【正文】 實際值 觀測平均值 偏移 (A) (B) 直線性 大偏移 小偏移 一 .量測系統(tǒng)誤差的分類 GRR 觀測者平均值 (Stability): 因環(huán)境改變 ,動力波動 ,量具磨損等 ,不同時間所造成之差量 。 ：看趨勢 → 立即看出數(shù)據(jù)變化的情形 。 ● 百分之八十的問題出現(xiàn)在百分之二十的項目 ， 故又有人稱之為 20/80 法則 。 MM:Micrometer。177。177。177。 。 規(guī)格上限 SU 等級 A ≦ Cp B C D Cp值 ≦ Cp ≦ Cp Cp 工程能力指數(shù) (Cp)之處理 μ T 3σ μ T 3σ 3σ 5σ 5σ Cp= Cp= ≦Cp 顯示有足夠之工 程力 . 對規(guī)格而言 ,為 正常狀態(tài) ,應(yīng)繼續(xù) 保持 . 2 Cp 處理 ≦Cp, 顯示 非常有工程能力 雖然有若干製品 之標準差很大 ,但不會 出現(xiàn)不良品 . 1 3σ 4σ 4σ 工程能力指數(shù) (Cp)之處理 Cp= Cp μ T μ T 3σ ≦Cp, 顯示工程能力並不 充足 ,但尚且可以 . 要注意有發(fā)生不良 品之雇慮 ,必要時應(yīng)提 升工程之能力 . 3 Cp 程能力不足 . 在這種狀況下會 出 現(xiàn)不良品 .必需藉著作 業(yè)方法之改善 ,規(guī)格之 再檢討 ,機械設(shè)備之改 善 ,來提升工程能力 . 4 3σ 3σ 3σ Ca,Cp的綜合評價 : Z1=3Cp(1+Ca)…… 由 Z1查常態(tài)分配表得 p1% Z2=3Cp(1Ca )…… 由 Z2查常態(tài)分配表得 p2% p%=p1%+p2%…….. 即為推定群體超出規(guī)格上下之不良率 . ? XSZ U ???1 ? XSL ?2 P%分級做評定標準 : 等級 總評 P% A P≦% B %P≦% C %P≦% D %P 投影片 30 或 : (例題 ) 今庫存有某圓軸 6000支 ,其品質(zhì)特性為圓軸之長度 ,已知 其長度母平均 μ=, 母標準差 σ=, 試問此 6000支 , 中長度超過 ? Key Ca,Cp不良時的一般處理方法 製造單位為主 , 技術(shù)單位為副 , 品管單位為輔 . 技術(shù)單位為主 , 製造單位為副 , 品管單位為輔 . 制程能力指數(shù) CpK 綜合 Ca與 Cp兩值之指數(shù) (1)CpK值之計算式有兩種 CpCaCpK )1( ??B. 單邊規(guī)格時 : (2)等級判定 CpK值愈大 ,品質(zhì)愈佳 .依 CpK值 大小分為五級 ?????? ????? ?3)(,?3)( LU SXXSMinCpK等級 A ≦ CpK B C D CpK值 ≦ CpK ≦ CpK CpK A+ ≦ CpK A. 雙邊規(guī)格時 : CpK之處置原則 A+:考慮管理的簡單化或成本的降低方法 A:維持原狀 B:改進為 A級 C:需全數(shù)選別並管理 ,改善制程 D:進行品質(zhì)改善 ,探求原因 ,需要采取緊急對策 ,並且 重新檢討規(guī)格 . 制程能力與規(guī)格之關(guān)系 6σ39。6?RX? 1)(?22?????nnXXi??? ????? 1)( 22fffufu2? dR??d2 Cpk 計算時用公式 (1) 管制界限 損失 第二種錯誤 第一種錯誤 兩種錯誤總和 177。 (3)變異 σ2代表分配函數(shù)的離散程度 如圖 1所示 ,具有相同 181。: 常態(tài)分配的中心值 (Mean) σ2： 常態(tài)分配的變異（ Variance） σ:常態(tài)分配的標準差 (Standard Deviation) 常態(tài)分配特性 (1)曲線與橫軸所圍的面積為 1。 標準差 = σ x 圖 1 μ kσ σ 群體 (制程 )與樣本間之關(guān)系 x ??)(xE nX?? ?分配之期望值 分配之標準差 x設(shè) 為樣本平均 , 181。6σ 177。 = , 穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %=63PPM 在圖例上表示為中心沒有偏移 (實際中心值與規(guī)格中心重合 ) μ DPPM DR=DRL+DRR DR(Defect Rate):總不良 DRL (Defect Rate Left) :左不良 DRR (Defect Rate Right) :右不良 ??XLCL UCLDRLDR=DRL+ DRRDRR181。 ,決定最經(jīng)濟的作業(yè)水準 。2 Sigma 4 Sigma 181。4 Sigma 8 Sigma 181。6 Sigma Prepared by :VQM /Xu Gang Approved by: Howard Lin Level (For your reference and choosing) 181。 2用途： . 21解決問題的基礎(chǔ) 22經(jīng)過層別之后 ， 可以使得造成問題之原因更為 清楚 。 步驟二 ：計算組數(shù) K = √ n (結(jié)果取整數(shù) ) 步驟三 ：決定組距 h=R（ 最大值－最小 值）247。 HG:Height Gauge。 數(shù)據(jù)即時采集，分析，導(dǎo)出，打印，和自動存儲。 CM:CMM。 總?cè)秉c數(shù) ) 100 項目 不良數(shù)（特性值） 不良率 影 響 度 累 計 影 響 度冷氣不 涼噴 漆 脫 落噴 漆不均其　　它合　　 計 步驟四 ：劃圖 縱軸左邊為特性值 ， 右邊為累計影響度 ， 橫軸記 入項目 ， 按 數(shù) 據(jù) 由 大 到 小 排 列 ， 其 它 項 無 論 多 大 都排最后 ， 劃成柱狀圖 ， 如下圖疕 不良率 A 累計影響度 項目別 練習(xí)：柏拉圖 請利用下列數(shù)據(jù)制作柏拉圖 ， 并考量應(yīng)從那些項目著手改善 不良項目 8 月 11 日 8 月 12 日 8 月 13 日 8 月 14 日 8 月 15 日 合計容器破損 11容器瑕疵污點51沖壓瑕疵污點57接著劑 20其它 14內(nèi)包裝瑕疵16內(nèi)包裝破損39外包裝破損6合計 49 36 43 44 43 215總檢查數(shù)： 500 ─── 掌握重點 (1)可作為降低不良率之依據(jù) (2)可作為決定改善目標之依據(jù) (3)可作為改善效果的確認 累計影響度 70%至 80%之項目即為重點部份 五 、 直方圖 （ HISTOGRAM） 劃分數(shù)據(jù)的分配范圍成數(shù)個組間 ， 計算各組間內(nèi)該數(shù)據(jù)出現(xiàn)的次數(shù) ， 并制作成次數(shù)分配圖即稱之 。 HG:Height Gauge。 Sigma 11 6 Sigma 181。 Sigma 7 4 Sigma 181。 Sigma 3 2 Sigma 181。 。ABCSuSL3. 6σ’ SuSL Evaluation form Cpk為什麼要大於或等於 ? = ,穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %。4σ 177。+kσ與 181。CPK,SPC,GRR Correlation regression Howard Lin May,11,2023 目 錄 ………………………………………...(Page1) ……………………… ………………..(Page2) …………………………….(Page3) Cpk……………………………………..(Page4~45) QC舊七大手法 ………………………...(Page46~81) 管制圖 ………………………………….(Page82~94) ………………………………….(Page95~98) R…………………………………. (Page99 ~115) Process Control 統(tǒng)計制程管制 :制 程 :(變異並非全是壞事 ) (共同原因 ) (特殊原因 ) :制程取得的有用信息 . :數(shù)據(jù)通過計算產(chǎn)生有意義的情報 . : Cpk ５ .３ 管制圖 :對數(shù)據(jù)進行處理的過程 制程能力分析 常態(tài)分配 ...)(.21)( 222??? ????edxxxf ekk ????????通常寫為 X~N(181。的附近 . μ 圖 1 (a) σ2 a (b)σ2 b Percentages Of The Normal Distribution 管制圖與常態(tài)分配 μ μ+kσ 圖 2 X值在 181。3σ 177。ABC SuSL2. 6σ’ ≒ SuSL 6σ39。 。177。177。177。 PJ:Projetor。 總檢查數(shù) ) 100 影響度 %＝ (各項缺點數(shù) 247。 MM:Micrometer。 (C) 穩(wěn)定性 Time 1 Time 2 GRR 操作員 b (E) 再現(xiàn)性 同一量具 同一物體 不同操作員 操作員 a 操作員 c (Reproducibility): 不同人所量測同一物性多次平均之間的差量 . 備注 :由于 Bias,Linearity及 Stability對量測系統(tǒng)造成的誤差很小 ,故給予忽略不計 . GRR 二 .為什麼要做量測系統(tǒng)分析 . . . . . . . . 三 .應(yīng)用範圍 NG量具 ,限度樣品 . . . . GRR 四 .何時需做 GRR . . . . 五 .基本規(guī)則 . . . . . . . . 機性 . GRR 六 .變化的來源 . . 七 .執(zhí)行量測系統(tǒng)分析的原因 . . . . . . GRR (一 ).不考慮 PV (Repeatability)Equipment Variation(EV) EV=R*K1 Trials K12 3 式中 : R=(Ra+Rb+Rc)/3 (Trials為 3組時 ) 或 R=(Ra+Rb)/2 (Trials為 2組時 ) 八 .計算公式 GRR R= 22 AVEV ? 6.%RR=100(RR/T)% 4.%EV=100(EV/T)% 5.%AV=100(AV/T)% (Reproducibility)Appraiser Variation(AV) AV=Xdiff*K2