spc統(tǒng)計程序控制講義(存儲版)
【正文】 控制圖 Statistical Process control NO:LLCts05 2 基本概念： 特 性 產(chǎn)品 一 般 安全、法規(guī) 關(guān) 鍵 KPCS 配合、功能 過程 一 般 關(guān) 鍵 KCCS 一般特性：只要是合格就可以； 關(guān)鍵特性：不僅僅合格，還要盡可能接近目標(biāo) 值。 第三節(jié) 變差：普通及特殊原因 任何過程都存在引起變差的原因，產(chǎn)品的差距總是存在。 此時大約可糾正 85%的過程問題。 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計算每個子組的均值（ X）和極差（ R） X ＝（ X1 + X2 + … + Xn）／ n Ｒ＝Ｘ 最大值 －Ｘ 最小值 Statistical Process control NO:LLCts05 8 式中： X1 ， X2 …為子組內(nèi)的每個測量值。 提高過程能力 必須重視減少普通原因。 SL：規(guī)范界限 當(dāng) Cp 1 能力不合格； 當(dāng) Cp 1 能力合格； Statistical Process control NO:LLCts05 11 ＾ ＾ CPU=（ USL – X） /（ 3σ R/d2） CPL=（ X LSL） /（ 3σ R/d2） Cpk =Zmin/3=CPU 或 CPL的最小值 評價過程能力 基本目標(biāo)：對過程的性能進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)，首先應(yīng) 考慮的是哪些過程應(yīng)優(yōu)先獲得注意。 總 結(jié)： SPC 對象：過程 過程測量 了解過程狀態(tài) 受控與否 N Y 控制 /改進(jìn) 計算過程能力 CPK 是否滿足 N Y 改進(jìn) 保持 利用控制圖分析 特殊原因 普通 原因 Statistica
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