spc基礎(chǔ)知識培訓(xùn)xxxx-全文預(yù)覽
【正文】 SPC 在五大工具的位置 統(tǒng)計過程控制 英文： Statistical Process Control 利用統(tǒng)計的方法來監(jiān)控過程的狀態(tài)，確定生產(chǎn)過程在管制的狀態(tài)下，以降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異。 管制圖的簡要說明 管制圖的構(gòu)造 x(或x、R、S等) 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 樣本號（或時間） 控制上線 UCL 控制中線 CL 控制下線 LCL 1 以隨時間推移而變動著的樣品號為橫坐標(biāo)，以質(zhì)量特性 值或其統(tǒng)計量為縱坐標(biāo)的平面坐 2 三條具有統(tǒng)計意義的控制線：中心線 CL、上控制線 UCL 和下控制線 LCL 3 一條質(zhì)量特性值或其統(tǒng)計量的波動曲線。 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 （導(dǎo)致系統(tǒng)誤差） 變差的特殊原因 特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成（整個） 過程的分布改變。 A 2 *RXR R D 4*R , D 3*R平均值標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 X X 177。 3* p*( 1 p) / n不良數(shù)管制圖( np ) np n p 177。 (Capability of Accuracy) ? Ca 在衡量 “ 實(shí)際平均值 “ 與 “ 規(guī)格中心值 ” 之一致性 。 ? Cpk≦ Cp。 CPK的等級和處理原則 等級 Cpk值 處理原則 A+ ≧ 無缺點(diǎn)考慮降低成本 A ≦ Cpk ＜ 狀態(tài)良好維持現(xiàn)狀 B ≦ Cpk ＜ 改進(jìn)為 A 級 C ≦ Cpk ＜ 制程不良較多，必須提升其能力 D Cpk ＜ 制程能力太差，應(yīng)考慮重新整改設(shè)計制程 總結(jié) 代 等號 雙邊規(guī)格 單邊規(guī)格 級準(zhǔn)確度 : A 比較制程實(shí)績平均值與規(guī) B格中心值一致的程度﹔ CD精密度﹕ A+ 比較規(guī)格公差寬度和制程 A變異寬度﹔ BCD制程能力指數(shù)﹕ A+ 綜合衡量 Ca 和 C p。 用一個數(shù)值來表達(dá)制程的水準(zhǔn) 。 ? 對于雙邊規(guī)格， 2 / T C X Ca = Ca等級與處理原則 等級ABCD C a 值| C a | 12 .5 %12 .5 % | C a | 25%25 % | C a | 50%處理原則作業(yè)員遵守作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作並達(dá)到規(guī)格之要求 , 需繼續(xù)保持 .有必要盡可能將其改進(jìn)為 A 級作業(yè)員可能看錯規(guī)格不按作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn) .應(yīng)采取緊急措施 , 全面檢討所有可能影響之因素 , 必要時得停止生產(chǎn) .50 % | C a | 什么是 Cp? ? Cp:制程精密度 (Capability of Precision) ? Cp衡量 的是 “規(guī)格公差寬度 ” 與 “ 製程變異寬度 ” 之比例 。 3* c單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖( u ) u u 177。 m 3 *A 2 *RXR R D 4 *R , D 3 *R單點(diǎn)移動全距管制圖 X X 177。 （導(dǎo)致隨機(jī)誤差） SPC常用術(shù)語解釋 SPC常用術(shù)語解釋 SPC常用術(shù)語解釋 常用控制圖的種類 ■ 按數(shù)據(jù)性質(zhì)分類 : (1)、計量值控制圖 :指控制圖的數(shù)據(jù)均屬于由量具實(shí)際測量而得；如長度、 重量、濃度等特性均為連續(xù)性的，常用的計量值控制圖有 : (a) 平均數(shù)與極差控制圖 (
范文總結(jié)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1