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【正文】 ? n 越小，控制域越寬； n 越大，控制域就越窄。有關過程能力指數(shù)更為完整的表述應為： ? Cp無偏移短期過程能力指數(shù) ? Cpk有偏移短期過程能力指數(shù) ? CpU無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù) ? CpL無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù) 過程性能指數(shù) ?以上 4個指數(shù)稱為 C系列過程能力指數(shù) ? Pp無偏移短期過程性能指數(shù) ? Ppk有偏移短期過程性能指數(shù) ? PpU無偏移上單側(cè)短期過程性能指數(shù) ? PpL無偏移下單側(cè)短期過程性能指數(shù) ?以上 4個指數(shù)稱為 P系列過程性能指數(shù) 過程性能指數(shù) ? Ppk=min（ PU， PL） ?選擇 PU、 PL二者之中最小的一個 ? PpK=（ 1K） Pp ?選擇過程性能指數(shù)的計算就相當于選擇 PU或PL Cp:無偏移短期過程能力指數(shù) CpU:無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù) CpL:無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù) CpK:有偏移短期能力指數(shù) Pp:無偏移過程性能指數(shù) PpU:無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù) PpL:無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù) PpK:有偏移過程性能指數(shù) ?注意： C系列過程能力指數(shù)與 P系列過程性能指數(shù)的公式類似，二者的主要差別在于：前者的公式中的 σ的估計采用 σST=R/d2或 s/c4，且必須在穩(wěn)態(tài)下計算；而后者公式中的 σ的估計采用 σLT=s，是在實際情況（不一定是穩(wěn)態(tài)）下計算的。 Cp Ⅴ 過程能力嚴重不足，表示應采取緊急措施和全面檢查，必要時可停工整頓。 離開穩(wěn)態(tài)這個基準，對過程就無法預測，也無法評價。 由于 Cp需在穩(wěn)態(tài)下計算，故應先將過程調(diào)整到統(tǒng)計控制狀態(tài)， 然后再調(diào)整到技術控制狀態(tài)。 總體參數(shù)只能通過以往已知的數(shù)據(jù)來加以估計。 小概率事件原理 ：小概率事件在一次試驗中 幾乎不可能發(fā)生，若發(fā)生即判斷異常。休哈特（ ）提出了過程 控制理論及控制圖。 統(tǒng)計過程控制的特點 SPC 是一種預防性方法。 點出界就判異 控制圖原理的第二種解釋 影響質(zhì)量的原因：人、機、料、法、測、環(huán)（ 5M1E） 偶然因素（偶因）： ? 過程固有 ? 始終存在 ? 影響微小 ? 難以消除 偶然波動 （正常波動） 異常因素（異因）： （可查明因素） ? 非過程固有 ? 有時存在，有時不存在 ? 影響很大 ? 不難去除 異常波動 控制限就是區(qū)分偶然波動與異常波動的科學界限 常規(guī)控制圖的實質(zhì)是區(qū)分偶然因素與異常因素 控制圖的作用 ? 應用控制圖對生產(chǎn)過程進行監(jiān)控。 樣本統(tǒng)計量的數(shù)值是已知的。 分析用控制圖的調(diào)整過程即是質(zhì)量不斷改進的過程 分析用控制圖與控制用控制圖 統(tǒng)計控制狀態(tài) 統(tǒng)計控制狀態(tài) 技術控制狀態(tài) 是 否 技術控制狀態(tài) 是 Ⅰ Ⅱ 否 Ⅲ Ⅳ 狀 態(tài) 分 類 生產(chǎn)線的末道工序一般以保持狀態(tài) Ⅰ 為宜。 過程能力決定于偶因造成的總變差 σ。 單側(cè)公差情況的過程能力指數(shù) *若只有上限要求，而沒有對下限要求，則過程能力指數(shù)計算如下： Cpu= TU μ 3σ (μ＜ Tu) 式中： Cpu為上單側(cè)過程能力指數(shù)。 ? QS9000提出 Pp、 Ppk的好處是：可以反映出系統(tǒng)當前的實際狀態(tài)，而不要求在穩(wěn)態(tài)的條件下計算。 ? 如果 ni 變化不大（在目標值177。 關于 Pp與 Ppk的比較與說明如下： 第五節(jié) 常規(guī)控制圖的計算 常規(guī)控制圖控制線的計算公式 : Rx ?圖 : 上控制界限線： 下控制界限線： 中心線： RAXUCL x 2??XCL x ? RAXLCL x 2??均 值 控 制
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