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基于atmega 8單片機(jī)的電子元件測試儀 畢業(yè)設(shè)計論文-預(yù)覽頁

2025-03-30 08:40 上一頁面

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【正文】 ....................................... 14 致 謝 ...................................................................................................... 錯誤 !未定義書簽。 對該課題的研究有助于了解電子元件的各個參數(shù)與電子元件的 優(yōu)劣 。 在系統(tǒng)的硬件設(shè)計中,以 ATmega 8單片機(jī) 為核心的電子元件測試儀 , 使用對應(yīng)的震蕩電流對被測元件 進(jìn)行充放電 計算 實(shí)現(xiàn)各個參數(shù)的測量。 因此,設(shè)計可靠、安全、便捷的電子元件測試儀具有極大的現(xiàn)實(shí)必要性。 論文 詳細(xì)說明該系統(tǒng)的基本原理、硬件框架、主要電路以及軟件框架。 Tester。 但 是 這些儀器一般采用模擬電路 制作 , 制作復(fù)雜 , 而且價格昂貴 。 對于普通的電子愛好者來說需要一個體積小巧價格便宜的測量設(shè)備 ,所以就 制作一個適合電子愛好者使用的測量儀器。 第 3 節(jié) 技術(shù)路線 單片機(jī)在實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品智能化方面扮演著重要的角色。 系統(tǒng) 的 選擇方案與論證如下: 核心模塊的選擇 鑒于核心模塊 在 整個測量系統(tǒng)中的重要地位,這里給出了核心處理器的幾種設(shè)計方案,對各方案進(jìn)行詳細(xì)介紹,并從中選擇了一種適用于本次設(shè)計的方案。振蕩器的震蕩頻率 f=(R1+2R2)C1, 圖示參數(shù)的震蕩頻率約為 850Hz。 其原理圖如圖 11 所示。并且 采用 DDS 芯片 AD9852 形成單片機(jī)控制的 數(shù)控頻率源 。因此方案三更適合本次設(shè)計。 方案選擇論證:在方案一中,通過串口實(shí)現(xiàn)在電腦上顯示元件參數(shù)使設(shè)計對電腦的依賴性很大,違背了簡單方便的原則。供電模式分為以下三種方 案: 方案一:使用外接電源供電。 4 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計 與軟件設(shè)計 第 1 節(jié) 電子元件測試 系統(tǒng)功能說明與組成 電子元件測試 儀的主要功能如下: 1.電阻器和電容器的測量 2. 自動檢測 NPN 和 PNP 三 晶體管, N 溝道和 P 溝道 MOSFET,二極管(包括雙二極管) ,晶閘管 3. 自動檢測和測試元件的引腳 4.測量 MOSFET 的柵極閾值電壓和柵電容 5. 使用液晶 LCD1602 顯示數(shù)據(jù) 6. 一鍵操作, 自動測量 電子元件測試 儀 的系統(tǒng)組成 該智能晶體管測量儀主要由主控制器模塊、晶體管測試模塊、顯示模塊、測試按鍵模塊、電源模塊組成。所以系統(tǒng)程序是依賴于電源供電,必 需 要帶+5V 穩(wěn)壓,并用一個 AD 通道監(jiān)測輸入電壓以保證穩(wěn)壓芯片兩端有足夠壓降。采樣電阻 R1~R7 對結(jié)果影響很大,所以需要每個電阻的阻值盡量接近 680Ω 和 470KΩ。但由于采用了小引腳封裝,所以其價格僅與低檔單片機(jī)相當(dāng),同時也為單片機(jī)的初學(xué)者提供了非常方便和簡捷的學(xué)習(xí)開發(fā)環(huán)境 [2]。 ATmega 8 單片機(jī)的引腳配置 圖 23 ATmega 8 引腳圖 ATmega 8 單片機(jī)引腳說明:端口 C(PC7—— PC0)作為 A/D 轉(zhuǎn)換器的模擬輸入端。在復(fù)位過程中,即使系統(tǒng)時鐘還未起振,端口 C 處于高阻狀態(tài)。在復(fù)位過程中,即使系統(tǒng)時鐘還未起振,端口 B 處于高阻狀態(tài)。作為輸入使用時,若內(nèi)部上拉電阻使能,則端口被外部電路拉低時將輸出電流。持續(xù)時間超過最小門 7 限時間的低電平將引起系統(tǒng)復(fù)位。 AVCC 是端口 A 與 A/D 轉(zhuǎn)換器的電源。 其他元件說明 在本設(shè)計中采用 L7805 三端穩(wěn)壓 IC 來組成穩(wěn)壓電源 , 所需的外圍元件極少,電路內(nèi)部還有過流、過熱及保護(hù)電路,使用起來可靠、方便,而且價格便宜。第 2 腳 為 VDD 接 5V 電源正 極 。第 6 腳 是 E 端為使能端。 8 圖 26 LCD1602 實(shí)物圖 第 3 節(jié) 電子元件 的測量原理 電子元件的測試儀的測試電路如圖 31 所示, PX、 PY、 PZ分別接入 ATmega 8 單片機(jī)的 ADC 模塊引腳, PX PX PY PY PZ PZ2 分別接入 ATmega 8 單片機(jī)端口 B 雙向 I/O 口,當(dāng) X Y Z 引腳接入被測元件后,按下測試按鈕, 程序就會分別設(shè)置 X Y Z 通道電平,分別測量 X Y Z 這 3 個通道電阻上是否存在電壓,所有 ADC 通道都進(jìn)行對 X Y Z 通道上電阻上壓降的采樣, 只要任意一個通道上電阻有壓降說明導(dǎo)通了, 只要導(dǎo)通則記錄其狀態(tài),然后根據(jù)對照真值表可以得出 X Y Z 引 腳接的是電子元件中 哪 一只 引 腳。最 9 后由 LCD1602 顯示出晶體管的參數(shù)。 表 41 電阻參數(shù)測試結(jié)果 電阻 阻值 3Ω 5Ω 100Ω 102Ω 735Ω 997Ω 10 KΩ KΩ 1M Ω 9092K Ω 表 42 二極管參數(shù)測試結(jié)果 A K Uf 紅色發(fā)光 LED 1 2 1708mV 綠色發(fā)光 LED 2 1 2926mV 二極管 IN4001 2 1 697 mV 二極管 IN4007 3 1 687mV 表 43 電容參數(shù)測試結(jié)果 電容 引腳 引腳 Uf 103J 3 1 473J 3 1 474 3 1 3 1 220uF 3 1 uF 330uF 3 1 11 表 44 半導(dǎo)體元件參 數(shù)測試結(jié)果 元件 型號 引腳 引腳 引腳 C8550 PNP B=2 C=3 E=1 Hfe=218 Uf=893mV 8050D NPN B=2 C=3 E=1 Hfe=158 Uf=805mV A1015 PNP B=1 C=2 E=3 Hfe=653 Uf=785mV 9015 PNP B=1 C=2 E=3 Hfe=762 Uf=780mV E1300S NPN B=1 C=2 E=3 Hfe=51 Uf=648mV 6N60 NEMOS C= GDS=123 Vt=4080mV 由于使用的采樣電阻不是很精確,在焊接上也存在導(dǎo)線的內(nèi)阻,因此在對 電阻器電容器 的測量上隨著參數(shù)的增加精確度也隨之降低。但習(xí)慣上常將兩者混用而不加區(qū)別。在測量過程中,電子元件的引腳與插座之間的接觸不良或是懸空也對產(chǎn)生偶然誤差和過失誤差 [7]。數(shù)據(jù)采集介紹了如何在單片機(jī)與硬件電路的連接,闡述了如何利用 ADC 模塊 來進(jìn)行數(shù)據(jù) 采集 ,保證通信過程不出現(xiàn)邏輯紊亂。 總之,在設(shè)計過程學(xué)到了許多,作為現(xiàn)代的大學(xué)生,如果僅僅停留在以往的書面層次上,是遠(yuǎn)遠(yuǎn)跟不上時代步伐的,也無法使自己立足在競爭如此激烈的社會里 。 //該狀態(tài)下需要讀取的 AD 通道 state=0。 //設(shè)置所有輸出為高阻 //下面設(shè)置 X Y Z分別輸出 0 1 Z(共 6種組合 ),得到被測管狀態(tài) ,根據(jù)狀態(tài)判斷被測管是啥類型 引腳如何 for(i=0,state2=0x20。0x3)。 vH=2。 vH=ADC_DATA。 //但如果接的是很大阻值的電阻,那么 470 上的電壓很低,也會少于 20mV,以為沒導(dǎo)通,所以撤換成 R=120K 再測量。 SetPort(PZ2,vHamp。0x3)。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 SetPortZ(PY2)。 if (TestBJT(1,PinX,PinY,PinZ,amp。 } Else if (TestBJT(1,PinX,PinZ,PinY,amp。 } //BEC else {Pin=0。VBE,amp。VBE,amp。 } break。tjA shfP39。 QA9wkxFyeQ^! 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