【正文】 25% 的樣本容 量范圍 ,找出樣本容量超出該范圍的所有 子組 。 SPC 49 ★ 由於每一個子組僅有一個單值 , X 和 σ值會有較大的變異性 . 單值控制圖的詳細(xì)介紹與 XR圖有些相 同 ,不同之處如下 : 在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù) (X). 計算單值間的移動極差 (MR). SPC 50 單值極差圖的刻度按下列最大者選取產(chǎn)品 的規(guī)范容差加上超過規(guī)范讀數(shù)的允許值 .或 最大單值讀數(shù)與最小單值讀數(shù)之差的 2 倍 .移動極差圖的刻度間隔應(yīng)與 X 圖一致 . 計算並描繪過程平均值 ,並計算平均極差 ( R ),計算控制限 : SPC 51 式中 :R為移動平均極差 , X 是過值 , D4﹑ D3 和 E2 是用來對計算移動極差進(jìn)行分組 ,並隨樣 本容量變化的常數(shù) ,其常數(shù)見下表 : UCLMR=D4R LCLMR=D3R UCLx=X+E2R LCLx=X+E2R SPC 52 計算控制限用常數(shù)表 SPC 53 審檢移動極差圖中超出控制限的點(diǎn) ,這是 存在特殊原因的信號 . 可用單值圖分析控制限的 ,點(diǎn)在控制限內(nèi) 點(diǎn)的分布 ,以及趨勢的圖形 . 與 XR圖一樣 ,可用下式估計過程標(biāo)準(zhǔn)差 : SPC 54 σ = R / d2 = σR/ d2 式中 : R 為移動極差的均值 , d2是用於對移 動極差分組的樣本容量 n而變化的常數(shù) ,下 面是 d2 的常數(shù)表 : n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 D2常數(shù)表 SPC 55 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 盡管控制圖大多數(shù)情況下都與計量型數(shù) 據(jù)聯(lián)系在一起 ,但也開發(fā)了用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的 控制圖 .計數(shù)型數(shù)據(jù)只有兩個值 (合格 /不合格 , 成功 /不成功 , 通過 /不通過 , 出席 /缺席 ).但它 們可被計數(shù)從而用來分析 . 計數(shù)型控制圖是很重要的 ,原因如下 : ★ 計數(shù)型數(shù)據(jù)的情況存在于何技朮或行政 SPC 56 管理過程中 ,所以可以在很多場合下應(yīng)用 計數(shù)型分析技朮 ,最大的問題是對什麼是 不合格下一個精確的可操作的定義 。 ★ 由于一張圖上可顯示中位數(shù)及分布寬度 , 所以它可用來對幾個過程的輸出或同一過 程的不同階段的輸出進(jìn)行比較 。 ★ 連續(xù)七點(diǎn)上升或下降 . 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 當(dāng)極差受統(tǒng)計控制時 ,則認(rèn)為過程的分 SPC 21 布寬度 子組內(nèi)的變差 是穩(wěn)定 的 .然后對均值圖進(jìn)行分析看在此過程 的位置是否改變 . 出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn) 超出任一控制限就證明這點(diǎn)出現(xiàn)特殊 原因 .這是立即對操作進(jìn)行分析的信號 SPC 22 一點(diǎn)超出控制限通常表明存在下列情 況之一或更多 : ★ 控制限或描點(diǎn)錯誤 。 4) X – MR Chart (單值和移動極差圖 )。 5) P – Chart (不合格品率圖 )。 ★ 過程已改變 ,或是在當(dāng)時的那一點(diǎn) 或是一種趨勢的一部分 。 中位數(shù)圖的詳細(xì)說明與 XR圖類似 ,不同之 SPC 41 處如下 : 一般情況下 ,中位數(shù)圖在子組樣本容量 小於或等於 10 的情況 ,樣本容量為奇數(shù)時更 方便 .如果子組樣本容量為偶數(shù) ,中位數(shù)是中 間兩個數(shù)的均值 。 ★ 很多情況下已的計數(shù)型數(shù)據(jù) 檢驗 ﹑ 要 求修理的書面記錄 ﹑ 拒收材料的篩選等 . 在這些情況下可將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成控制圖 . ★ 在必須收集新數(shù)據(jù)的地方 ,獲得計數(shù)型數(shù) SPC 57 據(jù)通常很快且不需很多費(fèi)用 .並且由于使 用簡單的量具 ,所以通常不需要專業(yè)化的 技朮 . ★ 許多用于管理總結(jié)報告的數(shù)據(jù)是計數(shù)型 的並且可以從控制圖分析中獲得益處 . ★ 當(dāng)一個組織機(jī)構(gòu)內(nèi)引進(jìn)控制圖時 ,優(yōu)先解 決某些問題及在最需要的地方應(yīng)用控制 SPC 58 圖是很重要的 . 應(yīng)用控制圖的準(zhǔn)備工作 ★ 建立一個適用于行動的環(huán)境 。 ★ 按下式重新計算這些點(diǎn)準(zhǔn)確的控制限 : SPC 72 UCLp , LCLp = p 177。 SPC 61 ★ 把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ) 條件分組 ,並且把不合格的項目用占子組 大小的十分之幾來表示 . 1. 收集數(shù)據(jù) 選擇子組的容量 ﹑ 頻率及數(shù)量 a) 子組容量 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制 圖一般要求較大的子組容量 (例如 SPC 62 50~200或更多 )以便檢驗出性能的一般 變化 .對于顯示可分析的圖形的控制圖 , 子組容量應(yīng)足夠大 ,大到每個子組內(nèi)包 括幾個不合格品 . b) 分組頻率 應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定 分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn) 的問題 .時間間隔短則反饋快 ,但也與大 SPC 63 的子組容量要求相矛盾 . c) 子組的數(shù)量 收集數(shù)據(jù)的時間應(yīng)足 夠 ,長使得能找到所有可能影 ,響過程的 變源 .一般情況下 ,也應(yīng)包括 25 或更多 的子組 ,以便能更好地檢驗過程的穩(wěn)定 性 ,並且如果過程穩(wěn)定 ,對過程性能也可 產(chǎn)生可靠的估計 . SPC 64 計算每個子組內(nèi)的不合格品率 (p) 記錄每個子組內(nèi)的下列值 : 被檢項目的數(shù)量 n 以現(xiàn)不合項目的數(shù)量 np 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率 : p = np / n 這些數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)表中作為初步開究的 SPC