【正文】 ....................................................................... 20分位數(shù)方法d.............................................................................................................. 10, 15, 23方法范圍............................................................................................................................. 22取樣大小................................................................................................................................. 19歪斜的分布..................................................................................................................... 9偏斜................................................................................................................................... 19穩(wěn)定性 ........................................................................................................................................ 9穩(wěn)定性測試................................................................................................................................ 16二維特性................................................................................................ . 30無錫威孚高科技集團(tuán)股份有限公司控制/質(zhì)量方法管理30 02 20D70442 斯圖加特中國電話：0510827083452602傳真：051082702740資料來源網(wǎng)址：41 。higkeitskenngr246。 三個(gè)平均值的最大值三個(gè)平均值的最小值)n 一個(gè)子組內(nèi)的單值的個(gè)數(shù)；子組的樣本容量PA 信息水平Pp, Ppk 過程性能指數(shù)%GRR 一個(gè)測量過程的全部變異涉及特性的公差p L 下規(guī)格下控制限分?jǐn)?shù)的非一致性 p U 上規(guī)格上控制限分?jǐn)?shù)的非一致性 %分位數(shù)的Q價(jià)值評估 %分位數(shù)的Q價(jià)值評估R 子組的極差（最大值減去最小值）R j 樣本jth的范圍 一系列容量相等子組的平均極差s 完全根據(jù)經(jīng)驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)差平均數(shù)變異 標(biāo)準(zhǔn)差平方的平均數(shù) s max 一系列標(biāo)準(zhǔn)偏離中最大單個(gè)價(jià)值s n n個(gè)數(shù)據(jù)中一個(gè)隨意的樣本標(biāo)準(zhǔn)偏離開s total 所有單個(gè)數(shù)據(jù)中標(biāo)準(zhǔn)偏離 x s 平均數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏離s 從n個(gè)相等的樣本大小中隨意取出平均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)偏離 T 一個(gè)特性的公差u? p 1p標(biāo)準(zhǔn)正常分布的分位數(shù) UCL 上控制限USL 工程規(guī)范的上限x i 在一個(gè)隨意的樣本中第i個(gè)單值數(shù)據(jù)x i j i在jth隨意取樣中i –th單個(gè)價(jià)值x max 在一系列數(shù)據(jù)最大的單值x min 在一系列數(shù)據(jù)中最小的單值x 一個(gè)子組內(nèi)數(shù)值的平均值 jth 的平均數(shù)算法 方法平均數(shù) 中值 過程特性標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)值單個(gè)數(shù)據(jù)管制圖注：— 表格單位 mm— 偏離數(shù)據(jù)— 評估169。穩(wěn)定性測試（如果“不是”，過程不牢固）平均數(shù)價(jià)值的穩(wěn)定性界限:標(biāo)準(zhǔn)偏差的穩(wěn)定性界限是平均值的最大值或最小值?是在上公差和下公差之間？不是。威孚 質(zhì)量保證過程能力分析評估表正態(tài)分布定單號： 047011表格編號：1 von 1機(jī)器編號：. 名稱： 廠商： 年： 生產(chǎn)車間：20113 BZ20 Steinel 1998 W1391零件: 機(jī)架工具: 磨刀執(zhí)行評估: RI.原材料: AI測量儀器: Trimos日期：13/05/03名字的價(jià)值： mm標(biāo)準(zhǔn): 機(jī)器生產(chǎn)周期: 3 秒公差: mm操作者: 磨末端表面隨意取樣持續(xù)時(shí)間: 3小時(shí)上限度t: mm隨意取樣開始: 6:45 上午下限度: mm隨意取樣結(jié)束: 9:45 上午過程和周圍環(huán)境參數(shù) 供應(yīng)商R.amp。 我們保留所有處理的權(quán)利，例如拷貝和通過其他途徑傳遞給第三者。記錄: 在背面輸入標(biāo)準(zhǔn)價(jià)值評估: (在背面進(jìn)行評估)小的數(shù)據(jù)Cmk 是有效的。過程能力研究評估表格。草圖程序可以被應(yīng)用于一些雙變的特性(例如失去平衡),也可以針對特性在變量特性p組成部分廣泛使用P變量正常分布。有關(guān)的過程能力直屬 Cp 可以被認(rèn)為1/4橢圓形（%范圍），接觸到公差圓周，Cpk=。.使用適當(dāng)?shù)能浖?一個(gè)兩維的正常分布被用來調(diào)節(jié)這些點(diǎn),一個(gè)橢圓的隨機(jī)取樣變異范圍被計(jì)算。位置公差可以依靠一個(gè)圓的半徑T被給定,半徑T是中心同一的對象位置。在[4]中的意思不是穩(wěn)定的。在上控制限和下控制限之間理論的非一致性分?jǐn)?shù)是零。機(jī)器不是穩(wěn)定的。 (): 11. 例子例子1機(jī)器能力研究, 限制兩邊的特性分位數(shù)方法M4評估特征: 圓盤高度mmn = 50 數(shù)據(jù)編號正常分布 備：Relative frequency—相對頻率Disk height (mm) ND—磁盤高度(mm) ND例子 2機(jī)器能力研究，特性被限制在頂部的一邊。 正常分布的延伸當(dāng)一個(gè)正常過程行為增加平均數(shù)位置變化時(shí),正常分布的延伸發(fā)生了?？梢杂眉s翰遜分布覆蓋一個(gè)寬的范圍分布,例如對數(shù)正態(tài)分布有限制的分布 (無束縛的分布系統(tǒng),見[17])有限制的分布 (有限制的分布系統(tǒng),見 [17])不像鐘形的正態(tài)分布,這些運(yùn)行到達(dá)零點(diǎn)。缺點(diǎn):?選擇一個(gè)近似的分布是有必要的。注：minimum value of—最小的數(shù)值如果特性被限制在一邊(規(guī)格上限至零點(diǎn),或僅僅規(guī)格下限)相關(guān)的準(zhǔn)則依賴于被給定的限制價(jià)值申請。記錄: 這個(gè)方法覆蓋的60%規(guī)則和QS資料2/1996相一致。能力指數(shù)為注：minimum value of—最小的數(shù)值定性的規(guī)格參數(shù)表方法申請信息,也可以見章節(jié)7。在確實(shí)的申請中,這是一個(gè)決定是否測量能力指數(shù)Cp 和 C pk的統(tǒng)計(jì)分布 (過程模型) ,或者過程性能指數(shù)Cp 和 C pk或精確的被測量。)在這樣一個(gè)實(shí)例情況下,為了計(jì)算能力指數(shù),下面的選擇在圖書資料中被暗示: 比率被認(rèn)為是一個(gè)正常分布的理論不合格分?jǐn)?shù)。然而,這里有些過程特性是不能被測量的。一個(gè)大的%GRR數(shù)據(jù)和一個(gè)小的所有Cg數(shù)據(jù)損害了機(jī)器和過程能力。)一個(gè)適當(dāng)?shù)姆植寄Ｐ鸵揽科焙头宥缺贿x擇和判斷。針對估計(jì)的分布參數(shù)樣本間隔大小是可信有效果的,例如平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差。 3s, 177。這種聯(lián)系基于正態(tài)分布模型。樣本數(shù)據(jù)被記載后，關(guān)于短期能力一無所知，數(shù)據(jù)的分布，分配參數(shù)或他們的時(shí)間行為。這個(gè)叫間接（誘導(dǎo)）統(tǒng)計(jì)推理。 (趨勢，變異) 是一個(gè)平均數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏離。延長正態(tài)分布: 見章節(jié) 和緊接著的流程圖。 統(tǒng)計(jì)分布研究一個(gè)定性評價(jià)可以被使用，一個(gè)分布賦予使用生動(dòng)的表現(xiàn)，例如一個(gè)個(gè)別價(jià)值情節(jié)，一個(gè)直方圖，可能繪圖等等。為穩(wěn)定性試驗(yàn)，“控制范圍”基于正態(tài)分布為計(jì)算手段，例如五組的標(biāo)準(zhǔn)偏差。見章節(jié)9為這一個(gè)優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)的討論并選擇方法。使用一個(gè)叫“約翰遜變化”的數(shù)學(xué)程序，這里從其他的分布范圍中選擇大多數(shù)適合的分布是可能的。哪個(gè)分配模型可以用于描述目的?在標(biāo)準(zhǔn)[8]，一些分配模型——適合描述的真正生產(chǎn)過程被體現(xiàn)在質(zhì)量上。 觀察到的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)被理解為一個(gè)無計(jì)劃的統(tǒng)計(jì)變化的認(rèn)識。一個(gè)趨勢的正態(tài)分布可以認(rèn)為是一個(gè)模型，F(xiàn)測試的結(jié)果現(xiàn)在允許十分粗的特征被制訂來確定一個(gè)過程模型是穩(wěn)定還是不穩(wěn)定。如果統(tǒng)計(jì)軟件被使用，這信息可以被獲得使用方差分析(單因子方差分析)。反過來，如果數(shù)據(jù)減少準(zhǔn)確性的結(jié)論會(huì)降低。? 根據(jù)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)評估:評價(jià)世俗的的穩(wěn)定性，統(tǒng)計(jì)分布。至少25個(gè)子群被評價(jià)。在章節(jié)7這也適用于定性的問題產(chǎn)品特點(diǎn)處理。自然，較小的樣本尺寸，較少的精確結(jié)論。每2個(gè)零件測量一次如零件號2，4，650測量結(jié)果記錄并計(jì)算Cmk工具糾正措施并再次進(jìn)行能力研究 Cmk≥ 是 否 測量零件號1，3，5，49，并針對現(xiàn)有的結(jié)果記錄，增加標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)。通過減少樣本尺寸。2. Cmk ,剩余的25個(gè)零件必須被測量，這些結(jié)果與起初的25 個(gè)測量結(jié)果和能力指數(shù)再次被計(jì)算。在實(shí)踐中，能力研究花費(fèi)的測量通常需要高的成本。 注： Then—然后 With —和 minimum value of —最小的數(shù)值如果特性被限制在一邊（零點(diǎn)和上控制限，或零點(diǎn)和下控制限。（在上限和零點(diǎn)區(qū)域，或者正好是下限區(qū)域。（）根據(jù)以下情況能力指數(shù)Cm和Cmk被計(jì)算：Cmk = 最小的數(shù)值[]統(tǒng)計(jì)分布的賬目和Cmk, C m 是不同的，但不是和公差范圍有關(guān)系的特定區(qū)域。在一臺設(shè)備能力研究的框架里，一個(gè)統(tǒng)計(jì)測試通常用來粗糙的區(qū)別：? 正態(tài)分布和? 另外的分布如果一個(gè)特性