基本spc統(tǒng)計學(xué)培訓(xùn)-文庫吧在線文庫
【正文】 進行：一個實例（二）步驟 1：選擇質(zhì)量特性 螺栓的切斷長度至關(guān)重要步驟 2：按合理的計劃來搜集數(shù)據(jù) 每小時抽取 5個產(chǎn)品作為一個樣本。n 當(dāng)樣本容量 n足夠大時 ,例如 , 該分布趨向于正態(tài)分布適用于全檢零件或每個時期的檢驗樣本含量不同。設(shè) n為樣本大小， C為缺陷數(shù)，則單位缺陷數(shù)為： u=c/n案例分析現(xiàn)需要對一注塑產(chǎn)品的缺陷進行控制圖分析，收集的數(shù)據(jù)記錄如下表：控制限的計算在實際應(yīng)用中 ,當(dāng)各組容量與其平均值相差不超過正負(fù)25%時 ,可用平均樣本容量 ( )來計算控制限 .繪制控制圖，并進行分析案例分析其他的控制圖167。 如果缺陷數(shù)較小，可將幾個樣本合為一個， 使每組缺陷數(shù) C=0的情況盡量減少，否則用來作控制圖不適宜；216。警戒區(qū)： 控制圖的應(yīng)用程序過程能力研究圣任科技有限公司 內(nèi)容提要過程能力的基本概念Cp、 Cpk與 Pp、 Ppk的含義與區(qū)別Cp、 Cpk與 Pp、 Ppk的計算方法如何運用過程能力指數(shù)進行管理過程能力的概念過 程 能 力 指 處 于 統(tǒng)計穩(wěn) 態(tài) 下 的 過 程 的 加 工 能 力，是過程內(nèi)部本身的性能，不考慮規(guī)范對過程分布寬度是如何規(guī)定的。 當(dāng) Cpk指數(shù)值開始到達 工作可以減少，減少我們對運作審查成本。為什么？進一步考慮： 不同工人使用不同工廠提供的汽缸墊綜合分層結(jié) 論使用甲廠提供的汽缸墊時，要采用 B工人的操作方法；使用乙廠提供的汽缸墊時，要采用 A工人的操作方法。 兩個變量之間可能存在以下主要幾種分布情況：一元回歸分析 表示 : 因素 y對因素 x的回歸直線其中 a表示為常數(shù)， b表示回歸系數(shù) 一元回歸常用于分析與預(yù)測SPC知識回顧SPC的三大基本概念：216。 材料 /物料：良好設(shè)計、采購、運輸216。最有效的是從輸入、過程或系統(tǒng)本身去改善。216。如將數(shù)據(jù)分層之后再進行加工整理成分層排列圖、分層直方圖、分層控制圖等。過程能力記為 B，則 B= 6 σ過 程 Sigma估計 Sigma計算 SigmaCp、 Cpk與 Pp、 Ppk的含義與區(qū)別Cp指數(shù) =Cp:(Capability of Process)過程 能力 指數(shù)Cpk:修正的過程能力指數(shù)規(guī)格寬度工序?qū)挾冗^程能力指數(shù)過程平均值和規(guī)格中心的偏移過程能力指數(shù) Cpm當(dāng)規(guī)格中心與目標(biāo)值不重合時的過程能力指數(shù)過程平均值和目標(biāo)值的偏移Cp,Cpk,CpmPp,Ppk,PpmPpk與 CpknPp: (Performance of Process)過程 性能 指數(shù)Ppk:修正的過程性能指數(shù)案例分析我們再來看前面的作控制圖的案例：案例分析過程有一個異常點，是由于偶然因素造成，調(diào)查表明是該檢驗員當(dāng)時委托他人代為測量，而這代理人不適于操作精密測量設(shè)備，可能讀數(shù)不準(zhǔn)確，也有可能偽造了數(shù)據(jù)。重新計算控制限2. 使用一段時間后檢驗控制圖還是否適用，控制限是否過寬或過窄，否則需要重新收集數(shù)據(jù)計算控制限；3. 過程能力值有大的變化時，需要重新收集數(shù)據(jù)計算控制限。9？np或 p圖 p圖C或 U圖 U圖是 否是是是是是否否否否否關(guān)心的是單位零件缺陷數(shù)嗎？是選擇合適的控制圖運用控制圖進行 “控制 ”圣任科技有限公司 內(nèi)容提要控制圖應(yīng)用的兩個階段運用控制圖判斷過程受控 /失控什么時候重新計算控制限使用控制圖應(yīng)注意的問題分析階段控制階段控制圖應(yīng)用的二個階段分析階段在控制圖的設(shè)計階段使用 ,主要用以確定合理的控制界限每一張控制圖上的控制界限都是由該圖上的數(shù)據(jù)計算出來從分析階段轉(zhuǎn)入控制階段在什么條件下分析階段確定的控制限可以轉(zhuǎn)入控制階段使用：n 控制圖是受控的n 過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求控制階段控制圖的控制界限由分析階段確定控制圖上的控制界限與該圖中的數(shù)據(jù)無必然聯(lián)系使用時只需把采集到的樣本數(shù)據(jù)或統(tǒng)計量在圖上打點就行（ 1）所有樣本點都在控制界限之內(nèi)；（ 2）樣本點均勻分布，位于中心線兩側(cè)的樣本點約各占 1/2；（ 3）靠近中心線的樣本點約占 2/3；（ 4）靠近控制界限的樣本點極少。 收集數(shù)據(jù) Pn1， Pn2, Pn3 , ……, Pnk ,k為樣本數(shù)167。 適合用于對單位樣本數(shù)量（如面積、容積、長度、時間等）上缺陷數(shù)進行控制的場合；? 通常服從
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