創(chuàng)建缺陷分析報(bào)告圖(存儲(chǔ)版)
【正文】 據(jù)各自的需求方便地繪制報(bào)告圖，提取出所需的信息，從而對(duì)項(xiàng)目、產(chǎn)品的管理做出科學(xué)的決策。紅色曲線 表示新提交缺陷數(shù)量趨勢(shì)變化，隨著該階段測(cè)試工作的開(kāi)展，新發(fā)現(xiàn)的缺陷呈上升趨勢(shì)，接近迭代周期的后期，由于大多數(shù)的缺陷被修復(fù)，發(fā)現(xiàn)的新缺陷迅速下降。除此之外，圖表右鍵菜單中還包括了一些有助于更清楚地查看圖表的操作，比如縮放，旋轉(zhuǎn)，移動(dòng)等等，還提供了導(dǎo)出功能。展示風(fēng)格包括背景坐標(biāo)表格的添加， 3D效果，彩色或者黑白圖等。 首先，通過(guò)主菜單上的 “查詢 ”，選擇 “新建圖表 ”?？梢?jiàn)，該趨勢(shì)圖反映的產(chǎn)品質(zhì)量基本符合發(fā)布標(biāo)準(zhǔn)。 項(xiàng)目經(jīng)理或者質(zhì)量管理人可以據(jù)此了解影響軟件質(zhì)量的最為薄弱的環(huán)節(jié)，并加以干預(yù)促進(jìn)改善。 ClearQuest支持 3種缺陷分析報(bào)告圖：分布圖 (Distribution Chart)、趨勢(shì)圖 (Trend Chart)和回顧圖 (Aging Chart)。除了要保證這些字段的存在外，最好還能通過(guò)在一定狀態(tài)下關(guān)鍵字的形式，保證其值非空。比如 IBM Rational ClearQuest就提供了這樣的管理功能。但是報(bào)告圖通常是以報(bào)告表為數(shù)據(jù)源，再次加工而成。 報(bào)告結(jié)果數(shù)據(jù)： A 產(chǎn)品構(gòu)建階段所有缺陷是 470個(gè)，其中模塊 a120（非常嚴(yán)重30，嚴(yán)重 70，不嚴(yán)重 20）；模塊 b230（略）；模塊 c120（略）。 1. 缺陷分析報(bào)告簡(jiǎn)介 我們首先通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)例，對(duì)缺陷分析有個(gè)直觀的理解。本文將在介紹缺陷分析報(bào)告基本制作方法的基礎(chǔ)上，結(jié)合 ClearQuest工具，詳細(xì)闡述制作缺陷分析報(bào)告圖的方法和技巧。 3. 輸出：缺陷數(shù)量。也正因如此，報(bào)告圖在實(shí)際工作中更為常用。利用它可以追蹤缺陷狀態(tài)，缺陷相關(guān)任務(wù)分派，同時(shí)它也是缺陷分析的數(shù)據(jù)來(lái)源。 這里給出一些常用的用于缺陷分析的字段，供參考。 3. 常見(jiàn)的幾種缺陷分析報(bào)告圖 由于缺陷分析報(bào)告圖比報(bào)告表更為常用，這里介紹幾種常見(jiàn)的 ClearQuest支持的報(bào)告圖。 缺陷產(chǎn)生原因分布圖是缺陷分析中有利于質(zhì)量控制的最為重要的一類(lèi)圖，它將缺陷按照產(chǎn)生原因分類(lèi)，各種原因類(lèi)別需要事先定制，可以是軟件工程各階段中可能引入缺陷的各種因素，而且原因分類(lèi)越細(xì)致，越能夠精確定位缺陷產(chǎn)生點(diǎn)。 比如圖 2所示的某產(chǎn)品在發(fā)布前的一段測(cè)試周期內(nèi)，新發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)量的趨勢(shì)圖，隨著測(cè)試的開(kāi)展，越來(lái)越多的缺陷被發(fā)現(xiàn)，隨著缺陷的及時(shí)修復(fù)，發(fā)現(xiàn)新缺陷的數(shù)量也在一定時(shí)間點(diǎn)后逐漸減少。 圖 3 修復(fù)缺陷回顧圖 4. 使用 ClearQuest 制作缺陷分析報(bào)告圖 在介紹了缺陷分析圖表的 3種分類(lèi)后，我們將遵循不同類(lèi)別，來(lái)了解 ClearQuest中制作缺陷分析報(bào)告圖的關(guān)鍵點(diǎn)。然后為圖表選擇展示類(lèi)型和風(fēng)格，展示類(lèi)型可以在柱狀圖 (bar)，堆疊柱狀圖 (stacked bar)，線狀圖 (line)，區(qū)狀圖 (area)，以及餅狀圖 (pie)中進(jìn)行選擇。 圖 6 缺陷分析報(bào)告圖 — 分布圖例 如果對(duì)報(bào)告圖的某些設(shè)定不太滿意，可以返回編輯修訂。 圖 8 缺陷分析報(bào)告
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