【正文】 評片要求 評片一般應在專用的評片室內進行。 ? 膠片處理一般應按膠片使用說明書的規(guī)定進行。 （ 3）除中心 100％透照或連續(xù)多張一次曝光外，否則每張底片上均應有中心標記。 理解：（ 1）未對返修標記 ,擴大檢測比例的擴大檢測標記作出統(tǒng)一規(guī)定。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向 ,一般用十字箭頭“ ↑→ ”表示。標記一般由適當尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數字、拼音字母和符號等構成。（考慮深槽焊）（ 5）“ F”標記的影像應與像質計的 標記 同時出現在底片上（像質計的標記是指像質計上的標準號） 應用：（ 1）只有在單壁透照，象質計放在膠片測時才進行對比試驗，其他方式均不用做對比試驗。 小徑管可選用通用線型像質計或附錄 F（規(guī)范性附錄）規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質計，金屬絲應橫跨焊縫放置。 原則上每張底片上都應有像質計的影像。 b) 單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時 ,像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。 檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“ B”鉛字標記，一般 B鉛字的高度為 13mm、厚度為 ,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。射線設備更換重要部件或經較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。min、焦距改變時按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。 采用 γ射線源透照時 , 總的曝光時間應不少于輸送源往返所需時間的 10倍。 曝光量 Ｘ射線照相，當焦距為 700mm時，曝光量的推薦值為： A級和 AB級射線檢測技術不小于 15mA（ 2）鼓勵和提倡采用內透法特別是中心內透法。 有效焦點尺寸 d 按附錄 E（規(guī)范性附錄）的規(guī)定計算。 射線源至工件表面的最小距離 所選用的射線源至工件表面的距離 f應滿足下式的要求： － A 級射線檢測技術： f ≥ 如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。如最小透照厚度小于 10mm時，即使合同各方同意也不能實施。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度達到 ，經合同各方同意， A 級 ,AB級技術的 Ir192源的最小透照厚度可降至 10mm， Se75源的最小透照厚度可降至 5mm。 理解：（ 1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術級別無關（ 2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避免影響小缺陷的檢出率。在采用較高管電壓時，應保證適當的曝光量。鑒于透照一次不能實現焊縫全長的 100%檢測，此時應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。垂直透照重疊成像時，一般應相隔 120176。透照 2次。 （在用設備） 注意：其他方式透照環(huán)向對接接頭時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。 理解：（ 1）單壁透照最有利于發(fā)現缺陷，但并不是最便捷的透照方法。 透照方向 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現缺陷的方向透照。 注意：盡管兩個標準的某些條款內容相同或相近，但在使用中不能相互代替。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。返修焊縫應采用 AB級或達到 AB級靈敏度 輻射防護 放射衛(wèi)生防護應符合 GB 1887 GB 16357和 GB 18465的有關規(guī)定。 理解：（ 1）承壓類設備的制造、安裝、在用的檢測技術級別一般不應低于 AB級（ 2）承壓設備在用檢測特殊情況下可以采用 A級檢測技術（ 3）檢測方技術負責人系指無損檢測單位的技術負責人，如是制造、安裝單位或檢驗單位，檢測方技術負責人是指該單位的總工程師或分管技術的領導（ 4）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用 AB級射線檢測技術進行檢測。（ 3）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。 除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。 應用：（ 1）應根據檢測技術級別、透照方式和像質計擺放的位置及公稱厚度（ T）透照厚度（ W）確定像質計靈敏度（ 2）以低原子序數材料制作的像質計可以用于高原子序數材料制成的工件照相。線型像質計的型號和規(guī)格應符合 JB/T 7902的規(guī)定， JB/T 7902中未包含的絲徑、線號等內容，應符合 HB 7684的有關規(guī)定。（ 3）如采用 Co60或高能 X射線（ 4MeV以下）選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術級別有關。黑度計的校驗應有記錄并有校驗者和審核者簽字，保存到下一校驗周期。 。 觀片燈 觀片燈的主要性能應符合 JB/T 7903的 有關規(guī)定。（ 2）檢測的技術級別與膠片的類別有關。膠片的本底灰霧度應不大于 。膠片系統(tǒng)的特性指標見附錄 A（資料性附錄）。從事評片的人員應每年檢查一次視力。（ GB標準除外）例如附錄 F專用像質計的標識。例如 JB/T 7903— 1999的有關規(guī)定。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分。 2 、應用：（ 1）對不同的金屬材料透照的厚度不同例如碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金透照厚度 2－ 400mm（ ）鋁及鋁合金透照厚度 2－80mm（ ）鈦合金 2－ 50mm（ ）（ 2）不適用范圍；鍛件、管材、棒材。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。 本部分適用于承壓設備的制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。 理解：（ 1）適用對象包括承壓設備的制造、安裝、在用（ 2）檢測的金屬材料包括； 碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金（ 3） A級 AB級 B級系指檢測技術分級，不是底片質量分級。 2 規(guī)范性引用文件 ? 下列文件中的條款，通過 JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。 GB 11533— 1989 標準對數視力表 GB 16357— 1996 工業(yè)Ｘ射線探傷放射衛(wèi)生防護標準 GB 18465— 2023 工業(yè) γ射線探傷放射衛(wèi)生防護要求 GB 18871— 2023 電離輻射防護及輻射源安全基本標準 GB/T — 2023 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第 1部分： 工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類 GB/T — 2023 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第 2部分： 用參考值方法控制膠片處理 HB 7684— 2023 射線照相用線型像質計 JB — 2023 承壓設備無損檢測 第 1部分：通用要求 JB/T 7902— 1999 線型像質計 JB/T 7903— 1999 工業(yè)射線照相底片觀片燈 （共計 10個 ) 理解：（ 1） JB/T4730直接引用了文件中的某些條款（ 2）在工作中要執(zhí)行這些標準中的有關規(guī)定。 注意：（ 1）凡從事射線檢測的單位或部門應有這 10個標準的原件（ 2）當某些條款與 JB/T4730不相符時，以 JB/T4730規(guī)定的內容為準。 射線檢測人員未經矯正或經矯正的近（距）視力和遠（距）視力應不低于 （小數記錄值為 ） , 測試方法應符合 GB 11533的規(guī)定。 T1為最高類別， T4為最低類別。 A級和 AB級射線檢測技術應采用 T3類或更高類別的膠片， B級射線檢測技術應采用 T2類或更高類別的膠片。膠片系統(tǒng)包括了膠片、增感屏和沖洗條件。 （ 2）對可焊性差的材料或 Rm≥540MPa高強鋼， γ射線照相時應選擇 T2類或更高類別的膠片。 黑度計（光學密度計） 黑度計可測的最大黑度應不小于 ，測量值的誤差應不超過177。 理解：在一定情況下底片的黑度允許大于 4 （ ） 應用：黑度計屬于自校驗儀器，不是強制校驗設備，而標準黑度片是要強制檢驗的。增感屏的選用應符合表 1的規(guī)定 理解：（ 1） X射線照相，能量在 500KV以下增感屏的材料應是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術級別只與射線能量有關（ 2）如采用 Se75或 Ir192，增感屏的厚度與技術級別有關。（僅限于 γ射線 ） 像質計 底片影像質量采用線型像質計測定。（ 2）原 JB4730標準選用的是 R10等比系列像質計最細線的編后為 16號，線徑為 ,這一線徑已不能滿足 JB/T4730厚度的下線（ 2mm） AB級和 B級的要求，因此 JB/T4730標準引出 HB 7684－ 2023增加了小于 ，即 17號， 、 18號， ,19號， 成了 4組像質計： 1－ 6－ 1 10－ 1 13－ 19。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。（ 2）除非另有規(guī)定系指設計圖