spc統(tǒng)計(jì)制程管制與基本概念-全文預(yù)覽
【正文】 24 日復(fù)一日的努力只為成就美好的明天。5mm(即175mm至185mm) 透過(guò)量測(cè)得數(shù)據(jù)如下: 厚度(mm),求1.Cp, Cpk? 2.如果我規(guī)格改為178~182mm,求Cpk和超出規(guī)格 之不良率?,Qamp。20 = 0.66,x1+x2+x3+……+xk,k,5.計(jì)算全距之平均值( R ) R= =(0.08+0.07+0.06+0.09+0.10+0.08+0.07+0.11+0.07 +0.08+0.08+0.08+0.08+0.07+0.11+0.11+0.10+0.07 +0.03+0.03)247。3σ 作為管制上下限?,原因1. “3σ”原則 概率正態(tài)分布之性質(zhì)在 μ177。若先作R圖,由於R圖中只有R一個(gè)數(shù)據(jù),可行. 5.當(dāng)樣本大小n 10時(shí),規(guī)定R圖不可用 因?yàn)楫?dāng)樣本大小n較大時(shí),極差只抓到數(shù)據(jù)的兩頭:極大值與極小值,應(yīng)用極差R估計(jì)總體標(biāo)準(zhǔn)差的效率大為減低.,管制圖的判讀原則,制程是否在管制狀態(tài)可用下列原則判斷: 1 管制圖上的點(diǎn)都出現(xiàn)在管制界限內(nèi)側(cè),並沒(méi)有 特別排法時(shí),原則上認(rèn)為制程是正常.這種狀態(tài) 謂之管制狀態(tài). 2 管制圖上有點(diǎn)超出管制界限外時(shí),就判斷制程 有了異常變化,這種狀態(tài)謂之非管制狀態(tài).,3 管制圖上的點(diǎn)雖未超出管制界限,但點(diǎn)的出現(xiàn) 有下列法時(shí),就判斷有異常原因發(fā)生. (a)點(diǎn)在中心線的單側(cè)連續(xù)出現(xiàn)7點(diǎn)以上時(shí) (b)出現(xiàn)的點(diǎn)連續(xù)11點(diǎn)中有10點(diǎn),14點(diǎn)中有12點(diǎn),17點(diǎn) 中14點(diǎn),20點(diǎn)中16點(diǎn)出現(xiàn)在中心線的單側(cè)時(shí),(c)7點(diǎn)連續(xù)上升或下降的傾向時(shí) (d)出現(xiàn)的點(diǎn),連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn),7點(diǎn)中有3點(diǎn),10點(diǎn)中有 4點(diǎn)出現(xiàn)在管制界限近旁(2δ線外)時(shí),(e)出現(xiàn)的點(diǎn),有周期性變動(dòng)時(shí),(g) 5點(diǎn)中有4點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外者,(f) 3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外者,(h) 有8點(diǎn)在中心線之兩側(cè),但C區(qū)並無(wú)點(diǎn)子者,(i) 連續(xù)14點(diǎn)交互著一升一降者,(j) 連續(xù)15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)之C區(qū)者,(k) 有1點(diǎn)在A區(qū)以外者,二. 技 能 篇,制程掌控圖 Precontrol Chart,1.1 目的: 使各零件生產(chǎn),成品生產(chǎn)中重要尺寸或可量測(cè)數(shù)據(jù) 得到掌控 1.2 范圍: 適用于本公司所有零件及成品制程掌控 1.3 定義: 籍以相同時(shí)間內(nèi),以重要管制尺寸平均值的趨勢(shì)變化,來(lái)體 現(xiàn)管制變異的程度。統(tǒng)計(jì)制程管制SPC,一. 基 礎(chǔ) 篇,SPC基本概念,SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計(jì)制程管制 是由制程調(diào)查來(lái)改進(jìn)制程能力,不斷降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異性,而達(dá)到提升產(chǎn)品品質(zhì)的一種方法,其主要工具為管制圖. 是一套將制程中所收集的資料,透過(guò)制程能力分析與標(biāo)準(zhǔn)化,去發(fā)掘制程異常,立即實(shí)施改善措施,使制程恢復(fù)正常運(yùn)作的統(tǒng)計(jì)手法. S (Statistical) : 統(tǒng)計(jì) P (Process) : 制程 C (Control) : 管制,SPC管制目的,分辯共同原因與特殊原因,并分別加以改善 局部問(wèn)題改善: 通常會(huì)牽涉到消除變異產(chǎn)生的特殊原因 可以直接由該制程人員直接加以改善 大約能夠解決15%的制程上的問(wèn)題 系統(tǒng)改善: 通常必須要改善造成變異的共同原因 經(jīng)常需要管理階的努力與對(duì)策 大約有85%的問(wèn)題是屬于此類系統(tǒng)改善,SPC起源與發(fā)展背景,管制圖于1924年由 W.A Shewhart 發(fā)明,并于1931年發(fā)表了,英美及日本都將管制圖制定方法定為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn).,SPC的功能,SPC可以確?，F(xiàn)場(chǎng)作業(yè)人員的知識(shí)和自尊. SPC可以解決 X理論(提高生產(chǎn)力與品質(zhì)) 與Y理論(工作人性化)的衝突. SPC可以迅速反映制程調(diào)整的效果,指出 制程中最需要解決的問(wèn)題.還可徹底消除 問(wèn)題,預(yù)防問(wèn)題再度發(fā)生.,SPC的觀念,沒(méi)有任何兩件事.人.產(chǎn)品是一模一樣的. 變異原因是可以衡量的. 事情的改變通常都依據(jù)一個(gè)明確的模式. 宇宙萬(wàn)物和工業(yè)產(chǎn)品大部份都呈現(xiàn) 常態(tài)分配.,統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)類型:計(jì)量。 2. 規(guī)範(fàn)界限不能用作控制界限 規(guī)範(fàn)界限用以區(qū)分合格與不合格,控制界限用以區(qū)分偶波與異波,二者完全是兩碼事,不能混淆. 3.np控制圖用于控制對(duì)象為不合格數(shù)的場(chǎng)合,只有在樣本大小n相同的情況下, np圖才可應(yīng)用. 4.ISO8258明確規(guī)定:在制作X R圖時(shí),應(yīng)該先作R圖. 若先作X圖,由於R圖還未判穩(wěn),R的數(shù)據(jù)不可用,故不可行。 全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散趨勢(shì)的狀況.,,直方圖,常態(tài)分布圖,SPC CHARTS管制圖,n30時(shí),直方圖 常態(tài)分布圖
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