【正文】 距管制圖）： 以不分組的方式描點作管制圖，要求每次或每組的樣本數(shù)為 1。 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES統(tǒng)計過程診斷（ SPD）Statistical Process DiagnosisSPD診斷案例 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES （二） Xbar σ 平均數(shù)、標準差管制圖： 當(dāng)每組樣本數(shù)較大時 (n10)時，全距 R容易受個別值影響較大，而標準差相對較小，所以 σ 成為過程變異性更有效的指標，此時一般用 Xbar S(σ) 代替 Xbar R.。所以平均數(shù)管制圖是波動越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。 此種狀況反應(yīng)品質(zhì)朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相關(guān)重要參數(shù)記錄下來，以利于做標準化。此種狀態(tài)分兩種：一是越變越大；二是越變越少。 進行日常管理。 計算 R圖控制線并作圖。 案例 1圖 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVESXR圖制作步驟及注意事項總結(jié)： 確定控制對象。上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES：1）數(shù)據(jù)收集： 確定子組大小、頻率、小組數(shù)的大小 ： 選擇子組應(yīng)使得一個子組內(nèi)各樣本之間的出現(xiàn)變差的 機會小。分為：1）解析管制圖： 根據(jù)實際量測出來的數(shù)據(jù)，經(jīng)過計算出管制圖上下限之后畫出。2）制程角度：不合格率最高、成本最高、安規(guī)問題 。越大越集中，越小越分散。 ： 如果某一個量的變化受到許多隨機因素的影響，這種影響的總后果是各個因素的疊加，而且這些因素中沒有任何一個起主導(dǎo)作用，那么這個量就是一個服從正態(tài)分布的隨機變量。離散型隨機變量是以計產(chǎn)品的件數(shù)或點數(shù)的表示方法。 DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 普通原因變差的曲線圖：預(yù)測范圍時間目標值線特殊原因變差的曲線圖：預(yù)測范圍時間目標值線DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ◆ 過程控制的概念 : 計信號，從而對這些特殊原因采取適 當(dāng)?shù)拇胧?(或是消除或是保留 )； 普通原因；提高過程能力，使產(chǎn)品符 合規(guī)范。SPC應(yīng)用技術(shù)主講：王鐵力上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 課程大綱第一部分： SPC技術(shù)概述第二部分： SPC相關(guān)統(tǒng)計學(xué)原理與概念第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析第四部分：制程能力分析第五部分： SPC應(yīng)用實務(wù)第六部分：測量系統(tǒng)分析 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 第一部分： SPC技術(shù)概述：◆ 操作員的品質(zhì)管制 ◆ 領(lǐng)班的品質(zhì)管制 ◆ 檢驗員的品質(zhì)管制 ◆ 統(tǒng)計品質(zhì)管制 ◆ 全面品管 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 可能出問題的地方一定會出問題 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不可能出問題的地方也可能出問題 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 品質(zhì)是 “ 習(xí)慣 ” 出來的 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為一個小小的缺點沒關(guān)系，反正不會影響使用 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為最便宜的原材料就會給企業(yè)帶來最低的成本 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為百分百全檢，品質(zhì)就一定很好了 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC的定義及歷程 SPC： Statistical Process Control 統(tǒng)計制程控制 /統(tǒng)計過程管制 利用統(tǒng)計學(xué)的原理對制造業(yè)制程中的品質(zhì)進行管制，以達到第一次就把品質(zhì)做好。特殊原因： （機遇性原因 Special Cause) 制程中變異因素不在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性沒有固定 的分布。 連續(xù)型隨機變量 ：以特性分類、計算具有相同特性的 個數(shù)，是為間斷性數(shù)據(jù)。 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 %%%% %%% %2σ 1σ X3σ 1σ 3σ2σ SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 c. 中央極限定理 ： 不論母群體是否正態(tài)分布，但在其中抽取 n個樣品的平均數(shù)而組成的群體，則此群體非常接近正態(tài)分布。 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 19).精密度 : Cp 表示制程特性的一致性程度。 SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) DIVES上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ：1）品質(zhì)特性：影響產(chǎn)品規(guī)格的因素（生產(chǎn)條件）、產(chǎn)品屬性分類、產(chǎn)品規(guī)格?？梢允刮覀兒芎玫亓私庵瞥? 品質(zhì)的進展狀態(tài)（發(fā)展趨勢）。以之前較好或標準的管制界限來衡量近期的品質(zhì)狀況。 ：包含 100個或更多單值讀數(shù)的 25個或更多子組的數(shù)據(jù)上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 2）將數(shù)據(jù)列表，并計算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距Xi= Ri=每組中最大 每組中最小值 3）計算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線：XCL=RCL=每組量測數(shù)值總和每組樣本數(shù)X1+X2+…+XKR1+R2+…+RtK SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES管制上下限有兩種算法 :第一種 :計算法 :(嚴格按照管制圖的原理來做 ) a 計算出標準差 : 、下限 Xб= XUCL=XCL+3Xб XLCL=XCL3XбRб= RUCL=RCL+3Rб RLCL=RCL3Rб第二種 :查表法 : XUCL=XCL+A2RXLCL=XCLA2RRUCL= D4RRLCL= D3R 案例 1X1+X2+…+XiKR1+R2+…+RiK SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng)應(yīng) 用用 技技 術(shù)術(shù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES4）制作圖形：圖形分四個部分： 一個品質(zhì)記錄說明區(qū)；一個記錄品質(zhì)指標區(qū)； 一個平均數(shù)管制圖區(qū)；一個全距管制圖區(qū)。 計算 X， R。 計算過程能力指數(shù)