【正文】 3 5 2立件 16 20短路 12 20 8偏移 2 2少錫 1多膠其他 20 5 3 215 91 30 8 0 0 10 4 8 0 0 0118 366 117 65 0 0 71 29 56 0 0 0註 : 紅膠板管制界線為 1 0 0 P P M 。 2. 及時(shí)並 正確地找出事幫發(fā)生之真正原因 ﹐使品質(zhì)穩(wěn)定。 。 : 規(guī)格中心值 單邊規(guī)格 :只有規(guī)格上限或規(guī)格下限 雙邊規(guī)格 :既有規(guī)格上限又有規(guī)格下限 注意 :因爲(wèi) 單邊 規(guī)格 無規(guī)格中心值 ,所以不能計(jì)算 Ca值 ,Ca值應(yīng)用在雙邊規(guī)格的準(zhǔn)確度分析。 2. SPC 定義 ： SP C: Statist ic al Process Control 運(yùn)用 概率論 與 數(shù)量統(tǒng)計(jì) 的原理和方法，利用管制圖表對(duì)制程狀態(tài)進(jìn)行分析，預(yù)測(cè) , 判定 , 監(jiān)控和改進(jìn) , 保證制程處於受控狀態(tài)，穩(wěn)定持續(xù)的生產(chǎn)出良品，預(yù)防不良品產(chǎn)生 . 經(jīng)由制程中去收集資料，而加以統(tǒng)計(jì)分析，從分析中得以管制制程是否穩(wěn)定。Ca0,表示實(shí)際平均值 X規(guī)格中心值 181。 : 夜班 Xbar 177。 2. 對(duì)工廠 整個(gè)品質(zhì)情況 瞭解非常方便。T Y )光圈 ( i n d e x )按鍵 ( s w i t c h )彈簧 ( s p r i n g )滾輪 ( s c r o l l )軸承 ( b e a r i n g )PCBACABLE上蓋 ( U p c a s e )下蓋 ( b o t t o m c a s e )球體 ( b a l l )畫圓不良（d r a w c i r c l e N G )其它（other)調(diào)I R ( a d j u s t I R ) 調(diào)整率 1. 此表格必需確實(shí)填寫 , 一但發(fā)現(xiàn)填寫不確實(shí) , 依據(jù) 車間管理獎(jiǎng)懲辦法 處罰 . 2 . 測(cè)試員測(cè)試到不良品要拆螺絲維修前 , 先在直通不良數(shù)欄位填寫數(shù)量 , 以 正 字代表 5 個(gè) . 3 . 維修好確定不良原因后 , 在不良數(shù)量欄位依據(jù)不良原因填寫數(shù)量 , 以 正 字代表 5 個(gè) . 4 . 此份表格每日一張 , 若更換機(jī)種 , 則換新的一張?zhí)顚?, 並于下班后交由領(lǐng)班統(tǒng)計(jì) , 此份表格經(jīng)統(tǒng)計(jì)后 , 填寫于 功能測(cè)試不良統(tǒng)計(jì)周匯總表 中. 5 . 若有不懂處 , 可請(qǐng)教領(lǐng)班 .核準(zhǔn) / A p p r o v e d b y : 審核 / R e v i e w e d b y : 制表 / P r e p a r e d b y : □日 班 /day 組立 /assembly packing 線 (Line) 機(jī)種 ( M o d e l ) : □夜 班 /night 組立 /assembly packing 線 (Line) 日期 ( D a t e ) : 年 月 日不良原因 ( d e f e c tc a u s e )不 良 數(shù) 量( d e f e c t Q 39。 (三 ).管制圖建立的步驟 Xbar﹐R 9. 管制界限的修訂 Xbbar﹐R (四 ).管制圖的分析與判讀 1)所有樣本點(diǎn)都在控制界限內(nèi) 2)樣品點(diǎn)均勻分佈 ,位於中心線兩側(cè)的樣品點(diǎn)約各占 1/2 3)靠近中心線的樣品點(diǎn)約占 2/3 4)靠近控制界限的樣品點(diǎn)極少 1)有 7個(gè)或 7個(gè)以上樣品點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線的一側(cè) 2)連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降 3)有較多的邊界點(diǎn) 4)樣本點(diǎn)的周期性變化 (五 ).計(jì)量值管制圖 1）收集資料 ? 子組大小：一般爲(wèi) 45個(gè)資料 ? 子組頻率： 12小時(shí)收集一次資料 ? 子組數(shù)的大?。捍箪兜褥?25組資料 2）計(jì)算平均值，極差，管制上下限及中心線 X1+X2+X3+…+Xn 平均值 Xbar = n 全 距 R = X最大值 X最小值 R1 + R2 + R3 + … + RK 平均全距 Rbar = k Xbar1 + Xbar2 + Xbar3 + … + Xbark 過程均值 Xbbar = k 管制上限 UCLX = Xbbar+A2Rbar UCLR = D4*Rbar 中心線線 CLX = Xbbar CLR = Rbar 管制下限 LCLX =XbbarA2Rbar LCLR = D3*Rbar 3）描點(diǎn)，分析 2 1 . 8 8 0 3 . 2 6 7 1 . 1 2 83 1 . 0 2 3 2 . 5 7 5 1 . 6 9 34 0 . 7 2 9 2 . 2 8 2 2 . 0 5 95 0 . 5 7 7 2 . 1 1 4 2 . 3 2 66 0 . 4 8 5 2 . 0 0 4 2 . 5 3 4N A 2 D 4 D 2 (六 ).計(jì)數(shù)值管制圖 1不良率 P管制圖 1）産品無法直接測(cè)定其特性時(shí)，可以分別其良品數(shù)與不良品數(shù)，並以不良率表示其品質(zhì)，如 ICT測(cè)試功能 OK與功能不良， 終檢處出錫 OK與出錫不良 2）資料的建立 3）平均不良率，管制上下限的計(jì)算 不良品數(shù)總和 平均不良率 Pa = 檢驗(yàn)數(shù)總和 管制上限 UCL = Pa+3* (Pa*(1Pa))/n 管制下限 LCL = Pa3* (Pa*(1Pa))/n 注： n表示樣本數(shù) ：當(dāng)樣本數(shù)相等時(shí)， n爲(wèi)它本身 。 USL Xbar Xbar LSL CpK = C p(1 |Ca|) 或 Cp