spc統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)教案-全文預(yù)覽
【正文】 平均值 μ：正態(tài)分布的均值，正態(tài)分布曲線的中心 標(biāo)準(zhǔn)差 σ：正態(tài)分布的標(biāo)準(zhǔn)差，越小則分布越集中 中心極限定理： 多個獨立同分布隨機變量的平均值，服從或近似服從正態(tài)分布。 機遇原因 (Chance causes)： 又稱為 偶然原因、 不可避免原因、 非人為原因、共同原因、一般原因等 在生產(chǎn)中變異永遠(yuǎn)存在，例如：同種原料內(nèi)的變化、機械的振動等，當(dāng)這些變化量很小時，制程仍可被接受。 SPC特點 8 數(shù)據(jù)的整理和分析， 因數(shù)據(jù)類型的不同有不同的整理與分析方法，單位產(chǎn)品的品質(zhì)特性及其衡量方式可歸納為： (Attribute Data) 計數(shù)值又可分為計件值和計點值 計件值：如一臺電視、一個茶杯、一次航空服務(wù)等，指不合格品數(shù) 計點值：如 PCB上的一個不良焊點等，指產(chǎn)品內(nèi)的不合格數(shù) (Variable Data) 數(shù)據(jù)由量具或測量設(shè)備測得，如長度、重量、電壓、電阻等，改類數(shù)據(jù)有連續(xù)的特性。 從內(nèi)容上來說主要有兩個方面： 1. 利用 控制圖 分析過程的穩(wěn)定性，對過程存在的異常因素進行預(yù)警； 2. 計算 過程能力指數(shù) ，分析穩(wěn)定的過程能力滿足要求的程度，對過程質(zhì)量進行評價。 1940年 SPC正式引進制造業(yè)。 休哈特在 1924年 5月 16日提出了世界上第一張“不合格品率 p控制圖”， 1931年他的代表作 《 加工產(chǎn)品質(zhì)量的經(jīng)濟控制 》 標(biāo)志著統(tǒng)計過程控制時代的開始。 6 統(tǒng)計過程控制 (Statistical Process Control簡稱 SPC) 是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進行評估和監(jiān)控，建立并保持過程處于可接受的并且穩(wěn)定的水平，從而保證產(chǎn)品與服務(wù)符合規(guī)定的要求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。 過程性 統(tǒng)計質(zhì)量控制并不是簡單地解決對特定工序用什么樣控制圖的問題，它強調(diào)整個過程，重點就在于 “ P (Process)”，即過程。 總體、樣本數(shù)據(jù)之間的關(guān)系 N:總體 n:樣本 隨機抽樣 檢驗 行動 分析樣本數(shù)據(jù) 判定 數(shù)據(jù) N n 10 非機遇原因 (Assignable causes)： 又稱為異常原因、 可避免之原因、人為原因、特殊原因、局部原因等 制程中可能有異常變因，如參數(shù)調(diào)整不當(dāng)、原料不良、機器故障、車刀磨損等，當(dāng)發(fā)生這些非機遇原因時，制程變異很大，稱制程失控 (out of control) 非機遇原因非過程固有，有時存在、有時不存在，對質(zhì)量影響大，但是卻不難除去。 (4).要除去則非常不經(jīng)濟 (4).不但可以找出原因，且要除去這些 *除非 Cp高但 Ca低， 原因是十分必要且經(jīng)濟的 導(dǎo)致 Cpk不能滿足要求的情況 (非 )機遇 原因 之辨別 12 控制圖的種類 (按用途分類 ) 先有控制限，后數(shù)據(jù)描點 (分析用控制圖的控制線延長 ) 先有數(shù)據(jù)，計算、分析出控制限 (轉(zhuǎn)為控制用控制圖的前提是制程達(dá)到統(tǒng)計穩(wěn)態(tài)和技術(shù)穩(wěn)態(tài) ) 13 控制圖的分類 ? 計量值控制圖 (Control Charts for Variables) – 均值 極差控制圖 (XR Chart) – 均值 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 (XσChart) – 中位數(shù) 極差控制圖 (XR Chart) – 單值 移動極差控制圖 (XRm Chart) ? 計數(shù)值控制圖 (Control Charts for Attribute) – 不合格品率控制圖 (p Chart) (n可以不同 ) – 不合格品數(shù)控制圖 (pn Chart) (要求 n相同 ) – 不合格數(shù)控制圖 (c Chart) (要求 n相同 ) – 單位不合格數(shù)控制圖 (u Chart) (n可以不同 ) ~ 14 正態(tài)分布 （常態(tài)分配） 控制圖的種類雖然很多，但是實際都是以同樣的統(tǒng)計理論為基礎(chǔ)的，那就是“正態(tài)分布”和“中心極限定理”。x∞ 正態(tài)分布函數(shù)特性 : =μ時，圖形的高度最高，即該點發(fā)生的概率最大 x=μ， 即 f(x)=1f(x) X軸之間的面積為 1，就是說，各點發(fā)生的概率總和為 1 ∫ f(x)dy=1 ∞ ∞ 16 －３ σ －２ σ －１ σ ＋１ σ ＋２ σ ＋３ σ % % % 當(dāng)一個分布被證實為是一個正態(tài)分布，并算 出此正態(tài)分布的標(biāo)準(zhǔn)差σ 及平均值 μ 后， 其特性可用下列圖表說明 μ177。 % % μ177。 轉(zhuǎn)向 在平均值處作控制中心線 (Central line 簡稱 CL) 在平均值加三倍標(biāo)準(zhǔn)差處作成控制上限
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