微電子器件測試與封裝-第四章-全文預覽
【正文】 ? 二極管 —— Diode ? IGBT 2 ? ICEO,ICBO,IEBO ? BVCEO,BVCBO,BVEBO ? VCESAT、 VBESAT ? hFE ? VFBE 、 VFBC 、 VFEC ? 開關(guān)時間： TS、 TF ? 熱阻 雙極晶體管的參數(shù) 內(nèi)容 |半導體器件測試 Page 4 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD ? :柵源漏電 ? ： 漏源漏電 ? ： 漏源反向擊穿電壓 ? ： 開啟電壓 ? ： 導通電阻 ? ： 源漏正向電壓 ? ： 跨導 ? : 夾斷電壓 G D S MOSFET的參數(shù) 內(nèi)容 |半導體器件的測試 4 IGBT的參數(shù) 內(nèi)容 |半導體器件測試 ? ICEO,ICBO,IGE ? BVCEO,BVCBO,BVEBO ? VCESAT、 VBESAT ? VTH ? VFBE 、 VFBC 、 VFEC ? GMP： GFS ? 熱阻 ? VF ? VR ? IR 二極管的參數(shù) 內(nèi)容 |半導體器件測試 Page 7 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD ? 半導體器件測試的目的： ? 檢驗產(chǎn)品能否符合技術(shù)指標的要求 ? 剔除不良品 ? 根據(jù)參數(shù)進行分選 ? 可靠性篩選 ? 測試內(nèi)容： ? 靜態(tài)電參數(shù) ? 動態(tài)電參數(shù) ? 熱阻 ? 可靠性測試 ? 按階段分 ? 芯片測試（中測） ? 成品測試（成測） 器件的測試 內(nèi)容 |半導體器件測試 根據(jù)不同環(huán)境，可分為 ： 常溫測試 高溫測試 低溫測試 7 Page 8 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD 器件的符號 內(nèi)容 |半導體器件測試 G D S 8 自動分選機 器件的測試 內(nèi)容 |半導體器件測試 測試系統(tǒng) 常規(guī)測試系統(tǒng) （ JUNO DTS1000） TS測試系統(tǒng) 氣槍 主顯示器 （顯示參數(shù)、調(diào)用程序） 報警燈 測試站（測頭） 計數(shù)顯示器 震盤與導軌 自動分選機 靜態(tài)參數(shù)測試設備介紹 內(nèi)容 |半導體器件測試 圖示儀： QT2晶體管特性圖示儀 370B圖示儀 576圖示儀 靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)： DTS1000分立器件測試系統(tǒng) TESEC 881測試系統(tǒng) JCT200測試系統(tǒng) 聯(lián)動科技分立器件測試系統(tǒng) 可靠性測試設備介紹 內(nèi)容 |半導體器件測試 熱阻測試儀 TESEC KT9614熱阻測試儀 TESEC KT9414熱阻測試儀 EAS測試系統(tǒng) ITC5500 EAS測試系統(tǒng) TESEC 3702LV測試系統(tǒng) 覺龍 T331A EAS測試系統(tǒng) SOA TESEC SOA測試儀 其他 DY2993晶體管篩選儀 動態(tài)參數(shù)測試設備介紹 內(nèi)容 |半導體器件測試 雙極晶體管開關(guān)參數(shù)測試儀： 伏達 UI9600 UI9602晶體管測試儀 KF2晶體管測試儀 覺龍（紹興宏邦）晶體管開關(guān)參數(shù)測試系統(tǒng) 肯藝晶體管開關(guān)參數(shù)測試系統(tǒng) DTS1000分立器件測試系統(tǒng) MOSFET動態(tài)參數(shù)測試 ITC5900測試系統(tǒng) 覺龍 T342柵極等效電阻測試系統(tǒng) 質(zhì)量及其單位 Page 14 內(nèi)容 |基礎(chǔ)知識 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD 14 Page 15 SH
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1