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《探針方法測電阻率》ppt課件-全文預(yù)覽

2025-05-26 18:45 上一頁面

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【正文】 DC電源變換器組成。( b)簿片電阻率測量 簿片樣品因為其厚度與探針間距比較,不能忽略,測量時要提供樣品的厚度形狀和測量位置的修正系數(shù)。 材料 電 阻率式中: S S S3分 別為 探 針 1與2,2與3,3與4之 間 距,用 cm為單 位 時 的 值 , S1=S2=S3=1mm. 每個探 頭 都有自己的系數(shù)。二 實驗原理體電阻率測量:四探針法測量原理圖 當(dāng)1、2、3、4四根金屬探針排成一直線時,并以一定壓力壓在半導(dǎo)體材料上,在1、4兩處探針間通過電流 I,則2、3探針間產(chǎn)生電位差 V。探 針 系數(shù)(1)(2)( a)塊狀和棒狀樣品體電阻率測量: 由于塊狀和棒狀樣品外形尺寸與探針間距比較,合乎于半無限大的邊界條件,電阻率值可以直接由(1)、(2)式求出。當(dāng) 圓 形硅片的厚度 滿 足 W/S< , 電 阻率 為 : 帶擴(kuò)散層的方塊電阻測量 當(dāng)半導(dǎo)體薄層尺寸滿足于半無限大時: 若取 I = I0, I0為該電流量程滿度值,則 R0值可由數(shù)字表中直接讀出的數(shù)乘上 10后得到。具有高靈敏度、高輸入阻抗的直流放大器中將直流信號放大(
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