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其它顯微分析方法-免費(fèi)閱讀

2025-08-18 00:32 上一頁面

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【正文】 b)CO轉(zhuǎn)變?yōu)?CO2 4 X射線光電子能譜分析( XPS) 特點(diǎn): 最廣泛應(yīng)用的表面分析方法之一; 主要用于成分和化學(xué)態(tài)的定性及定量分析。 XPS結(jié)構(gòu) 典型 XPS譜 。這些光電子從產(chǎn)生處溢出表面,用能量分析器分析光電子的動(dòng)能,可得 X射線光電子能譜。第四部分 其它顯微分析方法 主要內(nèi)容 ? 俄歇電子能譜儀( AES) ? 場(chǎng)離子顯微鏡( FIM) ? 掃描隧道顯微鏡( STM) ? X射線光電子能譜分析( XPS)
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