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深圳xxxx科技有限公司iqc物料檢驗規(guī)范-全文預覽

2025-04-28 23:16 上一頁面

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【正文】 hanical Drawing of Cable尺寸檢驗MA.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測試檢驗MAa. 排線的接線方式錯不可接受。主要缺點(MA): 。用數(shù)字萬用表量測檢驗時不能短路電池兩端 文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次15 of 35(十) CABLE類檢驗規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗CABLE類物料之依據(jù)。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 表面要光滑,若有明顯劃痕不可接受;b. 電池表面腐蝕、生銹等,不可接受;c. 電池極性標記要清晰,否則不可接受;d. 來料品名錯或混裝不同規(guī)格的電池均不可接受。主要缺點(MA): 。 文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次14 of 35(九) 電池檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗電池類物料之依據(jù)。e. 針腳擰結,彎曲,偏位, 缺損,斷針或缺少;f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹。主要缺點(MA): 。2. 適用范圍適用于本公司所有排針amp。將拉桿扳至卡位處稍用力繼續(xù)下壓,檢查上蓋是否松脫,若過松易脫落不可接受. ~。g. 內部端子變形,不貼壁,氧化。次要缺點(MI): .5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。2. 適用范圍適用于本公司所有類型CPU Scoket之檢驗。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。4. 允收水準(AQL)嚴重缺點(CR): 0。在好的樣板的相應位置插上待測晶體、CPU、內存條等,再接通電源開機,看能否正常開機顯示;在正常開機顯示后,用調試好的數(shù)字頻率計測量晶體,看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內,若不能開機顯示或測量值不在規(guī)格范圍內,則該晶體不合格。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 字體模糊不清,難以辨認不可接受;b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起,不可接受;c. 元件變形,或受損露出本體等不可接受;d. Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。4. 允收水準(AQL)嚴重缺點(CR): 0??ǔ呷粲糜谛碌腗odel,需在PCB上對應的位置進行試插電性檢驗MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。4. 允收水準(AQL)嚴重缺點(CR): 0。檢驗方法見"LCR數(shù)字電橋測試儀操作指引" 和" 數(shù)字萬用表操作指引"。 注:有標記的一端為負極。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。(AQL)嚴重缺點(CR): 0。拆封后首先確認包裝袋內的濕度顯示卡20%RH對應的位置有沒有變成粉紅色,若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應商的要求進行烘烤。b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。3. 抽樣計劃依MILSTD105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。放大鏡 文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次6 of 358. 板彎、板翹與板扭之測量方法. 板彎:將PCB凸面朝上,放置于平板玻璃上,用塞規(guī)測量其凸起的高度。目檢 放大鏡G/F鍍層剝離MAa. 以3M scotch 寬度膠帶密貼于G/F鍍層上,密貼長度約25mm,經過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢焊錫性焊錫性MAa. 鍍層不可有翹起或脫落現(xiàn)象且焊錫性應良好。目檢印錯MA、零件符號及圖案等不可印錯。塞規(guī) 平板玻璃板面污染MAa. 板面不得有外來雜質,指印,殘留助焊劑,標簽, 膠帶或其他污染物。目檢外觀尺寸MAa. 四層板及金手指的板子,量板子最厚的部分(銅箔及鍍金處)177。目檢空泡amp。目檢BGA區(qū)域線 路沾錫、露銅MAa. BGA區(qū)域線路不得沾錫、露銅。目檢防焊剝離MAa. 以3M scotch 寬度膠帶密貼于防焊面,密貼 長度約25mm,經過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有 脫落或翹起之現(xiàn)象。b. 補漆應力求平整,全面色澤一致,表面不得有雜質或 涂料不均等現(xiàn)象。目檢防焊色差Minor a. 防焊漆表面顏色在視覺上不可有明顯差異。目檢錫墊壓扁MAa. 錫墊之錫面厚度力求均勻,不可有錫厚壓扁之現(xiàn)象或 造成間距不足。目檢孔黑MAa. 孔內不可有錫面氧化變黑之現(xiàn)象。c. C/S面補線路不得超過2處,S/S面補線不得超過1處。放大鏡線路變色MAa. 線路不可因氧化或受藥水、異物污染而造成變色。帶刻度放大鏡斷路與短路CRa. 線路或錫墊之間絕不容許有斷路或短路之現(xiàn)象。帶刻度放大鏡殘銅MAa. 兩線路間不允許有殘銅。5. 允收水準(AQL)嚴重缺點(CR): 0。文件類別:文件編號SIIQCXX01檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次1 of 35IQC物料檢驗規(guī)范批準記錄擬制審核批準受控文件專用章登錄印章受控印章報廢印章發(fā)行記錄□ 董事長□ 生產部(PDA)□ 品質部(QD)□ 運作部(OD)□ 董事總經理□ 生產工程部(PIE)□ 文件控制中心(DCC)□ 人力資源部(HR)□ 廠務經理□ 元件貼裝部(SMT)□ 進料檢驗部(IQC)□ 財務部(FIN)□ 管理者代表□ 產品組裝部(PD)□ 過程檢驗部(IPQC)□ 銷售部(SD)□ 研發(fā)部(RD)□ 物料計劃部(PMC)□ 出貨檢驗部(QA)□ 報關部(CUS)□ 倉管部(WH)□ 技術支持部(FAE)□ 電腦部(MIS)□ 成品維修部(RMA)□ 驗證實驗室(VL)□ 采購部(PUR)文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次2 of 35修改記錄次數(shù)版本升級記錄修改時間修改類別修改頁次修改內容簡述修改人員審核批準1生效時間2生效時間3生效時間4生效時間5生效時間6生效時間7生效時間8生效時間9生效時間10生效時間11生效時間12生效時間FMQMXX01 Ver: A0 文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次3 of 35(一) PCB檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC檢驗PCB物料之依據(jù) 。4. 職責供應商負責PCB品質之管制執(zhí)行及管理,IQC負責供應商之管理及進料檢驗。 Quality Conformance.7. 檢驗標準定義: 檢驗項目缺點名稱缺點定義檢驗標準檢驗方式備注線 路線路凸出MAa. 線路凸出部分不得 大于成品最小間距30%。帶刻度放大鏡線路缺口、凹洞MAa. 線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%。帶刻度放大鏡線路變形MAa. 線路不可彎曲或扭折。b. 線路轉彎處及BGA內部不可補線。放大鏡孔孔塞MAa. 零件孔不允許有孔塞現(xiàn)象。目檢、放大鏡 文件名稱:文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次4 of 35檢驗項目缺點名稱缺點定義檢驗標準檢驗方式備注PAD,RING錫墊氧化MAa. 錫墊不得有氧化現(xiàn)象。MAa. 線路防焊必須完全覆蓋,不可脫落、起泡、漏印,而 造成沾錫或露銅之現(xiàn)象。目檢防焊補漆MAa. 補漆同一面總面積不可大于30mm2,C/S面不可超過3 處;S/S面不可超過2處且每處面積不可大于20mm2 。光學定位點不可有防焊漆。放大鏡BGA區(qū)域 導孔沾錫MAa. BGA區(qū)域導通孔不得沾錫。目檢外觀 內層黑(棕)化MAa. 內層采用黑化處理,黑化不足或黑化不均,不可超過 %(棕化亦同)。目檢及帶刻度放大鏡章記MAa. 焊錫面上應有制造廠之UL號碼、生產日期、Vendor Mark;生產日期YY(年)、WW(周)采用蝕刻方式標示。板翹MAa. 板彎,%。目檢重影或漏印MA,符號不可有重影或漏印。目檢Model No.MAa. MODEL NO不可印錯或漏印。放大鏡G/F變色MA。放大鏡 G/F露銅MA。2. 適用范圍適用于本公司所有IC(包括BGA)之檢驗。次要缺點(MI): .5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。 備注:凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護的特殊要求不能現(xiàn)場打開封裝的,IQC僅進行包裝檢驗,并加蓋免檢印章;該IC在SMT上拉前IQC須進行拆封檢驗。3. 抽樣計劃依MILSTD105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔,正向測量,LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光,而反向測量不發(fā)光;否則該二極 管不合格。備注 抽樣計劃說明:對于CHIP二極管,執(zhí)行抽樣計劃時來料數(shù)量以盤為單位,樣本數(shù)也以盤為單位;從抽檢的每 盤中取3~5pcs元件進行檢測;AQL不變。3. 抽樣計劃依MILSTD105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對
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