【正文】 析中發(fā)現(xiàn)影響過程的 變異 ，通過問題分析找出 異常原因 ，立即采取 改善措施 ，使過程恢復正常。 s) : ? 等于方差的平方根，在量化變異時常用會到 1n)X(Xn1i2i?????sm inm a x??R a n g e方差等于標準偏差的平方，通常只是為了計算的目的 常用統(tǒng)計量 總體與樣本 表示總體特性的統(tǒng)計量，稱為總體特征值，如： 總體平均數(shù)、總體方差、總體標準差 表示樣本特性的統(tǒng)計量，稱為樣本統(tǒng)計量，如： 樣本平均數(shù)、樣本方差、樣本標準差、樣本極差、移動極差 總體特征值 樣本統(tǒng)計量 名稱 符號 名稱 符號 分布中心位置 總體均值 181。 身高介于 160180cm的概率。 當過程能力不足時，不能指出為什幺不足。 美國著名質(zhì)量管理專家伯格 (Roger W. Berger)教授指出，日本成功的基石之一就是 SPC。 % % μ177。 發(fā)生第二種錯誤時 漏發(fā)警報 , 過程已經(jīng)處于不穩(wěn)定狀態(tài) , 但并未采取相應的措施 , 從而不合格品增加 , 也造成損失 。 3σ 50% 177。 每天只 抽 一組來 代表，是否能代 表制程呢？ 每天如果 抽 三組 的樣本是否更能 代表制程？ 如何確定抽 樣頻率 如何確定抽 樣頻率 抽樣頻率必須考慮以下方面： ? 過程歷史狀況 經(jīng)常發(fā)生失控，就需要更頻繁的抽樣； 若班別切換會導致變更，則每班必須抽到； ? 發(fā)生失控時，對質(zhì)量的影響程度 ? 抽樣的容易程度 ? 抽樣和測量樣本的費用 通常在量產(chǎn)時，抽樣頻次為每班或每天 12次。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定。計數(shù) (np,p, c, u) 187?？赡艿脑颍? 新工人、原材料、機器、工藝； 檢驗方法、標準改變； 操作者的技能、意識變化等 UCL CL LCL 控制圖的判讀 準則 3 連續(xù) 6點上升 (后點等于或大于前點 )或下降。 控制圖 不穩(wěn)定 的 分析 當發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定，并尋找到特殊原因后，設法予以消除，然后剔除這些異常點的數(shù)據(jù)，再利用剩下來的數(shù)據(jù)（若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當數(shù)據(jù)），重新計算控制界限，重新判讀直至穩(wěn)定。 Cp≥ Ⅳ 過程能力不足 ， 表示技術管理能力已很差 ， 應采取措施立即改善 。其長期標準差 σ=。 取樣樣本數(shù)： 10組共 50個樣 取樣樣本數(shù)： 25組至少 100個樣 取樣樣本數(shù)： 100組以上至少500個樣 要求： Cmk 短期能力 制程穩(wěn)定時可用 Cpk 制程不穩(wěn)定時用 Ppk 長期能力 制程穩(wěn)定時可用 Cpk 制程不穩(wěn)定時用 Ppk 目的：先行了解機器能力是否能保證滿足規(guī)格要求，如果機器能力不能保證，后續(xù)的原料、人員變化就不能保證了。 每個子組內(nèi)的變差主要是普通原因造成的 以上的 4個條件不能滿足時，控制圖可能不會 有效地區(qū)分特殊原因的變差，可能會出一個或 多個點超出控制限 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 在選擇子組與子組數(shù)的大小時，應遵循以下原 則： 子組的容量應保持恒定 子組數(shù)據(jù)在 25組或以上 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 在適當?shù)臅r間收集足夠的子組（ 25組或以上） 這樣的子組才能反應潛在的變化，在過程的 初始階段，通常是在較短的時間間隔內(nèi)收集 樣本（如每半小時）子組抽樣的頻率有以下幾 種，但不限于： 每 15分鐘抽樣一次 每 30分鐘抽樣一次 每小時抽樣一次 每 2小時抽樣一次 每 3小時抽樣一次 每 4小時抽樣一次 一天一次（較為少見） 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 控制圖sX ?554321 xxxxxx ?????SBL C LSBU C LSCLSAXL C LSAXU C LXCLRRRXXX3433????????標準差控制圖平均值控制圖子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 同 XR圖解釋 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 過程能力指數(shù)計算同上 控制圖sX ?4?cs??控制圖mRX ?單值控制在檢查過程變化時不如 XR圖敏感。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內(nèi)點的分布，以趨勢或圖形。 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 直接用估計 σ 值來評價過程能力， 式中的 R表示極差的均值 過程能力指數(shù)計算同上 控制圖mRX ?2/Rd第六章 計數(shù)型控制圖 P不良率控制圖 np不良數(shù)控制圖 c缺點數(shù)控制圖 u單位缺點數(shù)控制圖 不良和缺陷的說明 結果舉例 控制圖 車輛不泄漏／泄漏 P圖 NP圖 燈亮／不亮 孔的直徑尺寸太小或太大 給銷售商發(fā)的貨正確／不正確 風窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門上油漆缺陷 發(fā)票上的錯誤 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 A1子組容量、頻率、數(shù)量 子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太 多 也會有不利之處。 Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率 B2計算上、下控制限 B3畫線并標注 建立 p控制圖的步驟 B npppL C LnpppU C LndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3. . . .. . . . . . . . . .. . . .2121212211????????????????????????中心線計算平均不合格率及控制限 畫線并標注 均值用水平實線線：一般為黑色或藍色實線。 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時期。樣本容量應足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 p圖和 np圖適用的基本情況相同，當滿足下列情況可選用 np圖 ? 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。然 后 糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生?？v坐標刻度應從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。連續(xù)移動極差間是有聯(lián) 系的，因為它們至少有一點是共同的。 A收集數(shù)據(jù) ? 收集各組數(shù)據(jù) ? 計算單值間的移動極差。此時所計算得到的 CL、 UCL、 LCL必須作為控制基準延長使用。 CP、 CPK兩者小于 1，說明過程能力不足，兩者沒有差異，說明改進過程時，主要改進的方面是設法降低過程的波動 PP、 PPK兩者等于 CP、 CPK，說明過程能力非常接近過程固有的能力，過程不存在組間差異的特殊原因，應從尋找隨機因素入手提高過程能力 練習： 另外要注意是進行上述之前，先應該驗證過程是穩(wěn)定的，還應驗證過程是正態(tài)分布，才能進行過程能力計算。 , , 5x R n? ? ?過程能力指數(shù) CPK的計算 207 208 209 210 211 212 213 214 215 LSL USL μ 首先計算標準差 σ 的估計值，在 n=5時： 這個實際過程指數(shù) CPK=，顯得嚴重不足。 過程能力指數(shù)：是指過程能力與過程目標相比較的定量描述的數(shù)值。 UCL CL LCL C B A C B A 控制圖的判讀 準則 8 連續(xù) 8點在中心線兩側(cè)，但無一在 c區(qū)內(nèi)，造成這種現(xiàn)象的主要原因可能是出現(xiàn)了雙峰。 R圖，刻度值應從最低值為 0開始到最大值之間為初始階段所遇到的最大極差的 2倍。 對于 “ 2” 類過程，雖然受控但由于普通原因?qū)е逻^程變差過大，因此須采取系統(tǒng)改善措施來降低普通原因引起變差。 過程 波動原因 的構成 波動原因 人 機器 材料 方法 測量 環(huán)境 普通原因和特殊原因 ? 普通原因： 指的是造成隨著時間推移具有穩(wěn)定的且可重復的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為： “ 處于統(tǒng)計控制狀態(tài) ” 、“ 受統(tǒng)計控制 ” ，或有時簡稱 “ 受控 ” ，普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 時間 質(zhì)量特性 制程的變化 如何確定子組 —— 正確例子 讓組內(nèi)變化 只有 普通原 因 讓組間變 化只有 特殊原 因 組內(nèi)變異 小 組間變異 大 如何確定子組 —— 錯誤例子 如此的取樣方式會造成無法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異，造成控制界限變寬，無法有效偵測制造變異。 3σ % 177。 % % μ177。 計量型 控制圖 優(yōu)缺點 ? 優(yōu)點 : ＊ 只在生產(chǎn)完成后 ,才抽取樣本 ,所需數(shù)據(jù)能以簡單方法獲得之 . ＊ 對于工廠整個品質(zhì)情況了解非常方便。 就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國為早。 如：一段時間內(nèi)電話用戶對電話站的呼叫次數(shù) 鑄件上的疵點數(shù) 候車的旅客數(shù) 原子放射粒子數(shù)等 總結 連續(xù)型數(shù)據(jù)能有很多可能的數(shù)值，計數(shù)型數(shù)據(jù)是不連續(xù)的 連續(xù)型數(shù)據(jù)的信息比較豐富，計數(shù)型的就要少得多 對位置的測量是平均值和中位數(shù) 對離散的測量：標準偏差和極差 圖表出來的信息會多于數(shù)據(jù) 正態(tài)曲線可用來估計 缺陷 的風險 第二章 持續(xù)改進和統(tǒng)計過程控制 什么是 SPC SPC是發(fā)展 控制圖的種類 控制圖的選擇 中央極限定理 “ α ” 及 “ β ” 風險 抽樣方法 普通原因和特殊原因 WHAT IS SPC ？ SPC是一種方法論。 這些數(shù)據(jù)點的堆積可以不同的圖形來代表： ? 散點圖 /概率圖 ? 直方圖 常用統(tǒng)計量 中心位置 平均值 ? 一組數(shù)據(jù)的算術平均值數(shù)法 均等 反映了所有數(shù)據(jù) 的 影響 會受極端 值 強烈影響 中位數(shù) ? 反映 50%的那個位置 ? 對一組排序數(shù)據(jù)點的中心數(shù) ? 對極端值較 ” 堅耐 ” nXninx??? 1X~常用統(tǒng)計量 變異 極差 : ? 一組數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差 標準偏差 (s 。 二項分布 例：從一批產(chǎn)品中隨機抽取進行檢測，根據(jù)歷史數(shù)據(jù)而知，產(chǎn)品的不合格率為 10%。 Shewhart : 控制圖 之創(chuàng)始人 控制圖是 1924年由美國品管大師. Shewhart博士發(fā)明。 產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點 產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點是現(xiàn)代質(zhì)量管理的基本觀點之一： 產(chǎn)品的質(zhì)量具有變異性 產(chǎn)品質(zhì)量的變異性具有統(tǒng)計規(guī)律性 （不是通常的確定性現(xiàn)象的確定性規(guī)律，而是隨機現(xiàn)象的統(tǒng)計規(guī)律） SPC的 精神 識別關鍵特性 多收集數(shù)據(jù) 以了解制程 狀況 分析特性 了解其正常 波動的范圍 控制 特性 運用控制限 來 探測過 程 是否異常 改進特性 不斷改進過 程的波動范 圍降低 COPQ SPCSQC PROCESS 原料 測量 結果 針對產(chǎn)品所做的是在做 SQC 針對過程的重要控制參數(shù)所做的才是 SPC 針對原料所做的 控制也可屬 SPC SPC用在那里？ PROCESS OUTPUT INPUT 消極的地方 只能防堵 積極的地方 可防止不良 積極的地方 可防止不良 控制圖種類 (依用途 ) 分 析用控制圖 ? 過 程 分 析用 ? 過 程能力研究用 ? 過 程 控 制準備用 分 析用 穩(wěn)定 /可接收 控制用 控 制用控制