【正文】 4 個(gè)點(diǎn)中，至少有 12 個(gè)點(diǎn)在中心線(xiàn)的一側(cè) c. 連續(xù) 17 個(gè)點(diǎn)中，至少有 14 個(gè)點(diǎn)在中心線(xiàn)的一側(cè) d. 連續(xù) 20 個(gè)點(diǎn)中，至少有 16 個(gè)點(diǎn)在中心線(xiàn)的一側(cè) ┈ 連續(xù) 6 個(gè)點(diǎn)中，至少有 5個(gè)點(diǎn)超過(guò)中心線(xiàn)一側(cè)的 1δ界限 ┈ 連續(xù)不少于 7個(gè)點(diǎn)的上升或下降 Ｃ .2 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 Ｃ .3 重新計(jì)算控制極限 D. 過(guò)程能力解釋 計(jì)算過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ = R/d2 =σ R/d2 計(jì)算過(guò)程能力 Cp =（ USL – LSL） /（ 6σ R/d2） 注：僅限于公差中心與過(guò)程中心重合。 n 為子組的樣本 容量。 雖然單個(gè)的測(cè)量值可能全都不同，但形成一組后它們趨于形成一個(gè)可以描述的分布的圖形。 注：僅對(duì)輸出進(jìn)行檢驗(yàn)并隨之采取 措施，只可作為不穩(wěn)定或沒(méi)有能力的過(guò)程的臨時(shí)措施。 總 結(jié)： SPC 對(duì)象：過(guò)程 過(guò)程測(cè)量 了解過(guò)程狀態(tài) 受控與否 N Y 控制 /改進(jìn) 計(jì)算過(guò)程能力 CPK 是否滿(mǎn)足 N Y 改進(jìn) 保持 利用控制圖分析 特殊原因 普通 原因 Statistical Process control NO:LLCts05 6 第二章 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 計(jì)量型數(shù)據(jù)的控制圖應(yīng)用廣泛 的 原因： 1. 大多過(guò)程和其輸出具有可測(cè)量的特性，所以其潛在應(yīng)用很廣； 2. 量化的值比簡(jiǎn)單的是－否陳述包含的信息更多； 3. 雖然獲得一個(gè)測(cè)得的數(shù)據(jù)比獲得一個(gè)通過(guò)或不通過(guò)的數(shù)據(jù)成本高，但為了獲得更多的有 關(guān)過(guò)程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較少，因此，在某些情況下測(cè)量的費(fèi)用更低； 4. 由于在作出可靠的決定之前，只需檢查少量產(chǎn)品，因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時(shí)間間隔； 5. 用計(jì)量型數(shù)據(jù)，可以分析一個(gè)過(guò)程的性能，可以量化所作的改進(jìn)，即使每個(gè)單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。 提高過(guò)程能力 必須重視減少普通原因。 此時(shí)大約可糾正 85%的過(guò)程問(wèn)題。 Statistical Process control 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 Designed by LLC NO:LLCts05 Rev:B 第