pcb設(shè)計規(guī)范——生產(chǎn)可測性要求(文件)
【正文】 試。 單板應(yīng)可以由外部設(shè)備通過通訊口按一定的通訊協(xié)議實現(xiàn)該單板的所有功能配置。 單板版本升級時盡量不改變硬件接口。 連接器上的輸出插針應(yīng)具有足夠的驅(qū)動能力（扇出降額），以便驅(qū)動測試板。所有芯片的TCK、TMS、TRST（若有的話）連在一起；b） 第一塊芯片的TDO連第二塊的TDI，依次類推，直至最后一片；c） 如圖8所示CTDI、CTCK、CTMS、CTRST網(wǎng)絡(luò)上均接有上拉或下拉電阻，避免引腳懸空，典型電阻值取1KΩ；d） 在如圖標有 處，均須設(shè)置測試點；+ CTDI …… CTCKCTMSCTRSTTDI TDOTCK TMS TRST TDI TDOTCK TMS TRSTTDI TDOTCK TMS TRST圖8 邊界掃描芯片測試點e） 在兩個有邊界掃描功能的芯片之間存在一些非邊界掃描芯片，如果這些非邊界掃描芯片的邏輯不復(fù)雜，（例如，74系列的中小規(guī)模邏輯芯片）那么這些與邊界掃描芯片相連的非邊界掃描芯片的引腳可以不加測試點。測試點的大小間距按照上面的規(guī)定執(zhí)行。必須接一個上拉或下拉電阻（不小于470Ω），典型值為1KΩ。177。 177。測試點盡量集中在焊接面，且要求均勻分布在單板上。 為使在線測試可行和方便，單板上的元器件（特別是SMT器件）應(yīng)設(shè)計測試點，或者采用具有邊界掃描測試（BST）功能的IC。3 基本要求 總體方案確定的子系統(tǒng)、模塊或單板應(yīng)有通訊接口。2 定義 本標準采用下列定義。本標準適用于PCB的設(shè)計。 功能測試通過功能測試儀模擬被測試單板實際運行的環(huán)境來確認單板所有的功能的一種測試方法。 在總體方案中為子模
公司管理相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1