spc 教程-a-預(yù)覽頁
【正文】 、測(cè)、環(huán)（ 5M1E） 偶然因素（偶因）： ? 過程固有 ? 始終存在 ? 影響微小 ? 難以消除 偶然波動(dòng) （正常波動(dòng)） 異常因素（異因）： （可查明因素） ? 非過程固有 ? 有時(shí)存在，有時(shí)不存在 ? 影響很大 ? 不難去除 異常波動(dòng) 控制限就是區(qū)分偶然波動(dòng)與異常波動(dòng)的科學(xué)界限 常規(guī)控制圖的實(shí)質(zhì)是區(qū)分偶然因素與異常因素 控制圖的作用 ? 應(yīng)用控制圖對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行監(jiān)控。 第二節(jié) 常規(guī)控制圖（休哈特控制圖） 控制圖 是對(duì)過程質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估和 監(jiān)察過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)的一種用統(tǒng)計(jì)方法設(shè) 計(jì)的圖。 統(tǒng)計(jì)過程控制的特點(diǎn) SPC 是一種預(yù)防性方法。 SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制 第一節(jié) 統(tǒng)計(jì)過程控制的基本知識(shí) 一、統(tǒng)計(jì)過程控制的基本概念 統(tǒng)計(jì)過程控制（ Statistical Process Control 簡(jiǎn)稱 SPC） ：是應(yīng)用 統(tǒng)計(jì)方法對(duì)過程中的各個(gè)階段進(jìn)行評(píng)估和監(jiān)控，建立并保持過程 處于可接受的并且穩(wěn)定的水平，從而保證產(chǎn)品與服務(wù)符合規(guī)定要 求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。休哈特（ ）提出了過程 控制理論及控制圖。 統(tǒng)計(jì)過程診斷（ Statistical Process Diagnosis，簡(jiǎn)稱 SPD）： 是 SPC 的發(fā)展，不但具有告警的功能，還具有診斷功能。 小概率事件原理 ：小概率事件在一次試驗(yàn)中 幾乎不可能發(fā)生，若發(fā)生即判斷異常。 只在控制圖上描點(diǎn)，當(dāng)然是不可能起到預(yù)防作用的。 總體參數(shù)只能通過以往已知的數(shù)據(jù)來加以估計(jì)。 控制限用以區(qū)分偶然波動(dòng)與異常波動(dòng)。 由于 Cp需在穩(wěn)態(tài)下計(jì)算，故應(yīng)先將過程調(diào)整到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)， 然后再調(diào)整到技術(shù)控制狀態(tài)。經(jīng)過一段的使用 后，可能又會(huì)出現(xiàn)異常，這時(shí)應(yīng)查出異因，采 取必要措施，加以消除，以恢復(fù)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 離開穩(wěn)態(tài)這個(gè)基準(zhǔn)，對(duì)過程就無法預(yù)測(cè)，也無法評(píng)價(jià)。 Cp值越大，表明加工質(zhì)量越高。 Cp Ⅴ 過程能力嚴(yán)重不足，表示應(yīng)采取緊急措施和全面檢查，必要時(shí)可停工整頓。 CP 和 CPK 的比較 CP 表示過程加工的一致性，即“質(zhì)量能力”， CP 越大， 質(zhì)量能力越強(qiáng)。有關(guān)過程能力指數(shù)更為完整的表述應(yīng)為： ? Cp無偏移短期過程能力指數(shù) ? Cpk有偏移短期過程能力指數(shù) ? CpU無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù) ? CpL無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù) 過程性能指數(shù) ?以上 4個(gè)指數(shù)稱為 C系列過程能力指數(shù) ? Pp無偏移短期過程性能指數(shù) ? Ppk有偏移短期過程性能指數(shù) ? PpU無偏移上單側(cè)短期過程性能指數(shù) ? PpL無偏移下單側(cè)短期過程性能指數(shù) ?以上 4個(gè)指數(shù)稱為 P系列過程性能指數(shù) 過程性能指數(shù) ? Ppk=min（ PU， PL） ?選擇 PU、 PL二者之中最小的一個(gè) ? PpK=（ 1K） Pp ?選擇過程性能指數(shù)的計(jì)算就相當(dāng)于選擇 PU或PL Cp:無偏移短期過程能力指數(shù) CpU:無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù) CpL:無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù) CpK:有偏移短期能力指數(shù) Pp:無偏移過程性能指數(shù) PpU:無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù) PpL:無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù) PpK:有偏移過程性能指數(shù) ?注意： C系列過程能力指數(shù)與 P系列過程性能指數(shù)的公式類似，二者的主要差別在于：前者的公式中的 σ的估計(jì)采用 σST=R/d2或 s/c4，且必須在穩(wěn)態(tài)下計(jì)算；而后者公式中的 σ的估計(jì)采用 σLT=s，是在實(shí)際情況（不一定是穩(wěn)態(tài)）下計(jì)算的。Pp和 Ppk 也要聯(lián)合使用。 ? n 越小，控制域越寬； n 越大，控制
化學(xué)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1