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正文內(nèi)容

亞科德電子公司ic檢驗(yàn)規(guī)范書(shū)(參考版)

2025-06-08 18:56本頁(yè)面
  

【正文】 ⑵將測(cè)試架連接到測(cè)試電腦的 USB 接口上,用萬(wàn)用表測(cè)試 LDO 輸出腳的輸出電壓,檢驗(yàn)其輸出電壓值 ⑶ 鼠標(biāo)雙擊桌面“ amcap2a” , 打開(kāi)測(cè)試程序的窗口畫(huà)面, 并對(duì)準(zhǔn)近處某一物體調(diào)焦,正常狀態(tài)下老化 30 分鐘后,觀察 顯示畫(huà)面狀況。 秒。 AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗(yàn)規(guī)范手冊(cè) IC 檢驗(yàn)規(guī)范書(shū) 文件編號(hào) 版本號(hào) 修改號(hào) 生效日期 WIQE004 0 注 :以上檢驗(yàn)可參照 《檢驗(yàn)規(guī)格書(shū)》 上 的封樣。
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