pcb設(shè)計(jì)規(guī)范——生產(chǎn)可測(cè)性要求-免費(fèi)閱讀
【正文】 單板的自測(cè)試結(jié)果應(yīng)能按一定的通訊協(xié)議通過(guò)通訊接口向板外輸出。 各單板的硬軟件接口應(yīng)統(tǒng)一和標(biāo)準(zhǔn)，如使用統(tǒng)一的通訊接口等。 所有的Flash Memory、FPGA、CPLD等需要在線編程的器件必須在所有的管腳上留出測(cè)試點(diǎn)。,177。 ，每個(gè)布線網(wǎng)絡(luò)都應(yīng)當(dāng)設(shè)置一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，在單板電源和地走線上，每2A電流至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。 功能測(cè)試通過(guò)功能測(cè)試儀模擬被測(cè)試單板實(shí)際運(yùn)行的環(huán)境來(lái)確認(rèn)單板所有的功能的一種測(cè)試方法。2 定義 本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義。 為使在線測(cè)試可行和方便，單板上的元器件（特別是SMT器件）應(yīng)設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)，或者采用具有邊界掃描測(cè)試（BST）功能的IC。 177。必須接一個(gè)上拉或下拉電阻（不小于470Ω），典型值為1KΩ。所有芯片的TCK、TMS、TRST（若有的話）連在一起；b） 第一塊芯片的TDO連第二塊的TDI，依次類推，直至最后一片；c） 如圖8所示CTDI、CTCK、CTMS、CTRST網(wǎng)絡(luò)上均接有上拉或下拉電阻，避免引腳懸空，典型電阻值取1KΩ；d） 在如圖標(biāo)有 處，均須設(shè)置測(cè)試點(diǎn)；+ CTDI …… CTCKCTMSCTRSTTDI TDOTCK TMS TRST TDI TDOTCK TMS TRSTTDI TDOTCK TMS TRST圖8 邊界掃描芯片測(cè)試點(diǎn)e） 在兩個(gè)有邊界掃描功能的芯片之間存在一些非邊界掃描芯片，如果這些非邊界掃描芯片的邏輯不復(fù)雜，（例如，74系列的中小規(guī)模邏輯芯片）那么這些與邊界掃描芯片相連的非邊界掃描芯片的引腳可以不加測(cè)試點(diǎn)。 單板版本升級(jí)時(shí)盡量不改變硬件接口。 單板設(shè)計(jì)應(yīng)盡量滿足帶電插拔要
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