決策分析研究-文庫吧在線文庫
【正文】 分析 WAT參數(shù)對該參數(shù)的影響 找出異常量測參數(shù) 找出與異常參數(shù)相關的製程 例：某一期間生產(chǎn)之 lots Bin map周圍 failure較多 從相關製程中找出問題機臺 FMEA 半導體製程資料挖礦研究架構 （簡禎富、蔡承勳， 2023） 晶圓圖分析 決策分析研究室 研究問題 ： 晶圓圖分類 （簡禎富、林鼎浩、劉巧雯、彭誠湧、徐紹鐘、黃佳琪，2023） ? 背景與動機 ? 晶圓 CP測試階段產(chǎn)生晶圓圖（ Wafer Bin Map） ? 晶圓圖出現(xiàn)特殊的樣型（ Pattern） ? 目前半導體廠對於晶圓圖檢測的方法 ? 目的 ? 發(fā)展晶圓圖分類的方法和運算法則 ? 紀錄其共同故障表徵（ Common Fail Pattern），以建立系統(tǒng)化分類的晶圓圖庫 ? 縮短工程師故障排除（ Trouble Shooting） 的範圍與決策分析所需的時間 決策分析研究室 目前的分析方法 必須 有經(jīng)驗的 工程師用目測及主觀判斷來進行分類 甲群 乙群 還有一大堆 人工分群 目測法 A群 C群 甲工程師 乙工程師 B 群 決策分析研究室 結合空間統(tǒng)計方法、類神經(jīng)路網(wǎng)路，進行晶圓圖分群、比對、再分類（ Chien and Liu, 2023）。碩士論文獎 ? 吳吉政 (2023)，「半導體元件測試排程模式之研究」榮獲中國工業(yè)工程學會 90年度研究生專題論文競賽第一名。 問題定義 決定目標變數(shù)為LPST1_P95 建構決策樹 輸入變數(shù)間之 相關性分析 變數(shù)間是否有高相關性 完成建構 一系列決策樹 結果比較與分析 選擇拒絕 的變數(shù) 決策分析研究室 決策樹 n = 5,000 10% Gold n = 3,350 n = 1,650 Factor i v yes no 21% Gold 5% Gold 決策分析研究室 半導體製程資料挖礦架構 問題定義與架構P r o b l e mD e f i n iti o n資料準備D at aP r e p a r a t i on建立挖礦模式M o d e li n g結果解釋與評估E va l u at i o nWA T 與製程相關資料V al i d at i o nI n f e r e n c eI n d u c t i o nR e s t r u c t u r eD e d u c t i o nA ss u m p t i on決策分析研究室 決策樹分析 （ 王鴻儒、簡禎富、李培瑞， 2023） 決策分析研究室 Outa g e o fin d o o r ty p eswitc hOuta g e o fP a dM o u n tedswitc hOuta g e o fu n d e r g r o u n dv a cuumswitc hOuta g e o fu n d e r g r o u n df e ede r f u seswitc hOuta g e o fC able Jo intOuta g e a tB u s o r B u sJo intC ableo u tag eOuta g e o fswitc h b o xcr eak ed ord i sto r tedOuta g e o fd ry ty p etr a n s f o r m erOuta g e o fu n d e r g r o u n dtr a n s f o r m erOuta g e o fo i l ty p etr a n s f o r m erB u r n d o wnty p e o fo u tag eca u se d b yf a u lt c u rren tOil le aka g eB r aek d o w no u tag eca u se d b yen g in eer ingwor kDr o p o u t o rill yco n n ecte dB lack o u t ar eal l lo w v o lta g ecu sto m e r ssi ted in aco n ce n tr ate dar eaB u r n d o wnty p e o fo u tag eca u se d b yo v er l o adcu r r e n tAr c,F l ash o v e r ,o r S h o r t ci r cu ited tog rou n dI n su l atio nB r eak d o w no r F a ilurewith lea k ag ecu r r e n tC r ack ed o rd i sto r tedB u r n w i thf la m eF a ilu r eca u se d b ylig h tn ingI m m e r se dwith w at erF i r eNatu r ald e g r a d at ionR ainC o lli d ed b yo u tsi d eo b jec tC o n t acte db y wor k ingd e v ic eT ra f fi cac cid entI n ten siv etr o u b le c all sOverloadFi g . 7 B ay es ian Ne tw o r k o f u n d er g r o u n d d is trib u tion f eed er sInpu tEvi d e n c eH ypot h e s isO ut p utEquipm entUsing Bayesian Network for Fault Location on Distribution Feeder 決策分析研究室 Projected: Actual: Dreaded: Needed: Data Preparation Data Analysis
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