【正文】 圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 過程改進循環(huán) 分析過程 維護過程 本過程應做什么？ 監(jiān)控過程性能 會出現(xiàn)什么錯誤？ 查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？ 采取措施。 注： 應制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當?shù)拇胧? 注 1： 當子組數(shù)（ n）變得更小（ 5或更?。r，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應對下列情況的 一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點計算錯描錯 c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 b 當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應調(diào)整中心限和控制限 。 式中 : UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過程標準偏差 注： Z 值為負值時說明過程均值超過規(guī)范。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨的數(shù)據(jù)表，計算 出 X 和 s 112 計算每一子組的標準差 s = ∑ (Xi–X )178。 12 只要描一張圖，刻度設置為下列的較大者： a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) b 測量值的最大值與最小值之差的 2倍。 52 制作極差的控制圖片 在一張透明的膠片標上極差的控制限。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 811 收集數(shù)據(jù) 8111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品。 812 計算控制限 8121 計算過程平均不合格品率 （ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗總數(shù) 8122 計算上下控制限（ USL； LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為 恒定的 樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當 np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標志 。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（ C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8133 重新計算控制限 初次研究，應排除有變差的子組，重新計算控制限。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 4 過程能力的分析 （同 XR） 估計過程標準偏差： δ= R / d2 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 能力。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 均值和標準差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 2 計算控制限 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 接上頁 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設定值 注： 應在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度