【正文】 由于樣本容量改變，現(xiàn)行的控制限將不等于分析時期得到的控制在這種情況下，使用 ，但是用需要的樣本容量 代替 。 過程或取樣方法重疊：每個子組包含來自兩個或多個具有不同平均性能的過程流的測量（例如：兩條平等的生產(chǎn)線的混合的輸出）； 評價系統(tǒng)已改變。若 較?。?≤5 ），則 不能直接應用下列規(guī)則。 控制限或描點錯誤： P81 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B． 3 畫線并標注 一般情 況下，也應包括 25或更多的子組，以便 很好地檢驗過程的穩(wěn)定性。 隨著時間變化趨勢用來測量持續(xù)的改進。 單值控制圖不能區(qū)分過程的零件間重復性，因此，在很多情況下，最好還是使用常規(guī)的子組樣本容量較?。?2到 4） 的控制圖，盡管在子組間都要求較長的時間； 68 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 第四節(jié) 單值和移動極差圖 （ XMR Chart） 在下列數(shù)種情況下，使用個別值與移動全距管制圖 （ XR Chart） 1． 分析或測試一件產(chǎn)品之品質(zhì)特性，手續(xù)較為麻煩，需花費 很多時間，而有誤工作時效者。 數(shù)據(jù)是由計算機按實時時序記錄和 /或描圖的，則 s的計算程序容易集成化； 以上兩種方法與過程改進相比顯然是下策。 2/ dR???58 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 計算過程能力 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)； 重新計算控制限（均值圖） 當進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除 已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點，重新計算并 描畫過程均值和控制限，確保當與新的控制限相比時，所 有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復識別 / 糾正 /重新計算的程序。 如果大大超過 2/3的點落在過程均值的附近（對于 25個 子組的情況，如果有關(guān)人員 90%多的點在控制限三分之一 的中間區(qū)域），應調(diào)查下列情況之一或更多： 7點連續(xù)上升或下降。但是要記住：一定要改變過程，以使特殊原因不會作為 過程的一部分重視。 控制限或描點計算錯或描錯； ） 低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全 部輸出值分布寬度減小，這常常是一具好狀態(tài)，應研究以便推 廣應用和改進過程； 測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪Α?R圖，坐標上之最大刻度值為 Rmin之兩倍。 40 奧邦科技 五大手冊之五 SPC c. 子組數(shù)的大小 非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的，相互間不存在 其他的系統(tǒng)的關(guān)系。最常用的是 X圖 和 R圖。 如 果由于普通原因造成的誤差過大， 則過 程不能生產(chǎn)出始終如一的符合顧客要求 的產(chǎn)品 。 改進過程從而更好地理解 監(jiān)控過程性能 制作并 第五節(jié) 過程控制和過程能力 25 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 3 制造過程的 4種類型 、 控制 滿足要求 受控 不受控 可 接 受 1類 3類 不可接受 2類 4類 1 類過程：該過程受統(tǒng)計控制且有能力滿足要求 ， 是可接受的 。 大約可糾正 85%的過程問題 。 有害時應識別 出來并消除它 ， 有利時可識別出來并使其 成為過程恒定的一部分 。 固有變差：僅由普通原因造成的過程變 差，由 σ =R/d2來估計。 過程特性 (如溫度 、 循環(huán)時間 、 進給速率 、 缺勤 、 周轉(zhuǎn)時間 、 延遲以及中止的次數(shù)等、 是我們關(guān)心的重點 。 11 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 第一節(jié) 預防與檢測 ? 基本原則 ? 檢測 —— 容忍浪費 ? 預防 —— 避免浪費 ? 有效方法： 應用統(tǒng)計技術(shù)進行預防 12 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 在管理部門經(jīng)常靠檢查或重新檢查工作來找出錯誤 ， 這種方法是浪費的 。 5 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 新產(chǎn)品和常規(guī)產(chǎn)品（包括老產(chǎn)品和舊產(chǎn)品）中，顧客要求和公司確定的產(chǎn)品和過程特殊特性。 組織應維持由顧客零件批準過程要求所規(guī)定的過程能力或績效。 S （ Statistical ） 統(tǒng)計 P （ Process ） 過程 C （ Control ） 控制 統(tǒng)計過程控制（ SPC）的定義： 使用諸如控制圖等統(tǒng)計技術(shù)來分析過程或其輸出，以 便采取適當?shù)拇胧檫_到并保持統(tǒng)計控制狀態(tài)從而提 高或改進過程能力。 基礎(chǔ)統(tǒng)計概念的知識 整個組織應了解和使用基本的統(tǒng)計概念，如變差、控制 (穩(wěn)定性 )、制程能力和過度調(diào)整。為確保過程 變得穩(wěn)定和有能力，組織應完成一份指定明確進度和指派責任的糾正措 施計劃。 2 研究變差和應用統(tǒng)計知識來改進性能的基本概念適用于任何領(lǐng)域 ， 重點是在車間實施 。 過程控制系統(tǒng)的其他部分只有它們在幫助整個系統(tǒng)保持良好的水平或提高整個過程的性能時才有用 。 第二節(jié) 過程控制系統(tǒng) 18 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 什么是統(tǒng)計技術(shù)？ 統(tǒng)計技術(shù)（包括統(tǒng)計工具和統(tǒng)計方法）：通過使用基本 的解決問題的技術(shù)和方法以及統(tǒng)計過程控制來應用變差 理論，包括控制圖的繪制和解釋（適用于計量型數(shù)據(jù)和 計數(shù)型數(shù)據(jù)）和能力分析。 處理 一張發(fā)票 所需的時間因不同的階段 、 人 、 規(guī)程 、 辦公室 、 工作量而不同 。 對系統(tǒng)采取措施（ Action on the System） 過程控制系統(tǒng)有特殊原因出現(xiàn)時 ， 要采取適 當?shù)拇胧﹣硐?（ 如果措施有用 ， 可永久 保留 ） 。 短期為 PPK。 達到統(tǒng)計控制狀態(tài) ？ 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗控制限 計量型數(shù)據(jù)的控制圖應用廣泛，有如下原因： 大多過程和其輸出具有可測量的特征 ， 所以其潛在應用很廣； 量化的值 （ 例如： “ 直徑為 ”） 比簡單的是否陳述（ 例 如： “ 直徑符合規(guī)范 ” ） 包含的信息更多； 雖然獲得一個測得的數(shù)據(jù)比獲得一個通過或不通過的數(shù)據(jù)成本 高，但為了獲得更多的有關(guān)過程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較 少，因此，在某些情況下測量的費用更低； 第 II章 計量型數(shù)據(jù)控制圖 34 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 由于在作出可靠的決定以前 ， 只需檢查少量產(chǎn)品 ， 因 此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔； 用計量型數(shù)據(jù) ， 可以分析一個過程的性能 ， 可以量化 所作的改進 ， 即使每個單值都在規(guī)范界限之內(nèi) ， 這一點 對尋求持續(xù)改進來說是很重要的 。 合理子組 過程的初期研究，很短的時間間隔進行分組，以便發(fā) 覺短時間的不穩(wěn)定因子。 記錄日期 /時間、讀數(shù)和 X、 R A． 3 計算每個子組的均值（ X） 和極差（ R） X= R=XmaxXmin A． 4 選擇控制圖的刻度 控制限計算錯誤或描點時描錯； 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè)； 控制限或描點已計算錯或描錯； 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù) 據(jù)”。在控制圖上標注這樣的數(shù)據(jù) 點。 51 奧邦科技 五大手冊之五 SPC c. 明顯的非隨機圖形 各點與過程均值的距離：一般情況下，大約三分之二 的描點應落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點 落在其它三分之二的區(qū)域。 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同 過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行過度 控制造成的）。 55 奧邦科技 五大手冊之五 SPC R?????新 RUCLR=D4 新 UCL= 新 LCLR=D3 新 LCL= 新 RAX 2? 2?R 只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限延長用 于以后的時期。 如果不知道分布是否是正態(tài)分布，則應進行正態(tài)性檢驗使 用諸如審查直方圖，在正態(tài)分布紙上描點。 對于單邊容差，沿著的邊緣，找到 Z值。 64 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 對修改的過程繪制控制圖并分析 對過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應在控制圖上表現(xiàn)出來，控制圖更成了驗證措施是否有效的一種方式。 計算極差的平均值，記為 RDUC L R 4? RXUCL AX~~2~ ??RLC L R 3? RXLCL AX~~2~ ??C、 過程控制解釋 與 大致相同 RX?67 奧邦科技 五大手冊之五 SPC D、 過程能力解釋 與 大致相同 69 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 單值控制圖，要注意下面四點： 23 dRXUSLCpu????23 dRLSLXCpl???? 4．如果子組容量相對來說足夠大也是很有好處的，這樣能獲 得不控制限，從而也可以發(fā)現(xiàn)由于改進造成的可查明的原 因。 79 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B． 計算控制限 B． 1 計算過程平均不合格品率（ ） 對于 K個子組的研究時期，計算不合格品率的均值如下： p k kKnnn pnpnpnp ??? ???? ?? ??21 2211式中： 為每個子組內(nèi)的不合格項目數(shù)及檢查的項目數(shù)。 注：上述給出的控制限計算公工式適用于子組容量相同的情況下（因為它們可能是處于受控的取樣情況），理論上，只要樣本容量改變（即使是一個子組），控制限隨之變化，在對每個具有不同的樣本容量的子組應分別計算各組的控制限，但實際應用時，當各子組容量與其平均值相