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化工檢測方法培訓課件-全文預覽

2025-01-14 23:35 上一頁面

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【正文】 組成結(jié)構(gòu)一定且內(nèi)標物加入量wS一定時,比例常數(shù) C為定值 ? C的數(shù)值可通過制作工作曲線求得 qCwwCII 39。 ? 純的晶態(tài)物質(zhì)在正常條件下晶胞常數(shù)(晶胞參數(shù))是一定的,即平行六面體的邊長、夾角均是一定的 ?測定樣品的一個或幾個衍射峰的 d值 ?根據(jù)晶胞參數(shù)與晶面間距 d之間的關系式,可以計算晶胞參數(shù)值 實驗依據(jù) 測定樣品的一個衍射峰的 d( hkl)值,然后代入公式即可求得晶胞參數(shù)值 測定樣品的兩個衍射峰的 d( hkl) 值 測定樣品的三個衍射峰的 d( hkl) 值 晶胞參數(shù)( a、 b、 c、 α、 β、 γ ) 誤 差 ? 當 θ= 90?時, ctgθ= 0,故 ?d/d= 0,即晶面間距的誤差 ?d= 0,因此晶胞參數(shù)的誤差亦為零 ? 實際測定中不可能 θ= 90?,但當 θ趨近 90?, ctgθ趨近 0, ?d趨近 0,即晶胞參數(shù)誤差趨近 0,可得精確的晶胞參數(shù)值 ? 實際測定中,應選擇合適的輻射,使衍射圖中 θ60?區(qū)域盡可能出現(xiàn)較多強度較高的衍射線,尤其最后一條衍射線的 θ值應盡可能接近 90?,這樣所求得的晶胞參數(shù)值才更精確 ? 晶面間距 d的誤差 ? 原則上,利用衍射圖上每條衍射線都可計算出晶胞參數(shù)值 ? 誤差的存在,哪一衍射峰確定的晶胞參數(shù)值最接近真實值? ? 對布拉格方程微分,可推出晶面間距 d的誤差表達式 ?d/d=ctgθ 晶體 晶系 晶面 2θ (?) 晶面間距 d (nm) 半峰寬 B (?) A 立方晶系 010 B 六方晶系 010 100 003 ? 查中國期刊網(wǎng),舉一個實例說明XRD分析方法在求催化劑單層分散閾值方面的應用。 晶粒 200nm 每一個晶粒中晶面數(shù)目減少 衍射線條彌散而產(chǎn)生明顯寬化 晶粒越小衍射線條的寬化就越嚴重,使衍射線強度在 2θ??θ范圍內(nèi)有一個較大分布 測量晶粒大小的依據(jù) 晶粒大小與衍射線寬化程度的關系 謝樂方程 謝樂方程 ? λ—— X射線波長, nm ? Θ(hkl)—— 布拉格角(半衍射角) ? B(hkl)—— 衍射線的本征加寬度,又稱晶粒加寬。S ,jq ,j ??? 上述方法,標準物混在樣品之中,故稱內(nèi)標法 內(nèi)標法工作曲線的制作 ? 配制一系列 q相含量 wq不同的樣品,其中內(nèi)標物含量 wS相同 ? 配加質(zhì)量吸收系數(shù)合適的稀釋劑,以調(diào)節(jié)每個樣品中wq/wS的數(shù)值 ? 樣品配好之后,充分研磨混合均勻 ? 在確定的實驗條件下,收取各個樣品的 Iq, j和 IS, j數(shù)值,并獲得一系列 Iq, j / IS, j與 wq的對應值 ? 以 Iq, j / IS, j為縱坐標, wq為橫坐標,即可獲得一條過原點的直線 ? 從工作曲線可求出比例常數(shù) C,即曲線斜率 ? 在測量未知樣品的 wq時 – 內(nèi)標物的加入量 wS與制作標準曲線時相同。?qCwwCII 39。 數(shù)字索引 Fink法 ? 在物相分析的工作中,應注意圖譜中 d和 I/I1的整體相合,切忌依照一兩個峰作結(jié)論 ? 考慮 d值與衍射強度的偏差時,應注意衍射儀測角儀的精度和 X射線發(fā)生器的功率 ? 樣品晶粒力求細小均勻,對片狀、針狀晶體應精心制樣,爭取減少擇優(yōu)取向 – 晶粒大小:幾個或十幾 μm范圍內(nèi)最合適。 Hanawalt組的劃分 ? Hanawalt索引法的 d值是按強度次序排列的,而多晶 X射線衍射中的擇優(yōu)取向難于避免,相對強度的實際次序有可能因此而被破壞。若 C、 H皆相同,則按分子式中其它元素的英文名稱順序排列 ? 當被檢測物相的英文名稱已知,欲確認在某體系中它是否存在時,應用字母索引是十分便利的。2SiO2 字母索引 ? 字母索引分無機物和有機物兩部分。 ? 當一未知物相樣品的 dI/I1的數(shù)值與某一已知物相M的數(shù)據(jù)相合時,即可認為未知物即是 M相。L X射線管 ? X射線的產(chǎn)生 局部抽真空的 X射線管中,用電子束轟擊適當元素而產(chǎn)生 一種 X射線管的示意圖 發(fā)射出的電子在燈絲與陽極之間的高壓電位差作用下朝著靶加速運動。| F( hkl) |2 K—— 與樣品和實驗條件有關的常數(shù) P—— 極化因子 L—— Lorentz因子 D—— 溫度因子 J—— 倍數(shù)因子 F( hkl) —— 結(jié)構(gòu)因子(結(jié)構(gòu)因子的數(shù)值是由晶胞中原子的種類、數(shù)目和分數(shù)坐標決定的) X射線衍射的基本原理 ?X射線的強度用計數(shù)率表示,單位為每秒脈沖數(shù) (CPS) X射線衍射的基本原理 4. X射線衍射法的意義 研究晶體結(jié)構(gòu) 晶胞 晶胞的大小和形式 衍射方向 晶胞的內(nèi)容 衍射強度 晶體幾何學基本知識 X射線的產(chǎn)生 X射線衍射的基本原理 X衍射粉末衍射技術 物相分析 定量相分析 晶胞參數(shù)測定 線寬法測平均晶粒大小 原位高溫 XRD 第二章 多晶 X射線衍射法 X衍射粉末衍射技術 ? ? ? ? X射線衍射譜圖 ? 照相法 20世紀 50年代前 ? 衍射儀法 20世紀 50年代后 2. 衍射儀 ? 主要由三部分組成: – X射線發(fā)生單元 – 衍射角測定單元 – X射線強度記錄單元 3. 儀器操作條件的選擇(粉末 X射線衍射) ? 靶的選擇 – Cu、 Fe、 Cr、 Co或 Mo ? X射線管電流、電壓的選擇 I∝ i( V— V0) n ?I —— X射線強度 ?i—— 電流 ?V—— 外加電壓 ?V0—— X射線管靶的激發(fā)電位 ?n—— 常數(shù) ?Cu靶,外加電壓一般為 30~40kV,電流 10~40mA ? 狹縫的選擇 – 發(fā)射狹縫,通常選 1? – 受光狹縫,通常選 – 散射狹縫,通常選 1? – so11ar狹縫,一般固定不變 ? 掃描速度 – 掃描速度越快,分辨率及 X射線強度越低 – 通常為 2?~10?/ min ? 測角范圍 – Cu靶測定時,大多數(shù)物質(zhì)可選 2θ在 4?~80?范圍內(nèi)掃描 ? 角度修正 – 測試已知結(jié)構(gòu)的完美晶體標樣。P ? 需要連續(xù)不斷地抽真空 – 固定式靶 ? 永久密封的,不需要真空泵。 ?λ( Cu , Kα2) = 197。 ( 321)、( 246)、( 121)、( 369)晶面在 三個坐標軸上的截距 ( 100) ,( 110) ,( 111),( 200) ? 4個原子 – 所有頂點原子 ? ( 0,0,0) – 后 (前 ) 面心原子 ? ( 0,1/2,1/2) – 左 (右 )面心原子 ? (1/2,0,1/2) – 下 (上 ) 面心原子 ? ( 1/2,1/2,0) 2. 給出在三個坐標軸上之截距分別為 (3a, 2b,4c) , (3a, b, 2c)的兩個晶面的晶面指標 解: (1) 三個截距的倒數(shù)比為: (2)將三個倒數(shù)分別乘以分母的最小公倍數(shù),化為三個互質(zhì)整數(shù) (3)三個互質(zhì)整數(shù)連寫并用括弧括起來即為晶面指數(shù) (hkl) 41:21:313:6:41241:1221:1231 ????)463( 立方晶系 : a=b=c,α=β=γ=90℃ 方法一:利用 d(hkl)與晶胞參數(shù)的函數(shù)關系示 d(hkl) d( 100) = a 方法二:從圖形求取 (100)、 (110)、 (111)、 (200)晶面 d( 100) = ? (100)晶面 d( 100) = a 晶體 點陣、格子、結(jié)構(gòu)基元 空間點陣與晶體 晶胞中的微粒、晶棱和晶面指標 晶系 晶體幾何學基本知識 ( 1)晶胞二個要索 ( 2)微粒的分數(shù)坐標 ( 3)晶面及晶面指數(shù) ( 4)干涉指數(shù)及晶面間距 、型式 ?大?。壕О麉?shù) =? ?型式:素晶胞 ? 復晶胞 ? ?晶胞中原子的種類、數(shù)目和位置 分數(shù)坐標 : (x, y, z) x≤ y≤ z≤1 czbyaxOP ??? ?????? =晶面指數(shù) =密勒( Miller)指數(shù) 表示符號: (hkl) 代表 : 晶面在晶體中的取向 求?。和ㄟ^晶面在三個晶軸上的截距比值 ?d( hkl) 或 dhkl、 或 d( hkl)或 d ?表示屬于( hkl)晶面中兩相鄰晶面的距離 晶體 點陣、格子、結(jié)構(gòu)基元 空間點陣與晶體 晶胞中的微粒、晶棱和晶面指標 晶系 晶體幾何學基本知識 ( 110)晶面 a=b=c,α=β=γ=90℃ ( 111)晶面 a=b=c,α=β=γ=90℃ d( 200) = ? (200)晶面 a/2 a=b=c,α=β=γ=90℃ 晶體幾何學基本知識 X射線的產(chǎn)生 X射線衍射的基本原理 X衍射粉末衍射技術 物相分析 定量相分析 晶胞參數(shù)測定 線寬法測平均晶粒大小 原位高溫 XRD 第二章 多晶 X射線衍射法 X射線的產(chǎn)生 X射線 X射線的分類 特征 X射線 X射線管 X射線的產(chǎn)生 X射線 ? 本質(zhì)是一種電磁波 – 短波長,波長 ~500197。 ? 求:確定二種 NaCl晶胞的大小和型式 nma 22 2 ?????60? 解: II、虛線格子 ( 2)晶胞的型式 – 實線格子為素格子 – 對應的晶胞為素晶胞 ? 例:圖為 NaCl的兩種空間格子(實線和虛線), 實線格子為立方面心格子,其對應的立方面心點陣參數(shù) a= 。 ? (i) 平行六面體對稱性和點陣對稱性一致 ? (ii)平行六面體各棱之間直角數(shù)目盡量多 ? (iii)遵守以上兩條后,平行六面體體積盡量小 點陣、格子、結(jié)構(gòu)基元 ( 5) 布拉維 (Brarisa)法則 ? 、 、 、 α、 β 、 γ ? 布拉維法則限制下所劃分的平行六面體的邊長 、 、 及夾角 α、 β 和 γ b?a?c?b?a?c?點陣、格子、結(jié)構(gòu)基元 ( 6)點陣參數(shù) 晶體 點陣、格子、結(jié)構(gòu)基元 空間點陣與晶體 晶胞中的微粒、晶棱和晶面指標 晶系 晶體幾何學基本知識 ( 1)晶胞 ( 2)研究晶體結(jié)構(gòu)的實質(zhì) ( 3)晶面 ( 4)晶棱 ( 5)晶體與點陣的對應關系 晶胞參數(shù)表示 ? 空間格子對應實際晶體的部位
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