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spc統(tǒng)計(jì)過程控制(ppt202頁(yè))-文庫(kù)吧在線文庫(kù)

  

【正文】 析中發(fā)現(xiàn)影響過程的 變異 ,通過問題分析找出 異常原因 ,立即采取 改善措施 ,使過程恢復(fù)正常。 s) : ? 等于方差的平方根,在量化變異時(shí)常用會(huì)到 1n)X(Xn1i2i?????sm inm a x??R a n g e方差等于標(biāo)準(zhǔn)偏差的平方,通常只是為了計(jì)算的目的 常用統(tǒng)計(jì)量 總體與樣本 表示總體特性的統(tǒng)計(jì)量,稱為總體特征值,如: 總體平均數(shù)、總體方差、總體標(biāo)準(zhǔn)差 表示樣本特性的統(tǒng)計(jì)量,稱為樣本統(tǒng)計(jì)量,如: 樣本平均數(shù)、樣本方差、樣本標(biāo)準(zhǔn)差、樣本極差、移動(dòng)極差 總體特征值 樣本統(tǒng)計(jì)量 名稱 符號(hào) 名稱 符號(hào) 分布中心位置 總體均值 181。 身高介于 160180cm的概率。 當(dāng)過程能力不足時(shí),不能指出為什幺不足。 美國(guó)著名質(zhì)量管理專家伯格 (Roger W. Berger)教授指出,日本成功的基石之一就是 SPC。 % % μ177。 發(fā)生第二種錯(cuò)誤時(shí) 漏發(fā)警報(bào) , 過程已經(jīng)處于不穩(wěn)定狀態(tài) , 但并未采取相應(yīng)的措施 , 從而不合格品增加 , 也造成損失 。 3σ 50% 177。 每天只 抽 一組來 代表,是否能代 表制程呢? 每天如果 抽 三組 的樣本是否更能 代表制程? 如何確定抽 樣頻率 如何確定抽 樣頻率 抽樣頻率必須考慮以下方面: ? 過程歷史狀況 經(jīng)常發(fā)生失控,就需要更頻繁的抽樣; 若班別切換會(huì)導(dǎo)致變更,則每班必須抽到; ? 發(fā)生失控時(shí),對(duì)質(zhì)量的影響程度 ? 抽樣的容易程度 ? 抽樣和測(cè)量樣本的費(fèi)用 通常在量產(chǎn)時(shí),抽樣頻次為每班或每天 12次。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因,隨時(shí)間的推移,過程的輸出將不穩(wěn)定。計(jì)數(shù) (np,p, c, u) 187??赡艿脑颍? 新工人、原材料、機(jī)器、工藝; 檢驗(yàn)方法、標(biāo)準(zhǔn)改變; 操作者的技能、意識(shí)變化等 UCL CL LCL 控制圖的判讀 準(zhǔn)則 3 連續(xù) 6點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 控制圖 不穩(wěn)定 的 分析 當(dāng)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定,并尋找到特殊原因后,設(shè)法予以消除,然后剔除這些異常點(diǎn)的數(shù)據(jù),再利用剩下來的數(shù)據(jù)(若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當(dāng)數(shù)據(jù)),重新計(jì)算控制界限,重新判讀直至穩(wěn)定。 Cp≥ Ⅳ 過程能力不足 , 表示技術(shù)管理能力已很差 , 應(yīng)采取措施立即改善 。其長(zhǎng)期標(biāo)準(zhǔn)差 σ=。 取樣樣本數(shù): 10組共 50個(gè)樣 取樣樣本數(shù): 25組至少 100個(gè)樣 取樣樣本數(shù): 100組以上至少500個(gè)樣 要求: Cmk 短期能力 制程穩(wěn)定時(shí)可用 Cpk 制程不穩(wěn)定時(shí)用 Ppk 長(zhǎng)期能力 制程穩(wěn)定時(shí)可用 Cpk 制程不穩(wěn)定時(shí)用 Ppk 目的:先行了解機(jī)器能力是否能保證滿足規(guī)格要求,如果機(jī)器能力不能保證,后續(xù)的原料、人員變化就不能保證了。 每個(gè)子組內(nèi)的變差主要是普通原因造成的 以上的 4個(gè)條件不能滿足時(shí),控制圖可能不會(huì) 有效地區(qū)分特殊原因的變差,可能會(huì)出一個(gè)或 多個(gè)點(diǎn)超出控制限 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 記錄保存 在選擇子組與子組數(shù)的大小時(shí),應(yīng)遵循以下原 則: 子組的容量應(yīng)保持恒定 子組數(shù)據(jù)在 25組或以上 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 記錄保存 在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間收集足夠的子組( 25組或以上) 這樣的子組才能反應(yīng)潛在的變化,在過程的 初始階段,通常是在較短的時(shí)間間隔內(nèi)收集 樣本(如每半小時(shí))子組抽樣的頻率有以下幾 種,但不限于: 每 15分鐘抽樣一次 每 30分鐘抽樣一次 每小時(shí)抽樣一次 每 2小時(shí)抽樣一次 每 3小時(shí)抽樣一次 每 4小時(shí)抽樣一次 一天一次(較為少見) 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 記錄保存 控制圖sX ?554321 xxxxxx ?????SBL C LSBU C LSCLSAXL C LSAXU C LXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差控制圖平均值控制圖子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 過程能力分析 同 XR圖解釋 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 過程能力分析 過程能力指數(shù)計(jì)算同上 控制圖sX ?4?cs??控制圖mRX ?單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XR圖敏感。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn),在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布,以趨勢(shì)或圖形。 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計(jì)算控制界限 判圖 過程能力分析 直接用估計(jì) σ 值來評(píng)價(jià)過程能力, 式中的 R表示極差的均值 過程能力指數(shù)計(jì)算同上 控制圖mRX ?2/Rd第六章 計(jì)數(shù)型控制圖 P不良率控制圖 np不良數(shù)控制圖 c缺點(diǎn)數(shù)控制圖 u單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖 不良和缺陷的說明 結(jié)果舉例 控制圖 車輛不泄漏/泄漏 P圖 NP圖 燈亮/不亮 孔的直徑尺寸太小或太大 給銷售商發(fā)的貨正確/不正確 風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門上油漆缺陷 發(fā)票上的錯(cuò)誤 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 p圖的步驟 A A階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 A1子組容量、頻率、數(shù)量 子組容量:用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化,一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品,但樣本數(shù)如果太 多 也會(huì)有不利之處。 B計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B npppL C LnpppU C LndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3. . . .. . . . . . . . . .. . . .2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 畫線并標(biāo)注 均值用水平實(shí)線線:一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗(yàn)的控制限內(nèi),則可將控制限延伸到將來的時(shí)期。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 p圖和 np圖適用的基本情況相同,當(dāng)滿足下列情況可選用 np圖 ? 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。然 后 糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。縱坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。連續(xù)移動(dòng)極差間是有聯(lián) 系的,因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。 A收集數(shù)據(jù) ? 收集各組數(shù)據(jù) ? 計(jì)算單值間的移動(dòng)極差。此時(shí)所計(jì)算得到的 CL、 UCL、 LCL必須作為控制基準(zhǔn)延長(zhǎng)使用。 CP、 CPK兩者小于 1,說明過程能力不足,兩者沒有差異,說明改進(jìn)過程時(shí),主要改進(jìn)的方面是設(shè)法降低過程的波動(dòng) PP、 PPK兩者等于 CP、 CPK,說明過程能力非常接近過程固有的能力,過程不存在組間差異的特殊原因,應(yīng)從尋找隨機(jī)因素入手提高過程能力 練習(xí): 另外要注意是進(jìn)行上述之前,先應(yīng)該驗(yàn)證過程是穩(wěn)定的,還應(yīng)驗(yàn)證過程是正態(tài)分布,才能進(jìn)行過程能力計(jì)算。 , , 5x R n? ? ?過程能力指數(shù) CPK的計(jì)算 207 208 209 210 211 212 213 214 215 LSL USL μ 首先計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差 σ 的估計(jì)值,在 n=5時(shí): 這個(gè)實(shí)際過程指數(shù) CPK=,顯得嚴(yán)重不足。 過程能力指數(shù):是指過程能力與過程目標(biāo)相比較的定量描述的數(shù)值。 UCL CL LCL C B A C B A 控制圖的判讀 準(zhǔn)則 8 連續(xù) 8點(diǎn)在中心線兩側(cè),但無一在 c區(qū)內(nèi),造成這種現(xiàn)象的主要原因可能是出現(xiàn)了雙峰。 R圖,刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間為初始階段所遇到的最大極差的 2倍。 對(duì)于 “ 2” 類過程,雖然受控但由于普通原因?qū)е逻^程變差過大,因此須采取系統(tǒng)改善措施來降低普通原因引起變差。 過程 波動(dòng)原因 的構(gòu)成 波動(dòng)原因 人 機(jī)器 材料 方法 測(cè)量 環(huán)境 普通原因和特殊原因 ? 普通原因: 指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因,我們稱之為: “ 處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ” 、“ 受統(tǒng)計(jì)控制 ” ,或有時(shí)簡(jiǎn)稱 “ 受控 ” ,普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 時(shí)間 質(zhì)量特性 制程的變化 如何確定子組 —— 正確例子 讓組內(nèi)變化 只有 普通原 因 讓組間變 化只有 特殊原 因 組內(nèi)變異 小 組間變異 大 如何確定子組 —— 錯(cuò)誤例子 如此的取樣方式會(huì)造成無法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異,造成控制界限變寬,無法有效偵測(cè)制造變異。 3σ % 177。 % % μ177。 計(jì)量型 控制圖 優(yōu)缺點(diǎn) ? 優(yōu)點(diǎn) : * 只在生產(chǎn)完成后 ,才抽取樣本 ,所需數(shù)據(jù)能以簡(jiǎn)單方法獲得之 . * 對(duì)于工廠整個(gè)品質(zhì)情況了解非常方便。 就控制圖在工廠中實(shí)施來說,英國(guó)比美國(guó)為早。 如:一段時(shí)間內(nèi)電話用戶對(duì)電話站的呼叫次數(shù) 鑄件上的疵點(diǎn)數(shù) 候車的旅客數(shù) 原子放射粒子數(shù)等 總結(jié) 連續(xù)型數(shù)據(jù)能有很多可能的數(shù)值,計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)是不連續(xù)的 連續(xù)型數(shù)據(jù)的信息比較豐富,計(jì)數(shù)型的就要少得多 對(duì)位置的測(cè)量是平均值和中位數(shù) 對(duì)離散的測(cè)量:標(biāo)準(zhǔn)偏差和極差 圖表出來的信息會(huì)多于數(shù)據(jù) 正態(tài)曲線可用來估計(jì) 缺陷 的風(fēng)險(xiǎn) 第二章 持續(xù)改進(jìn)和統(tǒng)計(jì)過程控制 什么是 SPC SPC是發(fā)展 控制圖的種類 控制圖的選擇 中央極限定理 “ α ” 及 “ β ” 風(fēng)險(xiǎn) 抽樣方法 普通原因和特殊原因 WHAT IS SPC ? SPC是一種方法論。 這些數(shù)據(jù)點(diǎn)的堆積可以不同的圖形來代表: ? 散點(diǎn)圖 /概率圖 ? 直方圖 常用統(tǒng)計(jì)量 中心位置 平均值 ? 一組數(shù)據(jù)的算術(shù)平均值數(shù)法 均等 反映了所有數(shù)據(jù) 的 影響 會(huì)受極端 值 強(qiáng)烈影響 中位數(shù) ? 反映 50%的那個(gè)位置 ? 對(duì)一組排序數(shù)據(jù)點(diǎn)的中心數(shù) ? 對(duì)極端值較 ” 堅(jiān)耐 ” nXninx??? 1X~常用統(tǒng)計(jì)量 變異 極差 : ? 一組數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差 標(biāo)準(zhǔn)偏差 (s 。 二項(xiàng)分布 例:從一批產(chǎn)品中隨機(jī)抽取進(jìn)行檢測(cè),根據(jù)歷史數(shù)據(jù)而知,產(chǎn)品的不合格率為 10%。 Shewhart : 控制圖 之創(chuàng)始人 控制圖是 1924年由美國(guó)品管大師. Shewhart博士發(fā)明。 產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn) 產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn)是現(xiàn)代質(zhì)量管理的基本觀點(diǎn)之一: 產(chǎn)品的質(zhì)量具有變異性 產(chǎn)品質(zhì)量的變異性具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性 (不是通常的確定性現(xiàn)象的確定性規(guī)律,而是隨機(jī)現(xiàn)象的統(tǒng)計(jì)規(guī)律) SPC的 精神 識(shí)別關(guān)鍵特性 多收集數(shù)據(jù) 以了解制程 狀況 分析特性 了解其正常 波動(dòng)的范圍 控制 特性 運(yùn)用控制限 來 探測(cè)過 程 是否異常 改進(jìn)特性 不斷改進(jìn)過 程的波動(dòng)范 圍降低 COPQ SPCSQC PROCESS 原料 測(cè)量 結(jié)果 針對(duì)產(chǎn)品所做的是在做 SQC 針對(duì)過程的重要控制參數(shù)所做的才是 SPC 針對(duì)原料所做的 控制也可屬 SPC SPC用在那里? PROCESS OUTPUT INPUT 消極的地方 只能防堵 積極的地方 可防止不良 積極的地方 可防止不良 控制圖種類 (依用途 ) 分 析用控制圖 ? 過 程 分 析用 ? 過 程能力研究用 ? 過 程 控 制準(zhǔn)備用 分 析用 穩(wěn)定 /可接收 控制用 控 制用控制
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