將粉末加水或溶劑用超聲波攪拌為懸浮液。 萃取復(fù)型 二、粉末樣品制備 ? 關(guān)鍵是如何將超細分的顆粒分散開來，各自獨立而不團聚。 ? 因中間復(fù)型是塑料，所以其分辨率與塑料一級復(fù)型相當。 氧化膜復(fù)型 二、二級復(fù)型（塑料 碳二級復(fù)型） ? 目前應(yīng)用最廣。 把噴有碳膜的樣品用小刀劃成對角線小于3mm的小方塊，然后放入配好的分離液中進行電解或化學分離。小心從樣品表面揭下，剪成對角線小于 3mm的小方塊，放在直徑3mm的專用銅網(wǎng)上，進行 TEM分析。 真空蒸法形成的碳膜、澆鑄蒸發(fā)形成的塑料膜，厚度小于 100nm 一級復(fù)型法 二級復(fù)型法 萃取復(fù)型法 質(zhì)厚襯度原理 ? 一、單個原子對入射電子的散射 ? 二、透射電鏡小孔徑角成像 ? 三、質(zhì)厚襯度成像原理 質(zhì)厚襯度是以非晶樣品對電子的散射和小孔徑角成像為理論的成像原理 一、單個原子對入射電子的散射 ??UZerUrZenn??2ee r?? ?原子核對電子的衍射只引起電子方向改變，能量不變，即彈性散射。 ? 復(fù)型技術(shù)： 樣品表面形貌的復(fù)制，是一種間接的分析方法，通過復(fù)型制備出的樣品是真實樣品表面形貌組織結(jié)構(gòu)細節(jié)的薄膜復(fù)制品。 銅鈦青 （ 001） 金 （ 200） （ 220） 鉑鈦青 （ 001） 亞氯鉑酸鉀 （ 001） （ 100） 鈀 （ 111） （ 200） （ 400） 測定晶格分辨本領(lǐng)常用晶體 ? 透射電鏡的放大倍數(shù)隨樣品平面高度、加速電壓、透鏡電流而變化。 透鏡的分辨本領(lǐng)和放大倍數(shù)的測定 點分辨本領(lǐng)的測定：將鉑、鉑 銥等金屬真空蒸發(fā)可得到粒度為 5～10197?？蛇M行物相鑒定和缺陷分析。雙聚光系統(tǒng)中，光闌在第二聚光鏡的下方?？蓽y定晶體位相。 ? 數(shù)碼相機、計算機存儲 TEM主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理 ? 一、樣品平移與傾斜裝置（樣品臺） ? 二、電子束傾斜與平移裝置 ? 三、消像散器 ? 四、光闌 一、樣品平移與傾斜裝置（樣品臺） ? 樣品臺要求嚴格，必須使銅網(wǎng)牢固的夾持在樣品作中并保持良好的熱、電接觸。 接負高壓 照明源 陽極 光闌 聚光鏡 樣品 物鏡 物鏡光闌 選取光闌 中間鏡 投影鏡 熒光屏或照相底片 透射顯微電鏡構(gòu)造原理和光路 (a)透射電子顯微鏡 (b)透射光學顯微鏡 ? 若把中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合，則在熒光屏上得到一幅放大像，這是成像操作；若把中間鏡的物平面與物鏡的背焦面重合，則在熒光屏上得到一幅電子衍射花樣，這就是電子衍射操作。極靴的內(nèi)孔和上下極靴間的距離越小，物鏡的分辨率越高。 陽極 陰極 偏壓電阻 柵極 UP (a)自偏壓回路 電子槍 (b)電子槍內(nèi)的等電位面 負高壓 陰極（燈絲） 柵極
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