【正文】 %15 A縱軸： 左：頻數(shù)刻度，最大為總件數(shù) 右：頻率（比率）刻度，最大數(shù)為 100%。 示范圖（見(jiàn)下頁(yè)）16很明顯，上圖中變形和露鋁為 A類(lèi)不良項(xiàng)，需立即采取措施改善；硬塊為 B類(lèi)不良項(xiàng)；暗痕和其他為C類(lèi)不良項(xiàng)。18練習(xí)：請(qǐng)使用下列數(shù)據(jù)作一張排列圖，并加以分析（ 15分鐘）： 063048電池卷繞不良情況如下： 批量： 20230PCS 不良 200PCS，其中負(fù)極包不住正極 100PCS，正極折片40PCS，正負(fù)極掉粉 30PCS，定位不當(dāng) 20PCS，其他 10PCS。要從這些錯(cuò)綜復(fù)雜的因素中理出頭緒，抓住關(guān)鍵因素，就需要利用科學(xué)方法，從質(zhì)量問(wèn)題這個(gè) “結(jié)果 ”出發(fā)，依靠群眾，集思廣益，由表及里，逐步深入，直到找到根源為止。 也可用：工序順序等分類(lèi) 分類(lèi)好后，用中箭頭與主箭頭成 45176。 ，凡影響重大的重要因素可加上 小圈等記號(hào)，按已有數(shù)據(jù)、搜集不到數(shù)據(jù)、未取數(shù)據(jù) 等情況，還可加上其他簡(jiǎn)便記號(hào)。23 、對(duì)策表等； ，以便以后不斷追加新內(nèi)容。然后將卡片按一定規(guī)則分類(lèi)（如 4M1E）張貼于魚(yú)刺圖形上。 現(xiàn)場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)可以發(fā)動(dòng)群眾對(duì)卡片進(jìn)行評(píng)價(jià)，分析各個(gè)因素的影響大小，對(duì)策措施的有效程度，并用規(guī)定的符號(hào)來(lái)標(biāo)明卡片的實(shí)施進(jìn)程。因果圖再質(zhì)量管理活動(dòng)中，尤其是在 QC小組、質(zhì)量分析和質(zhì)量改進(jìn)活動(dòng)中有著廣泛的用途。通常用縱軸代表結(jié)果，橫軸代表原因。實(shí)際上也是一種實(shí)驗(yàn)的方法。39二、直方圖的作圖步驟 N（樣本數(shù)） 組 數(shù)50100 610100250 1020250↑ 102040 L及最小值 S，計(jì)算全距 R R=LS R247。四、示范圖樣（見(jiàn)下頁(yè)）4243五、常見(jiàn)的直方圖形狀圖 A：正常形（對(duì)稱(chēng)形）：常態(tài)，中間高兩邊低，左右對(duì)稱(chēng)。如不同的加工者、不同的設(shè)備生產(chǎn)出的產(chǎn)品、不同的材料等圖 D：鋸齒形：像鋸齒一樣凹凸不平，多由分組不當(dāng)或檢測(cè)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)造成，就查明原因，采取措施、重新作圖解析45圖 E： 平頂形：無(wú)突出頂峰，生產(chǎn)過(guò)程中有緩慢變化的因素影響造成。2. 20年代美國(guó) （ )首創(chuàng)過(guò)程控制（ PROCESS CONTROL）及監(jiān)控過(guò)程的工具 —— 控制圖（ Control chart)，現(xiàn)統(tǒng)稱(chēng)為 SPC（ Statistical Process Control，統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制）。其局限性在于不能告知導(dǎo)致異常發(fā)生的因素，發(fā)生于何處，即不能進(jìn)行診斷。加入WTO后，國(guó)際市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)愈益激烈，推行工業(yè)發(fā)達(dá)國(guó)家普遍采用的 SPC勢(shì)在必行。圖上有中心線（ CL， Central Line)、上控制限(UCL,Upper Control Limit)、下控制限 (LCL,Lower Control Limit)，并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列。 （ 2）正態(tài)分布是一條曲線，討論起來(lái)不方便，通常采用其兩個(gè)參數(shù)平均值（ μ）與標(biāo)準(zhǔn)差（ σ）。 54● 隨機(jī)性變異由一般原因（偶然原因）引起。又稱(chēng)為非機(jī)遇原因，或稱(chēng)可歸屬原因 .乃為制程中某些失誤造成 .失誤的來(lái)源，可能 4M1E等，此等變異比一般原因造成之變異大，且非周期性產(chǎn)生，若發(fā)生則表示制程已失去控制了。要貫徹預(yù)防原則就必須執(zhí)行 “20字方針 ”（ 20字方針應(yīng)與點(diǎn)子出界就變異連起來(lái)使用）：查出原因、采取措施、保證（加以）消除、不再出現(xiàn)、納入標(biāo)準(zhǔn)（管制）n 控制狀態(tài)（穩(wěn)態(tài)）：過(guò)程中只有偶因而無(wú)異因產(chǎn)生變異的狀態(tài)。由于點(diǎn)子在界內(nèi)而判定正常，就犯了漏發(fā)警報(bào)的錯(cuò)誤），所以打一個(gè)點(diǎn)子未出界不能立即判穩(wěn)。58判異準(zhǔn)則有兩類(lèi)： ① 點(diǎn)出界就判異； ② 界內(nèi)點(diǎn)排列不隨機(jī)就判異。 模式二： 鏈。59模式三： 間斷鏈。對(duì)于上升傾向也有相應(yīng)的要求。如不良數(shù)、缺點(diǎn)數(shù)等。 控制用控制圖：先有數(shù)據(jù)，主要用途為控制制造之品質(zhì)，若有點(diǎn)子出界，應(yīng)立即采取措施62216。等到過(guò)程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，才能延長(zhǎng)控制圖的控制線作為控制用控制圖。63（ 3） XR控制圖是計(jì)量值最常用、最重要的控制圖 X圖的控制線 A2系數(shù)表 UCLX=X+A2R CLX=X LCLX=XA2R R圖的控制線 D D4系數(shù)表： UCLR=D4R CLR=R LCLR=D3R在 XR圖中，我們應(yīng)該先作哪一個(gè)圖？ X圖，則由于這時(shí) R圖還未判穩(wěn)， R的數(shù)據(jù)不可用，故不可行。若 R圖未判穩(wěn)，則永不能開(kāi)始作 X圖。 ① 至少取 35組； ② 樣本容量； ③ 合理子組原則。步驟五：計(jì)算 R圖控制線、 X圖控制線，并作圖。若過(guò)程能力指數(shù)滿(mǎn)足技術(shù)要求，則轉(zhuǎn)入步驟八；若過(guò)程能力指數(shù)不滿(mǎn)足技術(shù)要求，則需調(diào)整過(guò)程直至過(guò)程能力指數(shù)滿(mǎn)足技術(shù)要求為止。 66（ 5） P控制圖① 收集數(shù)據(jù)② 計(jì)算不合格率及平均不合格率③ 計(jì)算管制界限④ 繪制中心線及控制界限，并將各點(diǎn)描入圖中⑤ 交各數(shù)據(jù)特殊原因記錄，以備查考、分析及判斷67QC七大手法總結(jié)QC七大手法總結(jié)： 作解析 集數(shù)據(jù) 抓重點(diǎn) 追原因 看相關(guān) 顯分布 查異常68n THANKS！謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH