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正文內(nèi)容

儀器分析原子發(fā)射光譜分析-免費(fèi)閱讀

  

【正文】 ● 適宜于作低含量及 痕量元素的分折 。 3. 均稱(chēng)線對(duì)法 選擇基體元素或樣品中組成恒定的某元素的一些譜線做為待測(cè)元素分析線的均稱(chēng)線對(duì) (激發(fā)電位相近的譜線 ),通過(guò)二者的比較來(lái)判斷待測(cè)成分的近似含量。 二、乳劑特性曲線 若譜線的記錄方式為感光板顯影記錄時(shí),實(shí)驗(yàn)測(cè)量到的參數(shù)為譜線黑度值 S,此黑度與光譜線強(qiáng)度之間的關(guān)系與感光板的性質(zhì)有關(guān),它們之間的記錄響應(yīng)曲線叫 “乳劑特性曲線”。這樣可以使譜線強(qiáng)度由于光源的波動(dòng)而引起的變化得到補(bǔ)償。若以此線為分析線就可以定性分析某元素。 Phototube 光電法 光電法用光電倍增管、光電二極管或 CCD檢測(cè)器直接獲得光譜線的相對(duì)強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。 二、 光譜儀(攝譜儀 Spectrograph) (見(jiàn)下頁(yè)圖) 光譜儀的核心是分光系統(tǒng)和記錄系統(tǒng) B★ 準(zhǔn)直透鏡 照明系統(tǒng) (lighting system) 色散系統(tǒng) (dispersive system) 投影系統(tǒng)( projection system) 1. Prism spectrograph 凹面鏡 凹面鏡 2. Grating spectrograph IRIS Advantage 中階梯光柵分光系統(tǒng)(實(shí)物圖) 表明分光能力的指標(biāo)為: (nm/mm), (nm). 3. 光譜檢測(cè)部件 在原子發(fā)射光譜法中,常用的檢測(cè)方法有: 目視法、攝譜法和光電法 目視法 用眼睛來(lái)觀測(cè)譜線強(qiáng)度的方法稱(chēng)為 目視法 (看譜法)。 ( 2)內(nèi)焰區(qū) 在感應(yīng)圈上 10 ~20mm左右處,淡藍(lán)色半透明的炬焰,溫度約為 6000 ~8000K。感耦高頻等離子炬的裝置,由高頻發(fā)生器、進(jìn)樣系統(tǒng)(包括供氣系統(tǒng))和等離子炬管三部分組成。廣泛用于定性、定量分析中,但靈敏度稍差。 1,無(wú)自吸; 2,自吸; 3,自蝕 167。 激發(fā)溫度 (Excitation temperature) 溫度升高,譜線強(qiáng)度增大。共振線具有最小的激發(fā)電位,因此最容易被激發(fā), 為該元素最強(qiáng)的譜線。 AE、 AA ? 按能量交換方向分 吸收光譜法 發(fā)射光譜法 ? 按作用結(jié)果不同分 原子光譜 → 線狀光譜 分子光譜 → 帶狀光譜 區(qū) 別 : 非光譜法:利用物質(zhì)與電磁輻射的相互作用測(cè)定電磁輻射的反射、折射、干涉、衍射和偏振等基本性質(zhì)變化的分析方法 分類(lèi):折射法、旋光法、比濁法、 χ射線衍射法 ? 光譜法:內(nèi)部能級(jí)發(fā)生變化 原子吸收 /發(fā)射光譜法:原子外層電子能級(jí)躍遷 分子吸收 /發(fā)射光譜法:分子外層電子能級(jí)躍遷 ? 非光譜法:內(nèi)部能級(jí)不發(fā)生變化 僅測(cè)定電磁輻射性質(zhì)改變 三 、 發(fā)射光譜與吸收光譜 光基態(tài)激發(fā)態(tài)釋放能量發(fā)光 ?hMM ?????? ?? ?*發(fā)射光譜? ??激發(fā)態(tài)光基態(tài)吸收輻射能量 *MhM ???? ??? ??例: γ 射線; x射線;熒光 ?例:原子吸收光譜 , 分子吸收光譜 吸收光譜? ?? 167。 2.電磁輻射的性質(zhì):具有波、粒二像性;其能量交換一般為單光子形式,且必須滿(mǎn)足量子躍遷能量公式: 3. 電磁波譜:電磁輻射按波長(zhǎng)順序排列就稱(chēng)光譜 。 原子中某一外層電子由基態(tài)激發(fā)到高能級(jí)所需要的能 量稱(chēng)為 激發(fā)電位 (Excitation potential)。
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