【正文】 例如 ,根據(jù)經(jīng)驗 /接受抽樣樣本的品質(zhì)去推斷應(yīng)否接受或拒收整批貨物 .統(tǒng)計學(xué)中利用變異 (variation)的概念衡量產(chǎn)品或過程抽樣分布圍繞著平均值波動及在可接受的范圍以內(nèi)或以外波動的趨勢 .變異可能是隨機(random)(由于偶然因素造成 )或非隨機的 (assignable)(由于機械 ,方法 ,物料與 /或人事引起 ).統(tǒng)計學(xué)有助我們分辨隨機與非隨機因素 . 什么是統(tǒng)計過程控制 (SPC)過程 (process)是指生產(chǎn)產(chǎn)品 /服務(wù)的一系列行動或操作 ,也指支持產(chǎn)品 /服務(wù)的過程如管理 ,財務(wù) ,采購與工藝 .控制 (control)的意思是通過過程控制成功地控制產(chǎn)品服務(wù) .控制是指通過經(jīng)預(yù)先設(shè)計的實驗及采用統(tǒng)計技巧成功地 : 1)過程進行控制 。積極思維（杜絕 “魚眼 ”現(xiàn)象）。? 就控制 圖 在工 廠 中 實施來說 ， 英國 比美 國為 早。167。 第二是可查明原因的間斷波動稱為異常波動 . 控制圖的構(gòu)成+3s1 2 3 4 5 6 7 8 9 1018171615141312111098765 3s Average點落在該區(qū)間的概率為 %控制圖的構(gòu)成 :1. Data Points 3. Upper Control Limit2. Center Line 4. Lower Control Limit%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σ正 態(tài)分布的概率μ177。 ★ 1984年名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查 115家日本各行各業(yè)的中小型工廠，平均每家采用 137張控制圖；★ 柯達 5000職工一共用了 35000張控制圖。何時使用 SPC基本統(tǒng)計術(shù)語總體 樣本總體 簡單 而言 ，我們有興趣知道的數(shù)據(jù)整體 ,如 1000臺燃具樣本 一組只包含部份總體的數(shù)據(jù)。 ■ 可應(yīng)用于定性數(shù)據(jù)。? 中心極限定理： 無論隨機變量的共同分布是什么（離散分布或連續(xù)分布，正態(tài)分布或非正態(tài)分布），只要獨立統(tǒng)分布隨機變量的個數(shù) n較大時， 的分布總是正態(tài)分布。168。? 使用時只需把采集到的樣本數(shù)據(jù)或統(tǒng)計量在圖上打點就行 。請注意：在繪制控制限時，控制限（ UCL和 LCL之間）的距離不應(yīng)太大，也不應(yīng)太小。計量值控制圖167。 控制計劃有規(guī)定的控制項目 。 5) 剔除異常點。b. 小于 2/3的點集中于中間的 1/3區(qū)域 , 可能原因為不同平均來源的混合批為一組 . R圖判定規(guī)則X圖判定規(guī)則Rule1: X圖有點超出或低于控制界限 , 其可能的原因如下 :a. 數(shù)據(jù)錄入錯誤 。7) 重新計算控制界限。 6為了減少不必要的變異來源 , 要進行合理的分組 . 計數(shù)值控制圖課程目的：掌握四種計數(shù)值控制圖的制作與應(yīng)用。不合格品數(shù)控制圖作圖步驟2 收集數(shù)據(jù) Pn1， Pn2, Pn3 , …… , Pnk ,k為樣本數(shù)；不合格品數(shù)控制圖作圖步驟3 計算控制中心和控制界限；不合格品數(shù)控制圖作圖步驟該例中 ,所以 :不合格品數(shù)控制圖作圖步驟4 作控制圖不合格品數(shù)控制圖比克練習(xí)例：比克電池品質(zhì)管理層為了了解電池的品質(zhì)狀況 , 經(jīng)抽樣檢查 25批電池后 , 得出的不良數(shù)據(jù)如下表 , 試制作 Pn圖 .不合格品率控制圖(P圖 )不合格品 率 控制圖 (P圖 )? 樣本容量 n大小不定時對產(chǎn)品合格與否的控制圖 。通過測定樣本上單位數(shù)量（如面積、容積、長度、時間等）上缺陷數(shù)進行控制的場合；216。 3定義控制特性并定義不良或缺點代號及名稱 , 以方便作業(yè)員記錄 。課程內(nèi)容課程內(nèi)容 ：什么情況是受控狀態(tài)；：什么情況是受控狀態(tài)； 什么情況是失控狀態(tài)；什么情況是失控狀態(tài)； 如何判斷受控與失控。典型失控狀態(tài)檢測 點超出了控制限典型失控狀態(tài)檢測 連續(xù) 7點上升或下降。二、過程績效指數(shù) (Process Performance Index) Pp： 分布中心 無偏離 規(guī)格中心時衡量 過程性能的指數(shù)； Ppk： 分布中心 偏離 規(guī)格中心時衡量 過程性能的指數(shù)； Ppm： 目標值與規(guī)格中心 不一致 時衡量 過程性能的指數(shù)； Ppu： 上單側(cè) 過程性能指數(shù)； Ppl： 下單側(cè) 過程性能指數(shù)。b. 適當考慮改用精度等級較低的設(shè)備 。提高過程能力指數(shù)的途徑? 調(diào)整加工過程的分布中心，減少偏移量，即 K 。 σ， 此時的 Cpk=LSL u USL6σ6σSPC量測系統(tǒng)研究內(nèi)容 ：? 為什么要進行 MSA？ Why？ ；? 什么是 MSA？ What ？；? 什么時候進行 MSA？ When ？ ；? 如何進行 MSA？ How？ ；目的 ：理解進行過程能力分析的重要性；掌握量測系統(tǒng)評估指數(shù) 。? 當分布中心與規(guī)格中心重合時 P=2φ（ 3Cp）? 當分布中心與規(guī)格中心不重合時 P=φ(3Cp(1k))+ φ(3Cp（ 1+K)) 注： φ（ x） 可查正態(tài)分布表舉例二例二： 已知某零件尺寸要求為： 50177。b. 在不影響質(zhì)量的前提下 ,放寬公差 。二、過程能力指數(shù) 一）當雙側(cè)規(guī)范，且 M=Ta時：當 = M的情況 （即無偏離） 時： 以 Cp表示，當 ≠M的情況 （即偏離） 時： 以 Cpk表示， Cpk = Cp(1 k) 二）當雙側(cè)規(guī)范，且 M≠Ta時： 以 Cpm表示， 三）當單側(cè)規(guī)范時：以 Cpu, Cpl表示。3 σ,即 6 σ為標準來衡量過程是否具有足夠的精確度和良好的經(jīng)濟特性。特 殊 原 因? 特殊原因是使過程特性發(fā)生顯著變化的因素 它的特點是：不經(jīng)常存在于過程中；它們通常來自過程之外；相對于普通原因來講，對過程波動有較大的影響；容易發(fā)現(xiàn)和隔離 .當過程受特殊因素的影響時，過程的輸出不再服從預(yù)期的分布，過程處于不穩(wěn)定狀態(tài)。 2同一時間內(nèi)生產(chǎn)的數(shù)據(jù)盡量分成一組 。 3如何透過復(fù)雜程度不同的機種或過程對過程系統(tǒng)的良率 , 不良率進行公平的比較 。 2 估計不合格品率為 P時 ,可由下式計算 n: 3 一般取 10~25個樣本 .不合格品 率 控制圖作圖步驟2 計算不合格品率 P及平均不合格品率 。 若無法相同 , 差異程度最好別超過 +/25%. 假如一件成品有多個檢驗項目 , 其中有一項不符 , 則整件成品算不良 。 2定義過程系統(tǒng) , 以確定影響過程的因素 , 如 5M1E,或以特性要因圖分析 。 為過程中心曾經(jīng)改變 。 c. 量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變 。 每組樣本應(yīng)記錄日期 ,時間 ,作業(yè)員 , 機臺 , 原材料或零件批 別等層別 , 以利發(fā)掘和矯正特殊原因 。 對客戶使用及生產(chǎn)關(guān)系重大的特性 。步驟 6 描點，并且在必要時重新計算控制限練習(xí)：作控制圖（例 5）★ 何時應(yīng)該重新計算控制界限1. 控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)下的條件（人員、設(shè)備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境即 5M1E） 來制定的。? 建立 適用于實施的環(huán)境? 定義過程? 確定 待管理的特性， 考慮 到– 客戶 的需求– 當前 及 潛在 的 問題區(qū)域– 特性 間 的 相互關(guān)系? 確定測量系統(tǒng)? 使不必要的 變差 最小 .控制圖的應(yīng)用 ◆ 所控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征值為計量值 ◆ 所控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征為關(guān)鍵質(zhì)量特征 ◆ 若關(guān)鍵質(zhì)量特征不可測量，采用其它代用質(zhì)量 特征進行控制時，一定要確認代用質(zhì)量特征與 關(guān)鍵質(zhì)量特征密切相關(guān) . ◆ 測量系統(tǒng)精度應(yīng)能達到要求控制圖的應(yīng)用步驟一、選擇需控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征值控制圖的應(yīng)用◆ 確定樣本含量 N– 采用 R控制圖，樣本含量一般取 n=5◆2 、 確定抽樣方式– — 定期法– — 即時法 一般采用即時法?？刂茍D的分類 (按數(shù)據(jù)種類分 )? 計量值管制 圖 (Control Charts for Variables)– 平均值 與 全距 控制圖 (XR Chart)– 平均值 標準差控制圖 (XσChart)– 中位 數(shù)與 全距 控制圖 (XR Chart)– 個別 值 與移動 全距 控制圖 (XMR Chart)? 計數(shù) 值 控制圖 (Control Charts for Attribute)– 不良率 控制圖 (P Chart)– 不良 數(shù)控制圖 (Pn Chart)– 缺點數(shù)控制圖 (C Chart)– 單位缺點數(shù)控制圖 (U Chart)~計數(shù)值控制圖 – 亡羊補牢 ?愈少愈好計量值控制圖 – 防患未燃 ?愈多愈好計量值 Vs. 計數(shù)值計量型數(shù)據(jù)嗎？ n=1？ 關(guān)心的是不合格率嗎？均值是否方便計算？ n是否恒定？n是否恒定？ n≥ 9？s是否方便計算？Pn或 p圖 p圖 C或 U圖 U圖是 否是是是是是是是否否否否否否否n： 樣本容量控制圖的應(yīng)用時機? 解析用 控制圖– 決定過程控制方法用– 過程解析用– 過程能力研究用– 過程管制準備用n 控制用控制圖n 追查不正常原因n 迅速消除此 項 原因n 研究 并采取 防止此項 原因 重復(fù)發(fā) 生之措施。上虛線：上控制界限 UCL216。 ?！?大量數(shù)據(jù)計算平均數(shù)較為繁瑣?？刂茍D的重要性●