spc統(tǒng)計(jì)概念-全文預(yù)覽
【正文】 ) 離散數(shù)據(jù)不能更進(jìn)一步精確地細(xì)分。 離散數(shù)據(jù) (也稱(chēng)為屬性或類(lèi)別數(shù)據(jù) ) 煙火探測(cè)器 離散數(shù)據(jù) ? 一般來(lái)說(shuō)，連續(xù)數(shù)據(jù)比離散數(shù)據(jù)更可取，因?yàn)槟憧梢岳酶俚臄?shù)據(jù)獲得更多的信息。(它代表該組數(shù)據(jù)的分散程度 ) 總體的方差用 ?? 表示 樣本的方差 用 s2或 ??表示 ? 均方差 是方差的 (正 ) 平方根。畫(huà)上圓圈的那些是由總體中的六個(gè) X組成的樣本。 . i 1 n ? , 平均值的公式 x = (1+3+5+4+7) = 20 = 5 5 樣本的平均值等于 4。一般用 s2或 ?2來(lái)表示。如果三倍的標(biāo)準(zhǔn)差都落在目標(biāo)值和規(guī)范的上下限內(nèi)，我們就稱(chēng)這個(gè)過(guò)程具有“三個(gè)西格瑪能力” Copyright 1995 Six Sigma Academy, Inc. 平均值 LSL 曲線從較陡的狀態(tài)變得越來(lái)越平坦 面積和概率 合格部件 控制限 曲線下的面積是 。 規(guī)范上限 出現(xiàn)缺陷的概率 = .0643 假設(shè) Z = 。 正態(tài)分布 Z 0 39E01 Z 科學(xué)記數(shù)法 科學(xué)記數(shù)法是將數(shù)字寫(xiě)成一個(gè)數(shù)字的 10次冪的一種方法。 ? ??? Z值 – 轉(zhuǎn)化為“標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)” 我們需要利用正態(tài)分布的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差將其轉(zhuǎn)化為“標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)”分布，以便使用標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來(lái)獲得概率。 USL = USL X S = .015 = + .67 X LSL = X LSL S = .015 = 從正態(tài)表可以看出， .0004 或者 (.04%) 不符合規(guī)范 數(shù)據(jù)的實(shí)際分布 現(xiàn)狀分析報(bào)告中的 Z值就是 ZBench 。 % .04% ZLSL = ZUSL = % ZBENCH = .67 Z 0 39E01 從正態(tài)表獲得面積 (合格品和不合格品的百分比 ) 例 1 : Z = 右邊的面積 = _________ 左邊的面積 = _________ 例 2 : Z = 右邊的面積 = _________ 左邊的面積 = _________ 例 3 : ? = ? = .0
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