亞科德電子公司ic檢驗(yàn)規(guī)范書(shū)(存儲(chǔ)版)
【正文】 標(biāo)雙擊桌面“ amcap2a” ， 打開(kāi)測(cè)試程序的窗口畫(huà)面， 并對(duì)準(zhǔn)近處某一物體調(diào)焦，正常狀態(tài)下老化 30 分鐘后，觀察 顯示畫(huà)面狀況。 （輕缺陷） 二、性能 缺陷判定的詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)： 1． Sensor 類 ⑴橫條、白板、黑屏、黑點(diǎn)、花屏、無(wú)設(shè)備。AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗(yàn)規(guī)范手冊(cè) IC 檢驗(yàn)規(guī)范書(shū) 文件編號(hào) 版本號(hào) 修改號(hào) 生效日期 WIQE004 0 適用范圍： 適用于我司各種封裝功能的 IC 來(lái)料的檢驗(yàn)。 （重缺陷
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