壓力管道的無(wú)損檢測(cè)質(zhì)量控制-免費(fèi)閱讀
【正文】 GB50235管道焊縫無(wú)損檢測(cè)要求 應(yīng)進(jìn)行 100%檢測(cè)的管道 GB50236管道焊縫驗(yàn)收要求 GB50236管道焊縫驗(yàn)收要求 GB50236管道焊縫驗(yàn)收要求 2．法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)無(wú)損檢測(cè)要求 JB/T4730《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》簡(jiǎn)介 JB/T4730 .1～ 4730 .6－ 2023 《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》包括 6個(gè)正文部分，自 2023年 11月 1日起執(zhí)行。而渦流磁場(chǎng)包含了試件各種參數(shù)的信息（形狀、尺寸、缺陷等），因此二磁場(chǎng)疊加后，使線(xiàn)圈的阻抗發(fā)生了變化，通過(guò)測(cè)量線(xiàn)圈阻抗的變化，就可以得到試件性能好壞情況。與其他檢測(cè)方法相比，具有它的獨(dú)特之處，目前主要應(yīng)用于鋼管、型材以及有色金屬領(lǐng)域。見(jiàn)圖（ 1）。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) 滲透檢測(cè) 滲透檢測(cè)是一種以毛細(xì)管作用原理為基礎(chǔ)的檢查 表面開(kāi)口缺陷 的常用檢測(cè)方法。磁粉通過(guò)適當(dāng)?shù)姆椒ㄊ┘拥焦ぜ軝z表面后，在缺陷形成的漏磁場(chǎng)處聚集，形成磁痕，使缺陷被顯現(xiàn)、放大。所以對(duì)于不同的磁性材料，由于具有不同的磁學(xué)特性，所以應(yīng)該采用不同的磁化方法進(jìn)行磁粉檢測(cè)。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) 磁性及磁場(chǎng) 每個(gè)磁體都有一對(duì)磁極即 N極和 S極，而且即使把磁體分割成無(wú)數(shù)小磁體，每一個(gè)小磁體同樣存在 N極和 S極。 ? 無(wú)法得到缺陷直觀(guān)圖象，定性困難，定量精度不高。故超聲波檢測(cè)中缺陷尺寸的檢出極限為超聲波波長(zhǎng)的一半。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) ②超聲波聲束 獲得超聲波的方法有很多，但在超聲檢測(cè)中主要是利用石英、鈦酸鋇等晶體的壓電效應(yīng)獲得超聲波。超聲波可以有縱波、橫波、表面波等多種波型。而面積型缺陷的檢出率受到多種因素影響。 工藝要點(diǎn) 1—— X射線(xiàn)和 γ 射線(xiàn)的應(yīng)用特點(diǎn) γ 射線(xiàn) 主要優(yōu)點(diǎn)： 射源尺寸小 ， 可用于 X射線(xiàn)機(jī)管頭無(wú)法接近的現(xiàn)場(chǎng)；不需電源或水源；運(yùn)行費(fèi)用低； γ 射線(xiàn) 局限性： 探傷靈敏度低 ， 尤其對(duì)薄鋼試件 （ 如 5mm以下 ） ；曝光時(shí)間長(zhǎng) 。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) ．無(wú)損檢測(cè)的原理 γ射線(xiàn)的產(chǎn)生 前面提到 x射線(xiàn)波段范圍很大， γ射線(xiàn)只是其中的一段。在生產(chǎn)制造過(guò)程中使用該項(xiàng)技術(shù)，一可以及時(shí)檢出原始或加工過(guò)程中出現(xiàn)的各種缺陷并加以控制，防止不符合質(zhì)量要求的材料、部件流入下一道工序，避免了工時(shí)、人力和資源的浪費(fèi)。 壓力管道的無(wú)損檢測(cè)質(zhì)量控制 1． 無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) ．無(wú)損檢測(cè)的目的 無(wú)損檢測(cè)的目的有三個(gè)方面： 保證產(chǎn)品質(zhì)量，為質(zhì)量管理提供手段； 質(zhì)量鑒定，供求雙方的共識(shí)； 在用檢測(cè)，保證設(shè)備安全運(yùn)行。 衰減規(guī)律可由下式（在單一波長(zhǎng)時(shí)）表示： I0：穿透物質(zhì)前射線(xiàn)強(qiáng)度 I ：穿透物質(zhì)路程為 d時(shí)的射線(xiàn)強(qiáng)度 u ：物質(zhì)的線(xiàn)吸收系數(shù) 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) ．無(wú)損檢測(cè)的原理 射線(xiàn)束通過(guò)受檢工件時(shí)，其強(qiáng)度被衰減，若工件內(nèi)存在缺陷，則在缺陷部位的射線(xiàn)衰減情況不同與其他部位，作用于感光膠片（ 或其他記錄載體 ）上的射線(xiàn)強(qiáng)度不同，使膠片等受到不同程度的感光影響，從而在底片上顯示出缺陷投影圖象。 目前，較廣泛應(yīng)用的 γ射線(xiàn)源有 60C0 、 192Ir 、 75Se等 。 工藝要點(diǎn) 3—— 透照方式選擇 工藝要點(diǎn) 4—— 透照參數(shù)選擇 焦距 —— 影響幾何不清晰度，選擇焦距必須大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定最小值； K值 —— 影響橫向裂紋檢出率，選擇 K值不得大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值； 射線(xiàn)能量 —— 影響底片對(duì)比度、固有不清晰度、顆粒度；選擇射線(xiàn)能量應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)限定范圍； 曝光量 —— 影響底片黑度，選擇曝光量應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)限定范圍； 底片質(zhì)量要求 底片上定位和識(shí)別標(biāo)記 —— 齊全、影像顯示完整、位置正確； 底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D —— 應(yīng)符合下列規(guī)定:A 級(jí)： ≤ D≤ AB級(jí)： ≤ D≤ ； B 級(jí) ≤ D≤ 底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求； 底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。 射線(xiàn)照相 檢測(cè)成本高， 速度慢。在空氣中聲速為 340M/S，水中聲速為 1500M/S，在鋼中縱波的聲束為 5900M/S，橫波的聲波為 3200M/S。 當(dāng)超聲波傾斜入射到界面上時(shí)，在界面上會(huì)產(chǎn)生的不同方向、不同波型的反射波和折射波。 ? 適宜檢驗(yàn)厚度較大的工件，不適宜檢驗(yàn)較薄的工件。 ，從而影響檢測(cè)精度和可靠性。有： B = μH （ μ》 1） 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) ②磁滯回線(xiàn) 描述鐵磁性材料常使用 BH曲線(xiàn)，而把循環(huán)交變過(guò)程的 BH關(guān)系曲線(xiàn)稱(chēng)做磁滯回線(xiàn)。這是由于缺陷（如裂紋、非金屬雜物等）大都是非磁性物質(zhì)，其磁導(dǎo)率遠(yuǎn)小于鐵磁性材料的磁導(dǎo)率。因此，在磁化操作中，通常需要在兩個(gè)（相互垂直）或多個(gè)方向上進(jìn)行磁化。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) 毛細(xì)現(xiàn)象 當(dāng)把很細(xì)的玻璃管一端插入裝著水的容器中，由于水能濕潤(rùn)管壁，所以可以看到水在這根管子里上升，水面呈凹面，并且高出容器的水面。 1．無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí) 其在過(guò)程可由下圖表示。同樣，試件厚度上渦流的分布也遵守這一規(guī)律，越是趨于試件的表面，渦流的密度越大。 ④由于渦流檢驗(yàn)實(shí)質(zhì)上是檢測(cè)試件導(dǎo)電性能的變化，而試件的尺寸、成份，應(yīng)力以及試件中裂紋、凹坑等缺陷的情況都會(huì)導(dǎo)致電導(dǎo)率的變化，所以，渦流檢測(cè)不僅適用的材料廣，而且可檢測(cè)的試件參數(shù)也多，但同時(shí)帶來(lái)了信號(hào)處理復(fù)雜的問(wèn)題。 滿(mǎn)足： 分級(jí) 適用于 2— 400mm， 碳素鋼 、 低合金鋼 、 奧氏體不銹鋼等； 2— 80mm銅及銅合金； 2—80mm銅及銅合金； 2— 50mm鈦及鈦合金等； B. 承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向
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